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[发明专利]使用与检测器组件耦合的相机提高导航精度-CN202310295090.0在审
发明人：亚历山大·克罗赫马尔;亚历山大·勃兰特;多尔·佩里;亚瑟·佩莱德;马修·沃明顿 -专利权人：布鲁克科技公司
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种系统包括第一成像组件和第二成像组件以及处理器。第一成像组件被配置成产生样本中测量部位的第一图像。第二成像组件与测量组件耦合，并被配置为产生测量部位的第二图像。处理器被配置为：(i)基于第一图像执行样本相对于测量组件的第一移动，(ii)基于第二图像执行样本的第二移动以使样本与测量组件对准，以及(iii)控制测量组件在测量部位处执行测量。
使用检测器组件耦合相机提高导航精度

[实用新型]一种新型的多相流成像测量传感器结构-CN201821650476.X有效
发明人：荣金曦;蔡家铁;李占杰;李祺 -专利权人：辽宁石油化工大学
申请日： 2018-10-11 - 公布日： 2019-06-14 - 主分类号： G01N27/00 文献下载
摘要：一种新型的多相流成像测量传感器结构。它是由三个螺旋面，主轴，绝缘层，阵列电极组成。本装置所设计的螺旋面与井壁之间保持一定的角度，使得螺旋面上的阵列电极能够多角度全方位地测量三维空间内的流体信息。相较于传统的多相流成像测量传感器结构，本装置能够采集更多的测量信号，提高了成像质量，减少了测量干扰，更加适合于井下流体成像测量，更具有实用价值与市场前景。
测量传感器多相流成像阵列电极螺旋面三维空间绝缘层测量测量信号成像测量井下流体流体信息传统的井壁成像采集

[发明专利]一种随钻成像方位伽马旋转测试装置-CN202210446988.9在审
发明人：石峻峰;梁雪琴;杨启明;卜纲 -专利权人：中天启明石油技术有限公司
申请日： 2022-04-26 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种随钻成像方位伽马旋转测试装置，包括车架机构、驱动机构、旋转支撑机构和测量机构，旋转支撑机构安装于车架机构上，驱动机构用于驱动随钻成像方位伽马在旋转支撑机构上旋转；测量机构安装于车架机构上，且测量机构套设于随钻成像方位伽马的外圈上，测量机构的圆周方向上设有多个象限区域，象限区域上设有伽马放射源。本发明能模拟钻井时钻头附近的地层模型；驱动机构驱动随钻成像方位伽马在支撑机构上旋转，能模拟测试井下钻具连续旋转过程中随钻成像方位伽马扫描地层的效果。由于测量机构的圆周方向上设有多个象限区域，测量机构测量相应象限内的伽马数据，以检测随钻成像方位伽马的功能，验证其测量功能、精度、稳定性和可靠性。
一种成像方位旋转测试装置

[发明专利]一种基于低精度POS的微型InSAR运动补偿方法-CN201711441770.X有效
发明人：汪丙南;向茂生;董勇伟;丁赤飚 -专利权人：中国科学院电子学研究所
申请日： 2017-12-26 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本公开提供了一种基于低精度POS的微型InSAR运动补偿方法，基于低精度POS的InSAR成像处理，提取InSAR位置观测量，获得位置误差，提取InSAR姿态观测量，获得姿态误差，利用位置误差和姿态误差进行GPS/IMU/InSAR组合滤波处理，利用GPS/IMU/InSAR组合滤波结果进行InSAR成像处理，判断成像精度是否满足干涉测量要求，如果不满足，则重复执行上述步骤，直到成像精度满足InSAR成像需求为止
一种基于精度 pos 微型 insar 运动补偿方法

[发明专利]基于电容层析成像传感器的移动式成像装置-CN201811367793.5有效
发明人：叶茂;申敬敬;孟霜鹤;刘中民 -专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
申请日： 2018-11-16 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于电容层析成像传感器的移动式成像装置，包括：电容层析成像传感器、运动夹具和辅助夹具，运动夹具和辅助夹具分别夹持待测样品或电容层析成像传感器；运动夹具相对辅助夹具进行测量运动；电容层析成像传感器用于对待测样品的待测截面进行测量对于待测样品运动速度较快时，需要增加测得截面的数量减少测量间隔时，采用该装置进行成像测量，可以有效提高三维重建图像的质量并极大地增加3D ECT传感器所能测量样品的运动速度范围。
基于电容层析成像传感器移动式装置

