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[发明专利]对一种或多种材料进行测量的系统及方法-CN201110130889.1有效
发明人：韦恩·D·罗特;爱德华·A·卡尔维;查尔斯·J·柯林斯;威廉·R·戴歇尔;亚尔登·E·克拉格;亚当·R·席尔法特;罗斯·G·约翰逊;科林·D·博察尔特;维克托·塞尔瓦拉杰;埃里克·D·史密斯;尼古拉斯·F·阿拉巴;布鲁斯·J·C·伯纳德;唐纳德·A·康纳;罗贝特·S·罗奇;大卫·L·史密斯 -专利权人：卢米耐克斯公司
申请日： 2011-05-17 - 公布日： 2012-01-11 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：提供了对一种或多种材料进行测量的系统及方法。一种系统被配置为将一种或多种材料从一个或多个贮存容器转移至测量装置的成像空间。另一系统被配置为在测量装置的成像空间中对一种或多种材料成像。一种附加的系统被配置为在测量装置的成像空间中使一种或多种材料大致上固定不动。又一系统被配置为将一种或多种材料从一个或多个贮存容器转移至测量装置的成像空间、在所述成像空间中对所述一种或多种材料成像、在所述成像空间中使所述一种或多种材料或它们的某种组合大致上固定不动。
一种多种材料进行测量系统方法

[发明专利]基于传输矩阵理论的透过散射介质泛化成像方法-CN202211527434.8有效
发明人：韩静;柏凯旋;郭恩来;柏连发;张毅;赵壮;朱硕;师瑛杰 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： H04N23/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于传输矩阵理论的透过散射介质泛化成像方法，包括如下步骤：采集散斑图案，使用包括数字字符目标、字母和汉字目标的实验数据。采用因子化卷积方法，损失函数为均方误差和负皮尔逊相关系数的结合。测量阶段使用字符目标制作的标定图像进行TM的测量，成像阶段将DL数据挖掘能力与测量的TM相结合，通过基于TM原理的物理自闭环约束的骨干网络进行训练而重建成像。成像阶段借助相位检索算法恢复的TM进行成像，相位检索算法结合进行测量阶段恢复的TM进行成像。网络结构大大减少了TM测量阶段所需的数据量，成像阶段的自闭环约束也使成像网络减少了对训练集完整性的过分依赖。
基于传输矩阵理论透过散射介质泛化成像方法

[发明专利]包括使用磁粒子和应用磁场的用于执行一种或多种分析物的测量系统和方法-CN200780020449.2有效
发明人：韦恩·D·罗思;查尔斯·J·柯林斯;邓格·都昂 -专利权人：卢米尼克斯股份有限公司
申请日： 2007-06-04 - 公布日： 2009-07-08 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：提供一种用于执行一种或多种材料的测量的系统和方法。一系统配置的以从一个或多个存储容器转移一种或多种材料到测量装置的成像空间。另一系统配置的以对测量装置的成像空间中的一种或多种材料成像。又一系统配置的以实质上固定测量装置的成像空间中的一种或多种材料。还有一系统配置的以从一个或多个存储容器转移一种或多种材料到测量装置的成像空间，以对成像空间中的一种或多种材料成像，以实质上固定成像空间中的一种或多种材料，或者其一些组合。
包括使用粒子应用磁场用于执行一种多种分析测量系统方法

[发明专利]一种α源成像测量装置-CN201810255648.1有效
发明人：邢雨 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2018-03-27 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明涉及一种α源成像测量装置，包括测量室、真空线性执行器、针孔相机组件和抽真空组件；所述针孔相机组件采用放射性自显影胶片或二维半导体材料作为成像介质；所述针孔相机组件设置于测量室中；α源放入所述测量室内；所述抽真空组件连接于所述测量室；所述真空线性执行器与所述针孔相机组件连接以调节成像孔与所述α源的距离。本发明能够解决α平面源成像大小调节、源污染、曝光时间调节及重复使用的问题，成像可用于α源几何形状及参数测量，源分布均匀性测量等方面。
一种成像测量装置

[发明专利]一种气相沉积炉用产品成像控制装置及控制方法-CN202210585740.0在审
发明人：史文;幸刚;付江;肖如飞;高俊 -专利权人：江油神光石英科技有限公司
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种气相沉积炉用产品成像控制装置及控制方法，产品成像控制装置包括：激光测量窗口开设在气相沉积炉的侧壁；激光测量装置的激光发射口与激光测量窗口相对设置，以采集气相沉积炉内的产品数据；升降装置与激光测量装置连接；数据成像装置用于根据激光测量装置采集的产品数据进行图形成像；PLC控制模块分别与激光测量装置、升降装置和数据成像装置连接。本发明通过激光测量装置能够对气相沉积炉内的产品进行准确测量，得到实时的具体测量数据，从而可以随之调整工艺，稳定工艺，进而提高产品的成品率，具有误差小、可靠性高的特点。
一种沉积产品成像控制装置方法

