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[发明专利]一种用于多光谱偏振成像的检测阵列结构及成像装置-CN201811552512.3有效
发明人：范晨;何晓峰;胡小平;吴美平;张礼廉;王玉杰;吴雪松 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明实施例涉及偏振成像技术领域，具体公开了一种用于多光谱偏振成像的检测阵列结构及成像装置，该阵列结构包括：光栅阵列元和多光谱成像阵列元，所述光栅阵列元固定于所述多光谱成像阵列元的敏感光层正上方以组成均具有不同的偏振敏感方向的若干偏振检测单元，以测量不同波段入射光的偏振信息。本发明实施例可以测量多种波段入射光的偏振信息，实现不同条件下偏振信息的实时测量，结构简单、测量范围广、适用性强，具有广阔的应用前景。
一种用于光谱偏振成像检测阵列结构装置

[发明专利]三维测量光刻掩模的3D空间像的方法-CN201580045261.8有效
发明人： U.马特卡;C.胡泽曼;J.劳夫;S.佩利茨;H-J.曼 -专利权人：卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请日： 2015-07-21 - 公布日： 2019-06-11 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：一种用于在光刻掩模(5)成像期间三维测量在像平面周围区域中的3D空间像的方法，光刻掩模布置在物平面(4)中，考虑在彼此垂直方向(x，y)中的可选成像比例比。为此，在成像光与光刻掩模(5)相互作用之后重构成像光(1)的电磁波前。包含一对应于成像比例比的作用变量。最后，输出通过包含该作用变量测量的3D空间像。这导致测量方法还可用于测量优化用于在投射曝光期间在变形投射光学单元的情况下使用的光刻掩模。
三维测量光刻空间方法

[发明专利]用于各向异性组织的剪切波表征的超声系统和方法-CN201980088510.X在审
发明人： C·阿马多尔卡拉斯卡尔;F·G·G·M·维尼翁;S·金;谢华 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： A61B8/08 文献下载
摘要：描述了用于剪切波弹性(SWE)成像的超声系统和方法，其可以改善用于各向异性组织的SWE成像的扫描协议。可以采集一个或多个初始测量结果以确定各向异性组织的取向。所述系统从穿过各向异性组织的至少两个垂直相交平面采集剪切波速度和/或硬度测量结果，并报告沿所述垂直相交平面的剪切波速度和/或硬度测量结果和/或基于在不同图像平面处获得的多个个体剪切波速度和/或硬度测量结果的复合测量结果可以通过提供改进的图形用户接口的方式提供引导来实现对SWE成像协议的改进，以帮助超声医师在合适的成像平面处采集测量结果，以便更准确地表征各向异性组织。SWE成像协议可以是自动或半自动协议。
用于各向异性组织剪切表征超声系统方法

[发明专利]建筑物裂缝检测方法及系统-CN200810017746.8有效
发明人：姚胜利;贺正权;郝宪武;李宝奇;杨向辉;赵燕;刘阳 -专利权人：飞秒光电科技（西安）有限公司
申请日： 2008-03-18 - 公布日： 2008-08-27 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种建筑物裂缝检测方法及系统，采用了两台放大倍数不同的成像装置对被测面进行观测，本发明系统使用时，将两个成像装置对准被测目标，由于工作距离为一固定距离，前后调整系统支撑附件，通过光学镜头将目标成像到测量软件，在测量软件界面上进行同步观测；其中放大倍数较小的成像装置进行大范围的观测，选择表面有缺陷的区域，然后采用放大倍数较大的成像装置进行细节观测，最后通过标定的比例尺直接对所成的像在测量软件界面进行测量读数本发明解决了现有裂缝检测手段无法进行有效测量的技术问题，具有观测速度快、检测方便、测量精确度高的优点。
建筑物裂缝检测方法系统

[发明专利]成像器半导体器件、摄像机系统和用于建立图像的方法-CN200810004930.9有效
发明人： A·维尔茨－韦塞尔;M·洛雷 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2008-01-29 - 公布日： 2008-10-08 - 主分类号： H01L27/14 文献下载
摘要：本发明涉及成像器半导体器件、摄像机系统和用于建立图像的方法，该成像器半导体器件(6)用于汽车的摄像机系统(4)，它包括：成像器像素(Bij)的二维的、集成的布置，用于接收视觉的或者红外射线(IR)并且输出图像信号本发明规定，在该成像器半导体器件(6)上集成用于通过视觉的或者红外射线(IR)的传播时间测量的距离确定的测量单元(Pkl)、尤其是PMD单元。由此，实现单目的摄像机系统(4)以及其应用的方法，其中，发射用于传播时间测量的被调制的红外射线(IR)，并且从由成像器像素(Bij)输出的图像信号(bij)和由测量单元(Pkl)输出测量单元信号(pkl)建立具有图像和深度显示的复合的图像，它包含测量单元(Pkl)的距离信息。
成像半导体器件摄像机系统用于建立图像方法