[发明专利]一种推扫式高光谱成像仪光谱弯曲和梯形畸变检测方法-CN202010966364.0有效
发明人：刘成玉;何志平;徐睿;袁立银;李春来;谢佳楠;金健;王蓉 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种推扫式高光谱成像仪光谱弯曲和梯形畸变检测方法，该方法步骤如下：(1)制作适用于光谱弯曲检测和梯形畸变检测的参考靶标；(2)暗背景数据测量；(3)光谱弯曲检测靶标成像数据测量；(4)梯形畸变检测靶标成像数据测量；(5)成像数据处理；(6)时间维方向平均；(7)光谱弯曲计算；(8)梯形畸变计算。本发明的以推扫式高光谱成像仪的光谱弯曲和梯形畸变的产生机理为基础，以参考靶标测量的方式，通过一定数据处理获取了高光谱成像仪全幅的光谱弯曲和梯形畸变，在保证测量精度的同时，提高了工作效率。
一种推扫式高光谱成像弯曲梯形畸变检测方法

[实用新型]激光雷达以及激光雷达测量装置-CN201720067652.6有效
发明人：尚弘;王飞;王豪;刘小康 -专利权人：北京佳光科技有限公司
申请日： 2017-01-18 - 公布日： 2017-07-28 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种激光雷达以及激光雷达测量装置，涉及雷达技术领域，该激光雷达包括依次设置的环形激光光束发射系统、接收成像系统以及信息处理器；其中，所述发射系统用于发射激光光束并将该光束投射在被测量物体上；所述接收成像系统与所述发射系统相对设置，所述接收成像系统用于接收投射在被测量物体上的激光光束并成像；所述信息处理器用于定位激光光束在接收成像系统的成像位置并计算被测量物体的精确位置。该激光雷达以及激光雷达测量装置能够克服传统的激光雷达不能适用的恶劣环境。
激光雷达以及测量装置

[发明专利]基于多次成像的光学测量系统及成像方法-CN202310729787.4在审
发明人：张琥杰;张和君;刘怡;章智伟 -专利权人：深圳市中图仪器股份有限公司
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： H04N23/741 文献下载
摘要：本公开描述一种基于多次成像的光学测量系统及成像方法，该光学测量系统包括照明模块、扫描模块、成像模块、以及图像处理模块；照明模块用于发射照明光束；扫描模块配置为接收照明光束并将照明光束出射至待测物且接收来自待测物的反射光束，其中，多孔盘包括具有若干条阿基米德螺线的螺线区域，螺线区域包括至少三组通光孔阵列；成像模块配置为接收来自待测物的反射光束以进行成像。由此，该多孔盘能够根据待测物表面反射率的不同在一个旋转周内多次成像，光学测量系统及基于光学测量系统的成像方法能够对成像的多幅不同曝光范围的图像进行多帧融合以获得更大的动态范围。
基于多次成像光学测量系统方法

[发明专利]一种直线位移测量装置-CN201910349564.9有效
发明人：王子忠;王晗;张平 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2019-04-28 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种直线位移测量装置，包括光产生部、成像部和数据处理部，光产生部用于向成像部发出线结构光，成像部用于接收线结构光而对线结构光成像，数据处理部用于根据在光产生部和成像部之间发生位移前后成像部所成的线结构光图像计算出光产生部和成像部之间的位移量本发明直线位移测量装置通过对线结构光成像，根据发生位移前后的线结构图像变化而测量位移，能保证测量精度，与现有技术相比能够避免光栅尺线纹刻蚀工艺复杂、生产条件苛刻、制作成本比较高的缺点，也避免了磁栅尺对现场磁信号抗干扰能力比较差的缺点
一种直线位移测量装置

[发明专利]基于对称光学成像的桥梁挠度、相对位移和相对转角测量传感器及方法-CN202310623777.2在审
发明人：彭仁亮;李平;张雁冰;吴学勤;冯红梅;李小恒;吴贵兴;曾显波 -专利权人：西安裕鹏交通科技有限公司;深圳神鹏交通科技有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于对称光学成像的桥梁挠度、相对位移和相对转角测量传感器及方法。基于对称光学成像的桥梁挠度测量传感器，包括对称光学成像组件和对称定向光源，对称光学成像组件的左光学成像组件对左侧的物体成像、右光学成像组件对右侧的物体成像；对称定向光源的左定向发光光源向左发射定向光束、基于对称光学成像的桥梁相对位移和相对转角测量传感器包括设置在测站点A和B的第一传感器和第二传感器，第一传感器的右光学成像组件对第二传感器的左定向发光光源成像，第二传感器的左光学成像组件对第一传感器的右定向发光光源成像，实现测站点A和B的相对位移和相对转角测量。
基于对称光学成像桥梁挠度相对位移转角测量传感器方法

