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- [发明专利]一种清晰度测量装置-CN201610680385.X有效
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潘建根;黄艳;李倩
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远方谱色科技有限公司
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2016-08-17
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2023-10-27
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G01N21/17
- 本发明公开了一种清晰度测量装置，包括第一光源系统，成像系统、光纤束和第一探测器；所述的光纤束由两个及以上有序排列的光纤单元组成，第一光源系统的发光光源或出光口通过成像系统成像在光纤束的输入端，第一探测器接收并测量光纤束的出射光；被测样品位于成像系统与光纤束之间或者成像系统的成像元件之间的光路中。本发明通过光纤单元有序排列的可以实现被测样品规则透射光以及角度散射特性的测量，同时，通过调制的第一光源系统，屏蔽环境光干扰，实现在线清晰度测量。与传统方案相比，本发明的清晰度测量装置具有结构紧凑、适用范围广、测量精度高、速度快的优点，并使得不同样品之间清晰度的比较更为客观、更有意义。
- 一种清晰度测量装置
- [发明专利]一种清晰度测量装置-CN201610681357.X有效
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潘建根;黄艳;李倩
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远方谱色科技有限公司
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2016-08-17
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2023-10-27
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G01N21/17
- 本发明公开了一种清晰度测量装置，包括第一光源系统，成像系统和第一探测器；被测样品设置于成像系统和第一探测器之间或者成像系统的成像元件之间，第一光源系统的发光光源或出光口通过成像系统后成像在第一探测器的探测面上；第一探测器为一维线型阵列或二维面阵阵列探测器。本发明不仅在紧凑的体积内实现了光源以及探测像素相对样品的小对边角，实现清晰度的标准测量，而且阵列探测器还可以对被测样品入射光以及透射光光分布进行测试比对，更加详细地测量被测样品的角度散射特性，具有精度高、速度快、体积紧凑的优点，适用于散射特性各异的各类样品清晰度测量比较。
- 一种清晰度测量装置
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