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[发明专利]图像输入装置-CN200510098206.3有效
发明人：今村邦博;岩泽高广 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2005-09-01 - 公布日： 2006-03-08 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：根据本发明的图像输入装置包括：光学镜头，图像传感器，布置在该图像传感器上的滤色器，用于临时地存储来自图像传感器的成像信号的存储器，色温测量电路，用于为每个测量区域测量从图像传感器读出的成像信号的色温，其中图像传感器的整个区域被可选地划分为测量区域，测量结果存储电路，用于临时地存储通过色温测量电路获得的色温测量结果，以及色温校正电路，用于输入来自存储器的成像信号和来自测量结果存储电路的色温测量结果，并基于每个区域色温测量的结果为所划分的每个校正区域校正成像信号的色温
图像输入装置

[发明专利]一种用于测量阴道内腔结构的系统-CN201811169849.6在审
发明人：戴博松;童舟;赵海英;邓隆隆 -专利权人：浙江自贸区费米善科技发展有限公司
申请日： 2018-10-08 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于测量阴道内腔结构的系统，包括计算机控制单元、OCT成像系统、腔内测量镜成像装置，所述腔内测量镜成像装置包括测量棒，所述测量棒中设置有1个夹层通道和多个筒状通道，筒状通道中设置有OCT成像探头、光电成像探头和光纤传导束，所述夹层通道中设置有三维扫描器。
测量阴道成像装置夹层通道内腔结构筒状通道阴道内腔测量棒测量镜探头腔内计算机控制单元医护三维立体结构三维扫描器光电成像光纤传导临床诊断帮助制定

[发明专利]压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法-CN201410161282.3有效
发明人：韩申生;陈喆;吴建荣 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2014-04-22 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：一种基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法。通过本方法获取基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统的测量矩阵时，需要在系统的光路中加入宽带热光源、光谱滤波装置、针孔光阑以及放大成像透镜。本发明利用基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统的局域空间平移不变性，通过较少的测量次数获得该系统的测量矩阵；还通过将原始探测面上的散斑光强分布放大成像到探测面上的方法获得高对比度的散斑场，提高测量矩阵的信噪比
压缩光谱成像系统测量矩阵获取方法

[发明专利]一种缺陷检测装置及其方法-CN202010256136.4有效
发明人：杨朝兴 -专利权人：上海御微半导体技术有限公司
申请日： 2020-04-02 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明公开了缺陷检测装置及其方法，包括工件台、光源、成像单元、距离测量单元、计算处理单元以及探测器；光源提供检测光束以预设入射角度入射待测基板表面，形成第一成像光束和第二成像光束；成像单元收集第一成像光束和第二成像光束，成像到第一成像区域和第二成像区域；距离测量单元测量待测基板厚度和待测基板与距离测量单元之间距离；计算处理单元根据第一成像区域在探测器上位置信息和待测基板厚度，获取第二成像区域在探测器上位置信息，对第一图像和第二图像进行缺陷识别获取缺陷信息；探测器对第一成像区域和第二成像区域分别进行图像采集，获取第一图像和第二图像。本发明仅通过一组成像单元和光源就可完成待测基板两个表面缺陷检测。
一种缺陷检测装置及其方法

[发明专利]一种红外热成像测温方法及装置-CN202011156105.8在审
发明人：高宏;邓进;徐学雷;王友余 -专利权人：紫光股份有限公司
申请日： 2020-10-26 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种红外热成像测温方法及装置，属于红外测温技术领域。本发明提出的红外热成像测温装置包括红外热成像摄像机、参考体、温度传感器、温度测量仪和数据处理器。本发明的红外热成像测温装置使用参考体、温度传感器和温度测量仪代替现有红外热成像测温装置中的黑体辐射源，利用高精度温度传感器和温度测量仪测量参考体温度，并将参考体表面的实际温度传递给数据处理器，对红外热成像测温装置实时进行校正，可实现±0.1℃的人体温度测量精度。本发明提出的红外热成像测温装置无需使用价格昂贵的黑体辐射源，大幅度降低了红外热成像测温装置的成本，有效解决了现有红外热成像测温方法及装置成本高、体积大、使用和维护复杂等一系列实际问题。
一种红外成像测温方法装置

[发明专利]离散成像器件统计调制传递函数激光散斑测量方法和装置-CN200910082128.6无效
发明人：林家明;张旭升;沙定国;张海涛;周桃庚;孙若端 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2009-04-16 - 公布日： 2009-09-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种离散成像器件统计调制传递函数激光散斑测量方法和装置，属于光电成像器件成像质量测试技术领域。本发明的测量装置由激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件和带有图像采集卡的计算机组成。测量方法是将散斑投射到离散成像器件靶面上做为输入，离散成像器件采取散斑图即为输出，通过输入和输出的功率谱对比，得到离散成像器件的统计调制传递函数；输入的功率谱密度由散射体出射平面的孔径光阑的大小和离散探测器阵列的位置决定本发明不需要成像镜头可以直接测量离散成像器件的统计调制传递函数，具有其他方法不具备的优点。
离散成像器件统计调制传递函数激光测量方法装置