[发明专利]一种三轴运动平台的高精度控制方法-CN201610194588.8有效
发明人：罗延廷 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2016-03-31 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01C3/10 文献下载
摘要：本案为一种三轴运动平台的高精度控制方法，包括：步骤1)发射激光控制发出三条激光束，三条激光束包括第一激光束，第二激光束，第三激光束；步骤2)第一激光束在被测物体表面上的第一测量点采用第一CCD成像系统得到第一成像图像，第二激光束在被测物体表面上的第二测量点采用第二CCD成像系统得到第二成像图像，第三激光束在被测物体表面上的第三测量点采用第三CCD成像系统得到第三成像图像；步骤3)根据步骤2)中的三个成像图像，分别计算得到被测物体表面上的第一测量点的距离和角度、第二测量点的距离和角度、第三测量点的距离和角度；步骤4)根据被测物体表面上的第一测量点的距离和角度、第二测量点的距离和角度、第三测量点的距离和角度、材料模型计算得到实际测量点的距离。
一种运动平台高精度控制方法

[发明专利]一种用于成像系统波像差高精度在线测量装置和测量方法-CN202210615885.0在审
发明人：王青蓝;全海洋;胡松;刘俊伯;朱咸昌;王建 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-06-01 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于成像系统波像差高精度在线测量装置和测量方法，该成像系统波像差高精度检测装置包括光源及照明系统、滤波系统、被测成像系统、球透镜、准直系统、波前传感器和可拆卸的滤波系统。结合可以拆卸的滤波系统和随机平均法达到在线标定系统误差的目的，在线检测的方式可以减少整个测量系统调整误差，从波像差相对测量结果中分离出已标定的系统误差，实现成像系统的波前高精度测量。
一种用于成像系统波像差高精度在线测量装置测量方法

[实用新型]一种距离测量装置-CN201220234477.2有效
发明人：张小平;朱良学;宿世春;姚冰;常怀东;曾小年;田伟;法锋;赵洪海;王晶;许泉;张赫;陈建;崔志鹏;张毅涛;骆正友 -专利权人：安徽太一通信科技有限公司
申请日： 2012-05-14 - 公布日： 2012-12-05 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种距离测量装置，被测物体置于距离测量装置前一定距离；使用者位于该距离测量装置相对该被测物体的另一端；该距离测量装置的像高测量器测量该被测物体成像的高度；该距离测量装置的像距测量器测量使用者眼睛到该成像的距离；该距离测量装置的单片机，预设该被测物体的高度；该单片机接收到该成像的高度和该使用者眼睛到该成像的距离，并根据该被测物体的高度计算出该一定距离的具体数值；该装置，体积小、成本低、携带方便。
一种距离测量装置

[发明专利]一种螺纹检测、成像、标识设备-CN202010838972.3在审
发明人：刘兰元;王鹏;潘高峰;王帅;李国峰;李小孟;徐伟;王钦鹏;李龙;孙华兴;张向鑫;王志刚;赵文刚 -专利权人：中车四方车辆有限公司
申请日： 2020-08-19 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种螺纹检测、成像、标识设备，包括：夹持机构，其用于固定待检管路；扫描成像装置，其位于所述待检管路的端部，用于扫描所述待检管路的螺纹；标识涂打装置，其位于所述夹持机构与所述扫描成像装置中间；控制模块，其与所述夹持机构、所述扫描成像装置和所述标识涂打装置均通信连接。本发明技术方案设置的扫描成像装置可以实现加工管螺纹的扫描成型，采用无接触式光电扫描测量，自动检测螺纹是否符合标准尺寸，判定产品是否合格；测量速度快，测量精度高，可在极短时间内获得复杂表面的尺寸，可解决传统螺纹测量环规易磨损，测量速度慢，不能数据化测量尺寸，部分尺寸受结构限制无法测量等缺陷。
一种螺纹检测成像标识设备

[实用新型]一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统-CN202320209316.6有效
发明人：梁田喜 -专利权人：东莞雷云光电技术有限公司
申请日： 2023-02-01 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏；该光学测量系统能够对各种投影仪画质进行光学测量，通过显示器查看数据，并且测量效率高，保证了产品合格率。
一种基于成像投影仪画质测量光学系统