[发明专利]一种基于压缩感知技术的扩频穿墙雷达成像方法-CN201610300599.X有效
发明人：蒲玉蓉;张学辉;张金生;席晓莉 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2016-05-09 - 公布日： 2019-03-26 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于压缩感知技术的扩频穿墙雷达成像方法，采用指数平均背景消去法去除直达波和墙杂波后，通过随机测量矩阵获得测量信号，然后联合已设置好的字典和测量矩阵构建多测量向量MMV的压缩感知模型，最后通过正交匹配追踪OMP法将墙后目标成像信息从含少量测量值的测量向量中重建出来，最后根据墙后的目标信息完成穿墙雷达成像，和传统的合成孔径雷达成像方法相比，该技术可以大大的降低观测点数量和数据存储量以及很大程度上的缩减记录时间，本发明解决了现有技术中存在的扩频穿墙雷达SAR成像方法所需的观测天线数量极多、数据存储空间大、数据记录时间长的问题。
一种基于压缩感知技术穿墙雷达成像方法

[发明专利]红外热成像测量数据分析结合补偿温度校准方法-CN202010505350.9在审
发明人：赖志强;伊志强 -专利权人：威图视觉系统（深圳）有限公司
申请日： 2020-06-05 - 公布日： 2020-10-13 - 主分类号： G01J5/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种红外热成像测量数据分析结合补偿温度校准方法，红外热成像相机机身温度的传感数据经过无线数据接口或USB数据接口实时发送至热红外成像温度测量系统作为补偿精度漂移参考数据，RTD温度检测模块控制加热致冷供电电路工作，辅助红外热成像相机快速达到理想工作温度，而且，促进过高工作温度的红外热成像相机进行降温，通过导体加热致冷供电电路实现红外热成像系统设备的自动降温功能，以主动降温方式为热红外成像温度测量系统提供较好地工作环境获得温度稳定性，实现高精度测量达到±0.3摄氏度和高稳定度±0.3度；结合无线数据接口和USB数据接口，实现与红外热成像人体测温系统的实时通讯和温度数据读取用于系统自动校准。
红外成像测量数据分析结合补偿温度校准方法

[发明专利]光学镜片非球面的表面形状误差测试装置及方法-CN200510081629.4有效
发明人：杨泽声 -专利权人：麦克奥迪实业集团有限公司
申请日： 2005-06-23 - 公布日： 2006-12-27 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：光学镜片非球面的表面形状误差测试装置及方法，涉及一种光学镜片和测量显微镜，提供一种通过光学成像设备对工件正投影轮廓成像，通过光电耦合装置获得工件的正投影轮廓图像的图片，通过数学建模的手段来获得工件的表面曲线形状设有用于对工件正投影轮廓成像的光学成像装置，被测量工件安装于光学成像装置的工件安装基座上；光电成像设备固定在光学成像装置上；PC机的图像数据输入端口通过接口接光电成像设备的图像数据输出端口；用于获得工件表面曲线形状以及表面形状与设计曲线偏差的数学模型的测量软件数据库，测量软件数据库PC机连接。
光学镜片球面表面形状误差测试装置方法

[发明专利]对于测量光刻掩模确定成像光学单元的成像像差贡献的方法-CN201910135916.0有效
发明人： M.科赫;D.黑尔韦格;R.卡佩利;M.迪茨尔 -专利权人：卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请日： 2019-02-21 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：对于测量光刻掩模确定成像光学单元的成像像差贡献包含：首先焦点相关地测量成像光学单元的3D空间像，按照通过成像光学单元对物体成像的像面的区域中以及与该像面平行的不同测量平面中的2D强度分布的序列。然后由具有散斑图案的测量的2D强度分布的傅里叶变换来确定3D空间像的散斑图案的频谱。对于频域中的多个频谱分量，然后确定所述频谱分量的实部RS(z)和虚部IS(z)的焦点相关性。从实部RS(z)和虚部IS(z)的焦点相关性的确定值，由掩模结构对散斑图案频谱做出的贡献(该贡献将被消除)然后从由成像光学单元对散斑图案频谱做出的成像像差贡献分离出。然后表示成像像差贡献。
对于测量光刻确定成像光学单元贡献方法

[发明专利]视觉扫描线性变密度条纹尺的大量程位移测量装置及方法-CN202210178715.0有效
发明人：钟剑锋;钟嘉杰;钟舜聪;池守疆;梁伟 -专利权人：福州大学
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2023-02-21 - 主分类号： B23Q17/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种视觉扫描线性变密度条纹尺的大量程位移测量装置及方法，该装置包括：线性变密度条纹尺，用以测量滑轨位移信息；成像模块，安装固定于滑轨上，用以对条纹尺上的线性变密度条纹进行连续成像及数据采集，并将采集信息传输至处理模块中；位移滑动平台，用以驱动滑轨带动成像模块做直线运动，以使成像模块对线性变密度条纹进行线性成像；处理模块，用以对成像模块进行控制，并对成像条纹信息进行实时处理，根据成像条纹的密度变化规律，得到条纹密度信号频率变化曲线该装置及方法有利于提高测量效率和测量精度，且装置简单，实现成本低。
视觉扫描线性密度条纹量程位移测量装置方法

