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[发明专利]基于高速成像的高压断路器动作特性测量装置及应用方法-CN201711174389.1在审
发明人：钟理鹏;段肖力;黄海波;李欣;袁培;吴水锋;范敏;李婷;何智强;张思齐;吴文亮 -专利权人：国网湖南省电力有限公司;国网湖南省电力公司电力科学研究院;国家电网公司
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于高速成像的高压断路器动作特性测量装置及应用方法，高压断路器动作特性测量装置包括可调支撑杆、高速成像仪和测量辅助标尺，高速成像仪安装固定在可调支撑杆上，测量辅助标尺设于被测量高压断路器的机械运动部件上，高速成像仪布置于被测量高压断路器的外侧且镜头对准测量辅助标尺；应用方法包括基于高压断路器动作特性测量装置获取分合闸速度曲线、并基于分合闸速度曲线提取动作特性数据来对被测量高压断路器的状态进行评估。本发明能够实现对高压断路器动作特性的非接触式准确测量以及对被测量高压断路器的状态进行评估，具有实施简单快捷、检测精确度高的优点。
基于高速成像高压断路器动作特性测量装置应用方法

[发明专利]一种轮胎花纹深度测量装置、方法及计算机可读存储介质-CN202011242931.4在审
发明人：张撷秋;杨世航;马伟涛;杜磊;刘鹏 -专利权人：深圳市二郎神视觉科技有限公司
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2021-02-19 - 主分类号： G01B11/22 文献下载
摘要：本申请涉及一种轮胎花纹深度测量装置、方法及计算机可读存储介质，属于机器视觉测量技术的领域，其包括测量支撑装置，测量支撑装置内部中空设置，测量支撑装置上开设有测量口；检测装置，设置于所述测量支撑装置上；成像装置，设置于测量支撑装置内部，用于向位于顶壁的测量口的轮胎发射成像光束，成像光束反射后形成轮胎的胎面花纹图像；控制处理装置，包括控制子模块和处理子模块；控制子模块，用于响应于检测装置发送的开始测量信号，并控制成像装置和图像采集装置工作与相关技术相比，本申请具有提高胎面花纹深度数据的测量准确性的效果。
一种轮胎花纹深度测量装置方法计算机可读存储介质

[发明专利]成像系统、成像控制器以及垂直同步的方法与程序-CN200610084460.2有效
发明人：中岛孝嗣 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2006-05-23 - 公布日： 2006-11-29 - 主分类号： H04N5/073 文献下载
摘要：公开了一种成像系统，该成像系统具有用于产生物体图像和画面信号的成像器件，以及通过一条传输线连接于成像器件的成像控制器。该成像系统包括产生用于产生物体图像的内部垂直同步信号的垂直同步信号产生电路。该成像控制器包括延迟测量电路和垂直同步相位提前电路。在这一系统中：成像控制器向成像器件传输测试信号，并且从成像器件接收所返回的测试信号，然后，延迟测量电路测量所返回的测试信号的相位相对原始测试信号的相位的延迟量；垂直同步相位提前电路把外部垂直同步信号的相位提前该延迟量，并且把该外部垂直同步信号传输于成像器件；根据从垂直同步相位提前电路所传输的信号，重新设置垂直同步信号产生电路。
成像系统控制器以及垂直同步方法程序

[实用新型]基于双光束相向照射的干涉粒子成像测量装置-CN201320841677.9有效
发明人：王祥;吕且妮;吕通;靳文华;陈益亮 -专利权人：天津大学
申请日： 2013-12-16 - 公布日： 2014-07-09 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于双光束照射的干涉粒子成像测量装置，包括片状光束相向照射系统和接收成像系统，片状光束相向照射系统由激光器、扩束准直系统、光束压缩系统、分束镜和反射镜组组成。接收成像系统包括聚焦成像系统和离焦成像系统。分束镜将粒子散射光分成两部分，聚焦成像系统由CCD和成像透镜组成，离焦成像系统由成像透镜和CCD组成,采集到的图像存储于计算机中。在聚焦成像系统和离焦成像系统中，物平面、透镜平面和CCD像面相互平行。本实用新型通过粒子散射光的条纹图和聚焦像，得到粒子尺寸大小，结合PTV/PIV技术，得到粒子场速度分布，可用于喷雾粒子场粒子尺寸、速度测量以及气缸内空气速度场测量。
基于光束相向照射干涉粒子成像测量装置