[实用新型]一种红外热成像测温装置-CN202022403989.4有效
发明人：高宏;邓进;徐学雷;王友余 -专利权人：紫光股份有限公司
申请日： 2020-10-26 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种红外热成像测温装置，属于红外测温技术领域。本红外热成像测温装置包括红外热成像摄像机、参考体、温度传感器、温度测量仪和数据处理器。红外热成像测温装置中使用参考体、温度传感器和温度测量仪代替现有红外热成像测温装置中的黑体辐射源，利用高精度温度传感器和温度测量仪测量参考体温度，并将参考体表面的实际温度传递给数据处理器，对红外热成像测温装置实时进行校正，可实现±0.1℃的人体温度测量精度。本实用新型提出的红外热成像测温装置，无需使用价格昂贵的黑体辐射源，大幅度降低了红外热成像测温装置的成本，有效解决了现有红外热成像测温方法及装置成本高、体积大、使用和维护复杂等一系列实际问题。
一种红外成像测温装置

[发明专利]一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置-CN201811345134.1在审
发明人：沈铖武;李建荣;刘绍锦;刘畅;王志乾;李雪雷;刘玉生;蔡盛;马文家 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2018-11-13 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开一种检测工业测量相机光轴垂直度的方法和装置，所述方法包括以下步骤：调节基座上的移动平台，以使得识别物能够在成像元件上进行成像；读取当前所述识别物在成像元件上的成像坐标信息，当识别物在成像元件上的像点位于成像元件的中心原点时，停止调节移动平台；通过悬线控制识别物沿垂直方向移动一个预设单位距离；读取移动后的识别物在成像元件上的成像坐标信息，并通过比较当前成像坐标信息与成像元件的中心原点的偏移量，计算得到工业测量相机的光轴偏离铅垂线的角度信息本发明通过沿垂直方向移动识别物和读取识别物像点位置，实现了快速判断工业测量相机光轴偏转方向，为工业测量相机快速装调提供了技术支持。
一种检测工业测量相机光轴垂直方法装置

[发明专利]一种同时表征微纳米成像测量仪器多种性能的方法-CN201611127233.3有效
发明人：陈宇航;黄文浩 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2016-12-09 - 公布日： 2019-06-11 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种同时表征微纳米成像测量仪器多种性能的方法。首先，预备参考样块，该参考样块表面具有预先设定的三维尺寸的二维非周期编码光栅结构和渐变节距的栅线结构；随后，通过微纳米成像测量仪器对该参考样块表面进行扫描成像；最后，对扫描成像的结果进行分析处理，获得该微纳米成像测量仪器随时间的漂移值、分辨力以及xyz三个坐标方向上尺寸测量的校准系数。根据本发明的上述方法，能够方便的利用单个参考样块上实现对微纳米成像测量仪器的分辨力、xyz尺寸测量精度、时间稳定性等关键性能的表征和校准标定，并且具有漂移测量范围大、对比度高、不易受干扰等优点。
微纳米成像测量仪器样块漂移尺寸测量扫描成像参考分辨时间稳定性编码光栅单个参考分析处理校准系数栅线结构非周期校准标定渐变二维节距三维测量预备

[发明专利]基于零光子计数的单像素成像系统和成像方法-CN202110169699.4有效
发明人：张素恒;赵亚楠;侯红云;韩佳成;梁宝来 -专利权人：河北大学
申请日： 2021-02-07 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于零光子计数的单像素成像系统和成像方法，所述单像素成像方法包括以下步骤：a、生成二值随机测量矩阵序列；b、将二值随机测量矩阵序列中的测量矩阵逐一加载到空间光调制器上，对空间光调制器上的目标物的像进行调制，经调制后的激光光束进入时间相关单光子计数器，对每个测量矩阵进行次重复探测，最终给出探测到光子的次数；c、按光子计数对二值随机测量矩阵序列进行筛选，保留与零光子计数值对应的测量矩阵，将保留的测量矩阵求和本发明利用在每个像素处的零光子计数手段来重建图像，成像的系统噪声位于背景中，而不在成像的目标物上，因此基于零光子计数成像的质量较好。
基于光子计数像素成像系统方法