[发明专利]生物微样品测量系统-CN201310434994.3有效
发明人：蒋庆;蒋乐伦;陈珂云;凌金田;潘程枫 -专利权人：中山大学
申请日： 2013-09-23 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种精密测量仪器的制作技术领域，更具体地，涉及一种生物微样品测量系统，包括力学加载模块、电测量模块、显微成像模块、计算机控制模块，所述的力学加载模块、电测量模块、显微成像模块分别与计算机控制模块电连接本发明力学加载模块、电测量模块、显微成像模块分别与计算机控制模块电连接的设置是为了用计算机来控制所述的力学加载模块、电测量模块、显微成像模块快速精确完成操作以及进行自动修正，节省时间，且生物微样品测量系统测量范围大，测量精度高，操作简单，使用方便，集测量与显微成像与一体，具有很高的经济效益和社会效益。
生物样品测量系统

[实用新型]生物微样品测量系统-CN201320587459.7有效
发明人：蒋庆;蒋乐伦;陈珂云;凌金田;潘程枫 -专利权人：中山大学
申请日： 2013-09-23 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种精密测量仪器的制作技术领域，更具体地，涉及一种生物微样品测量系统，包括力学加载模块、电测量模块、显微成像模块、计算机控制模块，所述的力学加载模块、电测量模块、显微成像模块分别与计算机控制模块电连接本实用新型力学加载模块、电测量模块、显微成像模块分别与计算机控制模块电连接的设置是为了用计算机来控制所述的力学加载模块、电测量模块、显微成像模块快速精确完成操作以及进行自动修正，节省时间，且生物微样品测量系统测量范围大，测量精度高，操作简单，使用方便，集测量与显微成像与一体，具有很高的经济效益和社会效益。
生物样品测量系统

[实用新型]一种高光谱成像显微大数据测量系统-CN202022514667.7有效
发明人：乔铁;高瑞 -专利权人：广州大秦光镊科学仪器科技有限公司
申请日： 2020-11-03 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高光谱成像显微大数据测量系统，包括显微镜组件、数据处理模块、显示器，所述显微镜组件包括显微镜模块、测量显微模块和高光谱成像模块，所述显微镜模块上设置有测量目镜和高光谱目镜，所述测量显微模块与所述测量目镜连接，所述高光谱成像模块与所述高光谱目镜连接；所述数据处理模块与所述显微镜组件电连接；所述显示器分别与所述显微镜组件和所述数据处理模块电连接。通过将高光谱成像测量技术与大数据测量结合，实现自动化智能化的高光谱成像显微大数据测量，操作简便，测量效率更快，测量数据更精确。
一种光谱成像显微数据测量系统

[发明专利]一种骨密度测量仪及其测量方法-CN201911082889.1在审
发明人：王宇恒 -专利权人：北京迈尔思瀛海威医疗技术有限公司
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2020-04-10 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种骨密度测量仪及其测量方法，涉及医疗器械领域，所述骨密度测量仪包括相对设置的照射部和测量部，以及照射部和测量部之间的连接部，所述连接部连接照射部和测量部，所述照射部内设置有X射线发生器，所述测量部的表面设置有测量台，所述测量台和照射部相对设置；所述骨密度测量仪还包括处理器、成像板和成像读取器，所述处理器、X射线发生器和成像读取器电连接，所述成像板设置在测量部内，位于测量台的正下方，并与测量台相邻本发明实施例能够解决现有骨密度检测仪对人体伤害大，成像质量不高的问题，具有结构简单，检查速度快，对人体伤害小等优点。
一种密度测量仪及其测量方法

[发明专利]一种多面尺寸测量仪-CN201911185366.X在审
发明人：黎志勇 -专利权人：东莞市亿辉光电科技有限公司
申请日： 2019-11-27 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多面尺寸测量仪，包括机架、可调焦的可调成像组件及表面光源，机架上设有一放置待测零件的可调置物台，所有可调成像组件均面向于可调置物台并对应于待测零件的不同侧面，每个可调成像组件沿置物台长边方向或短边方向滑动于机架上；每个可调成像组件均包含镜头，每个镜头上套设一表面光源。该多面尺寸测量仪的可对待测零件不同侧面进行测量，实现零件多面测量，不用对零件进行翻面测量，测量效果高；且可调成像组件可进行调焦，实现镜头调焦功能，从而使得镜头成像更加清晰，测量精度更高；再者，可调成像组件及置物台位置可移动，可快速调整至不同位置的待测零件，进一步提高测量效率。
一种多面尺寸测量仪