[发明专利]虚像参数获取方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211360969.0在审
发明人：张涛;冯学贵 -专利权人：江苏泽景汽车电子股份有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本公开涉及虚像测量技术领域，具体提供一种HUD虚像参数获取方法、虚像参数获取装置、电子设备及存储介质，虚像参数获取方法包括：在成像模组位于测量位置时，在实际测量角度状态下获取虚像在成像模组中成的图像；根据第一测量模组获取成像模组的第一角度误差；其中，第一角度误差用于指示实际测量角度与预设测量角度之间的角度误差；根据图像与第一角度误差获取修正虚像参数；其中，修正虚像参数为成像模组通过预设测量角度获取的虚像参数。本公开通过提供一种虚像参数获取方法，解决了因误差引起的测量精度不高的问题。
虚像参数获取方法装置电子设备存储介质

[发明专利]基于横向剪切干涉结构的成像系统像差的测量方法-CN201210337416.3有效
发明人：戴凤钊;唐锋;王向朝;张敏 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-09-13 - 公布日： 2013-01-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种基于横向剪切干涉结构的成像系统像差的测量方法，测量系统包括光源、针孔掩模、剪切光栅、双窗口掩模、光电探测器和计算机，测量时将待测成像系统置于所述的针孔掩模和剪切光栅之间，测量步骤如下：①获取x方向和y方向的横向剪切干涉图；②获取x方向和y方向的差分波前；③利用模式法重建波前，获取区域法重建的初始值；④利用区域法重建波前，获得待测成像系统像差。本发明在不增加测量次数的基础上实现了高空间分辨率的成像系统像差的横向剪切法测量，并且测量精度对剪切量的变化不敏感，即波前测量误差不随剪切量的增大而明显增大。
基于横向剪切干涉结构成像系统测量方法

[发明专利]一种高光谱成像显微大数据测量系统及方法-CN202011210737.8在审
发明人：乔铁;高瑞 -专利权人：广州大秦光镊科学仪器科技有限公司
申请日： 2020-11-03 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种高光谱成像显微大数据测量系统，包括显微镜组件，显微镜组件包括显微镜模块、测量显微模块和高光谱成像模块，显微镜模块设置有测量目镜和高光谱目镜，测量显微模块与测量目镜连接，高光谱成像模块与高光谱目镜连接；还包括数据处理模块，数据处理模块与显微镜组件电连接，以对测量显微模块测量分析得到的数据信息和高光谱成像模块处理得到的高光谱图像进行数据处理，建立高光谱图像测量大数据库；还包括显示器，显示器分别与显微镜组件和数据处理模块电连接，以将显微镜组件获取的标本的图像和测量分析信息，及数据处理模块处理后的图像和信息进行显示。本发明还公开一种基于上述一种高光谱成像显微大数据测量系统的测量方法。
一种光谱成像显微数据测量系统方法

[发明专利]用于测量半导体参数的设备、技术和目标设计-CN201811326714.6有效
发明人： N·沙皮恩;A·V·舒杰葛洛夫;S·潘戴夫 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G01N21/93 文献下载
摘要：本揭露涉及用于测量半导体参数的设备、技术和目标设计。在一个实施例中，揭示了用于确定目标的参数的设备及方法。提供了一种具有成像结构及散射测量结构的目标。利用计量工具的成像通道获得所述成像结构的图像。还利用所述计量工具的散射测量通道从所述散射测量结构获得散射测量信号。基于所述图像及所述散射测量信号两者确定所述目标的至少一个参数，例如叠对误差。
用于测量半导体参数设备技术目标设计

[发明专利]一种电导率成像的测量系统及其信息获取方法-CN201710969907.2在审
发明人：陈瑞娟;戚昊峰;王金海;王慧泉;冯彦博 -专利权人：天津工业大学
申请日： 2017-10-17 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： A61B5/053 文献下载
摘要：本发明公开了一种电导率成像的测量系统及其信息获取方法，系统包括：第一对激励电极和第二对激励电极的连线呈垂直状态固定在成像体上，由双刀双掷开关控制两对激励电极的接通状态，由激励电极将激励源发出的激励信号引入成像体；测量线圈在成像体外移动，进行一维或二维的扫描；测量装置通过测量线圈采集到的成像体外部多组磁感应强度分布曲线，传输至处理器，处理器对采集到的磁感应强度分布和激励电流大小，重建出成像体的电导率分布图像。方法包括：通过双刀双掷开关控制激励电极的接通状态，判断测量线圈的移动距离是否完全覆盖整个被测物体周围一定距离的包络面上，如果是，测量装置将采集到的多组激励电流分布下的磁感应强度分布，通过这些测量信息初步重建成像体的电导率分布图像
成像体激励电极磁感应测量电导率分布图像双刀双掷开关电导率测量系统测量装置激励电流接通状态强度分布信息获取采集处理器成像强度分布曲线电导率图像被测物体垂直状态高分辨率激励信号激励源重建包络二维连线扫描图像传输外部引入移动