[发明专利]测量装置-CN201010255057.8无效
发明人：矶崎久;榎本芳幸 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2010-08-17 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种具有照射线状光的出射光学系统和获得从被测量物反射的线状反射光的摄像元件并根据所获得的线状反射光在被测量物上的几何学位置关系来测量被测量物的表面形状的测量装置，具备：多个成像光学系统，设置在被测量物与摄像元件之间，使线状反射光成像于摄像元件的受光面上以获得线状光在被测量物上的形状；光束分束机构，设置在被测量物与各成像光学系统之间，将线状反射光分束并导向关于被测量物的测量对象的光学设定彼此不同的各成像光学系统。摄像元件在受光面上设定有被划分为多个区域的多个片段，各个片段的至少一个或更多的区域用作受光区域，各成像光学系统使被分束的线状反射光成像于受光面上彼此不同的片段的受光区域上。
测量装置

[发明专利]核辐射检测仪测量磷屏成像样品放射强度准确性验证方法-CN202011389387.6在审
发明人：徐希杰;邹美芬;徐栋;钦晓峰;陆春雄;陈正平;顾晓波;俞惠新;张波;孙志强 -专利权人：江苏省原子医学研究所
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种核辐射检测仪测量磷屏成像样品放射强度准确性的验证方法，包括如下步骤：制备多个不同浓度点的核素标记样品溶液；将每个浓度点的核素样品溶液点样至聚酰胺薄膜条的中心点处，得到磷屏成像模拟样品；将弯曲后的磷屏成像模拟样品放置于安瓿瓶中，利用γ计数器完成测量，并记录测量数据；将磷屏成像模拟样品插入到多功能核辐射检测仪的放射性强度辅助测量装置中，启动该多功能核辐射检测仪完成测量，并记录测量数据；对γ计数器测量得到的测量数据和多功能核辐射检测仪测量得到的测量数据进行比较本发明验证了利用多功能辐射检测仪测量放射强度的准确性，开拓了核辐射检测仪测量磷屏成像样品放射强度的新应用。
核辐射检测测量成像样品放射强度准确性验证方法

[发明专利]一种扫描雷达快速超分辨成像方法-CN201910496264.3有效
发明人：张寅;庹兴宇;毛德庆;张文涛;张永超;裴季方;黄钰林;郭德明;杨建宇 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G01S13/89 文献下载
摘要：本发明提供了一种扫描雷达快速超分辨成像方法，属于雷达成像领域。本发明用于提升现有扫描雷达超分辨成像方法的成像处理效率，首先基于扫描雷达方位向回波卷积模型，采用低秩随机矩阵对天线方向图测量矩阵维数进行压缩；其次，对压缩测量矩阵进行正交化获得正交基向量，获得天线测量矩阵的广义逆；最后利用该广义逆对卷积反演问题进行快速求解，实现扫描雷达前视目标的超分辨成像。与传统超分辨成像方法相比，本发明方法能够在保持超分辨成像性能的同时，提高成像处理的运算效率。
一种扫描雷达快速分辨成像方法

[发明专利]雷达的压缩成像处理方法和雷达的压缩成像处理装置-CN202111046343.8在审
发明人：梁兴东;秦斐;卜祥玺;党相卫 -专利权人：中国科学院空天信息创新研究院
申请日： 2021-09-07 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G06F17/14 文献下载
摘要：本公开提供了一种雷达的压缩成像处理方法，包括：通过使用雷达对位于目标方位向的机场区域进行扫描，获取所述机场区域的距离向测量信号；基于预设随机分布，构建所述距离向测量信号的测量矩阵；根据所述测量矩阵和预设字典矩阵，构建所述距离向测量信号的感知矩阵；基于所述感知矩阵对所述距离向测量信号进行稀疏重构，得到距离向重构信号；以及使用所述距离向重构信号进行压缩成像，得到所述机场区域的成像结果，其中，所述成像结果用于所述机场区域内外来物的目标检测和跟踪处理此外，本公开还提供了一种雷达成像装置。
雷达压缩成像处理方法装置

[发明专利]基于多模态光学的成像系统及成像方法-CN202111536674.X在审
发明人：王晓莉;李晨曦;赵岩松;蒋景英;董鹏;刘建亮 -专利权人：潍坊医学院
申请日： 2021-12-15 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本公开提供一种基于多模态光学的成像系统，包括：光源单元，用于发出第一测量光和第二测量光；光开关，与所述光源单元相连，用于在第一测量光和第二测量光之间进行切换；多模态相机单元，用于采集所述第一测量光照射组织后生成的第一信号和第二测量光照射待测组织后生成的第二信号；以及图像处理单元，用于对所述第一信号和第二信号进行成像，得到基于多模态光学的图像。同时本公开还提供一种基于多模态光学的成像方法，基于上述成像系统进行成像。
基于多模态光学成像系统方法

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