[发明专利]磁纳米粒子成像系统矩阵测量的栅格状探测板及测量方法-CN202110771452.X在审
发明人：田捷;张鹏;惠辉;李怡濛;杨鑫 -专利权人：中国科学院自动化研究所
申请日： 2021-07-08 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： A61B5/0515 文献下载
摘要：本发明属于磁纳米粒子成像中的系统矩阵测定技术领域，具体涉及了一种磁纳米粒子成像系统矩阵测量的栅格状探测板及测量方法，旨在解决现有技术无法简单快速地测量磁纳米粒子成像中的系统矩阵的问题。本发明包括：根据磁纳米粒子成像系统分辨率调整隔离板；获得设定数量的呈栅格状排列的凹状正方形晶格构成的栅格状探测板；基于系统矩阵本身的特性以及系统矩阵与感应线圈中的电压信号的关系，通过探测板逐渐增加测量范围；将探测板各正方形晶格对应的列值按照晶格位置进行拼接，获得最终的磁纳米粒子成像的系统矩阵。本发明实现了磁纳米粒子成像的系统矩阵的快速测量和校准，分辨率灵活可调，适配多种磁纳米粒子成像系统，降低成本、提高效率。
纳米粒子成像系统矩阵测量栅格探测测量方法

[发明专利]一种石质文物水分来源的无损检测与分析方法-CN202110503895.0在审
发明人：黄继忠;赵文冠;赵朋卫;黄倩 -专利权人：上海大学
申请日： 2021-05-10 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01N22/04 文献下载
摘要：一种石质文物水分来源的无损检测与分析方法，包括利用微波水分测定仪测量壁面以下含水率的步骤、利用红外热成像相机拍摄热成像照片的步骤、以及分析水分来源的步骤；利用微波水分测定仪测量壁面以下含水率的步骤包括：从壁面上划出一个矩形区域作为测量区域，并选择多个测试点，利用微波水分测定仪测量测试点处壁面以下不同深度的含水率得到壁面以下含水率数据；利用红外热成像相机拍摄热成像照片的步骤包括：选择至少包含测量区域的红外热成像相机拍摄区域，对选择的拍摄区域进行拍摄得到红外热成像照片；分析水分来源的步骤包括：结合壁面以下含水率数据和红外热成像照片，分析水分在不同深度下的数据变化趋势，根据变化趋势判断水分来源。
一种文物水分来源无损检测分析方法

[发明专利]一种垂直度测量方法和装置-CN201910707139.2有效
发明人：张品光;马育国;米士隆;王丹艺;何剑炜 -专利权人：东莞市宇瞳光学科技股份有限公司
申请日： 2019-08-01 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种垂直度测量方法和装置。该垂直度测量方法包括：提供一光学自准直仪和一平面反射镜；将平面反射镜放置于载物台上，准直光束经平面反射镜反射形成光斑，记录光斑的初始成像位置；将底座和镜框螺接，并放置于载物台上，将平面反射镜放置于镜框上；旋转镜框至少三次，记录每次旋转后光斑的测量成像位置；根据测量成像位置，获取底座表面反射的虚拟成像位置；根据初始成像位置、测量成像位置、虚拟成像位置以及刻度分划板上单位距离与平面倾角的转换关系，分别计算底座和镜框各自的螺纹轴线与承靠面的垂直度
一种垂直测量方法装置

[发明专利]消除电成像图像噪声特征的处理方法及装置-CN202110694409.8有效
发明人：刘耀伟;张璋;于增辉;张志刚;徐大年;张爱军;王芝环;侯振学;马欢波;尹璐 -专利权人：中海油田服务股份有限公司
申请日： 2021-06-22 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种消除电成像图像噪声特征的处理方法及装置，方法包括：从电成像图像中选取符合样本条件的样本图像；提取样本图像的电扣测量数据进行统计处理，以确定样本图像中背景数据与指定特征数据的分界值；根据分界值及电成像图像的电扣测量数据，划分电成像图像中的背景数据区域和指定特征数据区域，根据分界值对电成像图像的电扣测量数据进行二值化处理，得到背景数据和指定特征数据对应的电扣二值化数据；对电成像图像的电扣二值化数据逐个进行连通性检测；选取背景数据区域对应的电扣测量数据，根据背景数据区域中噪声特征进行滤波处理，去除噪声特征；根据更新后的电扣测量数据，进行预处理与归一化处理后生成电成像图像。
消除成像图像噪声特征处理方法装置

[发明专利]成像探测器自我诊断电路-CN201480066171.2有效
发明人： R·斯特德曼布克;G·福格特米尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-11-21 - 公布日： 2020-02-07 - 主分类号： G01T1/164 文献下载
摘要：一种成像系统的成像探测器模块(112)包括至少一个探测器像素(114)和自我诊断电路(116)。所述自我诊断电路包括微处理器(202)和至少测量设备(210)。所述微处理器控制所述至少一个测量设备来测量所述至少一个探测器像素的至少一个参数，其中，所述至少一个参数的值指示所述成像系统的健康状态。一种方法包括采用被嵌入成像探测器模块中的自我诊断电路来测量所述成像探测器模块的至少一个探测器像素的至少一个参数。所述至少一个参数的值指示所述成像探测器的健康状态。所述方法还包括利用所述自我诊断电路基于测量出的至少一个参数来生成指示所述成像探测器模块的健康状态的信号。
成像探测器自我诊断电路