[实用新型]纬弯测量装置-CN201420393358.0有效
发明人：马栋杰 -专利权人：广东生益科技股份有限公司
申请日： 2014-07-16 - 公布日： 2015-02-18 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本实用新型公开一种纬弯测量装置，适用于测量织品的纬弯，其中，所述纬弯测量装置包括底座、支架、滑轨及成像装置，支架呈平行的设置于底座的相对两侧上，滑轨的两端分别对应固定于位于底座的相对两侧上的支架上，滑轨与底座之间形成供织品穿过的成像区，成像装置呈滑动的设置于滑轨上且成像装置的镜头竖直朝下，成像装置从滑轨的一端滑动到另一端，从而成像装置完成对织品在纬向方向的摄像，测量人员通过查阅成像装置所拍摄的图片可准确的计算出织品的纬弯，有效的解决了现有技术全程通过人工测量所带来的测量不准确和效率低的缺陷，通过使用本实用新型来测量织品的纬弯，大大的提高了测量的准确度和效率。
测量装置

[实用新型]一种多面尺寸测量仪-CN201922100925.4有效
发明人：黎志勇 -专利权人：东莞市亿辉光电科技有限公司
申请日： 2019-11-27 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多面尺寸测量仪，包括机架、可调焦的可调成像组件及表面光源，机架上设有一放置待测零件的可调置物台，所有可调成像组件均面向于可调置物台并对应于待测零件的不同侧面，每个可调成像组件沿置物台长边方向或短边方向滑动于机架上；每个可调成像组件均包含镜头，每个镜头上套设一表面光源。该多面尺寸测量仪的可对待测零件不同侧面进行测量，实现零件多面测量，不用对零件进行翻面测量，测量效果高；且可调成像组件可进行调焦，实现镜头调焦功能，从而使得镜头成像更加清晰，测量精度更高；再者，可调成像组件及置物台位置可移动，可快速调整至不同位置的待测零件，进一步提高测量效率。
一种多面尺寸测量仪

[发明专利]一种目标温度的测量方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211167571.5在审
发明人：余瑾;陈松林;裴国超;吴辉阳 -专利权人：杭州微影软件有限公司
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01J5/48 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种目标温度的测量方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获取待处理热图像以及待处理热图像包括的目标的待补偿温度，确定目标在待处理热图像中的目标成像特征，其中，目标成像特征用于表征目标的形状和/或成像大小，基于目标成像特征、目标的待补偿温度和预设映射关系，确定目标的测量温度，预设映射关系为成像特征、待补偿温度与测量温度之间的对应关系。由于目标成像特征可以表征目标的形状和/或成像大小，因此在获取目标的待补偿温度和目标成像特征后，可以基于对应关系准确确定目标的测量温度，可以补偿目标的形状和/或成像大小对测温的影响，从而提高热成像测温的测温精度
一种目标温度测量方法装置电子设备存储介质

[实用新型]一种新型大视野高倍率复合式成像系统-CN201420170786.7有效
发明人：黄宏臻 -专利权人：东莞市兆丰精密仪器有限公司
申请日： 2014-04-09 - 公布日： 2014-08-20 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新型大视野高倍率复合式成像系统，包括CCD（Charge-coupledDevice，电荷耦合元件）摄像面、成像附加目镜、主成像体、伺服驱动装置、齿轮传动机构、可调变倍凸镜模组、远芯大视野成像物镜、观察物面、固定成像凸镜模组，所述CCD摄像面、成像附加目镜、可调变倍凸镜模组、远芯大视野成像物镜、观察物面、固定成像凸镜模组中心轴在同一直线上。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：实用性强，使用成本低，工作效率提高，能解决生产过程中绝大部分成像测量问题，实现大视野成像模式下的快速高效率测量与高倍率模式下的精确测量相结合，并在同一测量程序中交错工作
一种新型视野倍率复合成像系统

[实用新型]测量辅助装置及量床-CN201120329752.4有效
发明人：李文涛;乔明胜;邢哲 -专利权人：青岛海信电器股份有限公司
申请日： 2011-09-05 - 公布日： 2012-04-25 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种能够对待测产品的隐秘位置进行尺寸测量的测量辅助装置及量床，至少包括测量镜头，还包括测量辅助装置，所述测量辅助装置为上述的测量辅助装置。该测量辅助装置包括至少两个配套使用共同起反射成像作用的镜面工件。通过镜面的反射成像原理，将待测复杂产品隐秘位置反射到测量镜头内，然后经过量床内测量设备的分析得出测量结果，做到轻松测量待测复杂产品隐秘位置的特征。另外，如果待测复杂产品隐秘位置过小，则可将镜面设置成可放大成像，然后将放大后的成像反射到测量镜头内进行尺寸测量。
测量辅助装置