专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]探测探测效率的刻度方法-CN202211268905.8在审
  • 郭思明;郭锴悦;郄晓雨;余涛 - 中国计量科学研究院
  • 2022-10-17 - 2023-03-07 - G01T7/00
  • 本发明涉及一种探测探测效率的刻度方法,利用蒙特卡罗模拟,得到探测器对不同能量X射线的探测效率,并计算K荧光辐射装置中辐射体产生的Kα、KβX射线的强度比值Lmc;实验测量辐射体的Kα和Kβ特征X射线的强度,并通过探测效率修正得到强度比值:Sub>mea;判断每组的强度比值Lmc与强度比值Lmea的误差是否小于预设值;若否,则调整探测器的晶体尺寸及死区厚度上述探测探测效率的刻度方法,能快速精确地对探测器的探测效率进行刻度,可避免放射源自身和环境限制,以及效率刻度偏差大的缺点。
  • 探测器探测效率刻度方法
  • [发明专利]转换效率探测设备及方法-CN201711278830.0在审
  • 王静;韦敏习;杨祖华;车兴森;张文海;杨品;杨国洪;尚万里;刘慎业 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
  • 2017-12-06 - 2018-03-27 - G01N23/00
  • 本发明提供一种转换效率探测设备及方法。所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元。同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器。同步辐射光源用于提供X光。在X光的传输光路上依次设置有用于将X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从闪烁体出射的可见光光子数的图像传感器,其中,标准探测器活动设置在同步辐射光源与闪烁体之间,以使标准探测器在位于X光的传输光路上时测量处理单元与标准探测器及图像传感器电性连接,用于根据光强及可见光光子数处理得到闪烁体的转换效率。通过所述设备可获得闪烁体将X光转换为可见光的转换效率,以便在利用闪烁体进行X光探测时,通过可见光的可见光光子数得到X光强度。
  • 转换效率探测设备方法
  • [实用新型]一种单光子探测探测效率的测量系统-CN202320021767.7有效
  • 孙雪俊;高袁满;黄超 - 武汉东隆科技有限公司
  • 2023-01-05 - 2023-05-05 - G01J11/00
  • 本实用新型公开了一种单光子探测探测效率的测量系统,该单光子探测探测效率的测量系统包括:依次连接设置的单波长激光器、可调光纤衰减器、光纤耦合器、待测单光子探测器、时间相关单光子计数器以及智能终端;其中,所述单波长激光器与可调光纤衰减器之间通过光纤连接器连通,所述光纤耦合器分别连通所述可调光纤衰减器以及待测单光子探测器,所述待测单光子探测器与时间相关单光子计数器之间通过同轴线缆连通,所述时间相关单光子计数器与智能终端之间通过本实用新型将激光通过可调光纤衰减器和光纤耦合器将激光衰减至皮瓦量级,提供了一种测量结果准确的测量单光子探测探测效率的新方案,结构紧凑,操作方便。
  • 一种光子探测器探测效率测量系统

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