[发明专利]一种基于关联成像的距离测量方法-CN201510263692.3有效
发明人：秦川;魏凯;戴博;张大伟;王琦;陶春先 -专利权人：上海理工大学
申请日： 2015-05-21 - 公布日： 2017-07-18 - 主分类号： G01S11/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于关联成像的距离测量方法，基于关联成像基本原理，实现空间光调相板到目标物体之间距离的测量。关联成像需要两路光强做相关运算来成像，一路通过目标物体被单像素探测器检测，即是检测光路光强；另一路不通过目标物体，直接被具有空间分辨力的探测器检测，即是参考光路光强，将两者做相关运算成像。具有抗干扰性强，稳定可靠等优点；通过成像来达到测量距离的目标，在实现测量距离同时，也获得物体图像，获得了物体大量的信息，这是传统测距方法所不具备的。
一种基于关联成像距离测量方法

[发明专利]一种基于压缩感知的合成孔径聚焦超声成像方法-CN201811514503.5有效
发明人：郭业才;陈晨;季晓星;王超 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2018-12-12 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01S15/89 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于压缩感知的合成孔径聚焦超声成像方法，该发明利用压缩感知理论和合成孔径聚焦超声成像方式，在已获得原始阵列回波信号的前提下，将压缩感知理论中的测量矩阵与合成孔径聚焦扫描模式中的通道权值相结合，使得阵列在接收信号过程中实现非均匀采样，得到测量信号；通过原始阵列回波信号和测量信号分别计算得到稀疏矩阵和测量矩阵，并利用稀疏矩阵和测量矩阵导入重建算法中重建数据矩阵以供后续成像处理。本发明方法有效降低了数据矩阵的维度，减少了计算复杂度，较好地恢复出了合成孔径聚焦成像图，为超声实时成像提供了理论参考。
一种基于压缩感知合成孔径聚焦超声成像方法

[发明专利]一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法-CN202110136762.4有效
发明人：王敬涛;王正义;彭建华;张林涛 -专利权人：浙江省医疗器械检验研究院
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。本发明还涉及一种使用所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置的光学干涉断层成像系统轴向分辨率的测量方法。本发明的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量方法通过一次扫描便可以得到系统的实际轴向分辨率，而无需反复调整空气隙实际宽度来无限逼近系统实际分辨率，因此具有操作简单、快速的特点。
一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置测量方法

[发明专利]一种用于测量磁约束聚变装置主离子温度的光谱诊断系统-CN202210339038.6有效
发明人：田文静;许敏;柯锐;王占辉;余羿;周艺轩;龙婷;聂林;吴婷 -专利权人：核工业西南物理研究院
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G21B1/23 文献下载
摘要：本发明涉及磁约束聚变装置主离子温度测量领域，公开了一种用于测量磁约束聚变装置主离子温度的光谱诊断系统，包括：收光光纤，连接置于真空室内的发出等离子体的辐射光线的镜头组；分光系统，包括腔体，所述腔体上设有入射狭缝；成像光纤，其中一端设置在所述分光系统的成像面处，另一端连接在探测器上，用于将成像数据传输到所述探测器中；所述成像光纤与所述成像模块连接的一端包括若干组与所述弯曲狭缝的像对应的布局相同的子成像光纤，每组所述子成像光纤由本发明通过弯曲狭缝能校正成像弯曲，极大简化成像光纤的布局，减小测量结果的误差。
一种用于测量约束聚变装置离子温度光谱诊断系统

[发明专利]一种基于智能终端的物体尺寸测量方法及测量装置-CN201711457913.6在审
发明人：梁少勃 -专利权人：上海传英信息技术有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于智能终端的物体尺寸测量方法及测量装置，所述物体尺寸测量方法包括以下步骤：控制所述智能终端的摄像头对一被测物体拍照并于所述智能终端的感光元件上形成一成像图像；获取所述被测物体的成像图像尺寸；通过相位对焦获取所述被测物体的像距及物距；根据所述像距、物距及成像图像尺寸利用小孔成像原理计算所述被测物体的尺寸。本技术方案实现远程物体尺寸测量，无需借助其他测量工具；无需增加额外的硬件，节省成本。
被测物体智能终端物体尺寸测量成像图像测量装置物距像距摄像头尺寸测量感光元件小孔成像远程物体对焦拍照测量

[发明专利]经纬仪-CN201510242308.1有效
发明人：彼得·基佩弗;J·莱斯 -专利权人：莱卡地球系统公开股份有限公司
申请日： 2015-05-13 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G01C15/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种大地测量仪器，特别是例如用于经纬仪或者大地测量概览、摄影测量或轴向相机的大地测量望远镜，该大地测量望远镜包括成像光学系统(1)，该成像光学系统(1)限定光轴(A)并且包括用于通过目镜(128)和/或在用于对准和/或提供所瞄准的目标对象的图像的相机传感器上对目标对象成像的观测光束路径。根据本发明，成像光学系统(1)在观测光束路径上包括至少两个衍射光学元件。
具有衍射光学元件大地测量仪器