专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体装置-CN201510086468.1在审
  • 奥村秀树 - 株式会社东芝
  • 2015-02-17 - 2016-03-30 - H01L29/78
  • 本发明提供高耐压、低导通电阻的半导体装置。半导体装置具备:第一导电型的第一半导体;第一电极,在第一半导体上;第二电极及第三电极,沿着从第一电极朝向第一半导体的第一方向延伸,具有位于第一半导体中的第一端和与第一电极相接的第二端;第二导电型的第二半导体,在第二电极与第三电极之间设置在第一半导体上;第二导电型的第三半导体,在第一半导体与第二电极之间以及第一半导体与第三电极之间;第一绝缘膜,在第二电极及第三电极与第三半导体之间;第一导电型的第四半导体,在第二半导体上,与第一电极电连接;第四电极,穿过第四半导体在第一半导体中延伸,与第四、第二半导体及第一半导体之间隔有第二绝缘膜。
  • 半导体装置
  • [发明专利]半导体激光器及其制造方法-CN201110034657.6有效
  • 洪梓健;徐智鹏;沈佳辉 - 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司
  • 2011-02-10 - 2012-08-15 - H01S5/323
  • 本发明涉及一种半导体激光器,其包括N型半导体、P型半导体以及设置在该N型半导体与该P型半导体之间的活性。该N型半导体具有一个远离该活性的第一表面。该P型半导体具有一个远离该活性的第二表面。该半导体激光器包括位于该第一表面与该第二表面之间的两个相对的侧面。该N型半导体与该P型半导体均为六方晶系半导体。该半导体激光器的两个侧面上形成有两个四方晶系半导体。每一四方晶系半导体具有远离与之对应的侧面的一个外表面,该两个四方晶系半导体的两个外表面相互平行,以构成该半导体激光器的谐振腔的两端面。本发明还涉及一种半导体发激光器的制作方法。
  • 半导体激光器及其制造方法
  • [发明专利]一种可提高PN结反向击穿电压的装置-CN201110448439.7有效
  • 秦明;张睿 - 东南大学
  • 2011-12-29 - 2012-05-16 - H01L29/06
  • 本发明公开了一种可提高PN结反向击穿电压的装置包括第一高阻半导体、低阻半导体、第二低阻半导体和第一绝缘抗反射涂层及第二绝缘抗反射涂层;第二低阻半导体层位于第一绝缘抗反射涂层的内侧面,低阻半导体层位于第二低阻半导体的另一侧面正下方;第二低阻半导体与低阻半导体形成主PN结,第二低阻半导体与第一高阻半导体形成辅PN结;第一高阻半导体的掺杂浓度小于低阻半导体的掺杂浓度;第二低阻半导体与低阻半导体的接触面积小于第一绝缘抗反射涂层与第二低阻半导体的接触面积;第二低阻半导体的深度小于低阻半导体的深度。
  • 一种提高pn反向击穿电压装置
  • [实用新型]一种可提高PN结反向击穿电压的装置-CN201120559840.3有效
  • 秦明;张睿 - 东南大学
  • 2011-12-29 - 2012-09-12 - H01L29/06
  • 本实用新型公开了一种可提高PN结反向击穿电压的装置包括第一低阻半导体、高阻半导体、第二低阻半导体和第一绝缘抗反射涂层及第二绝缘抗反射涂层;第二低阻半导体层位于第一绝缘抗反射涂层的内侧面,高阻半导体层位于第二低阻半导体的另一侧面正下方;第二低阻半导体与高阻半导体形成主PN结,第二低阻半导体与第一低阻半导体形成辅PN结;第一低阻半导体的掺杂浓度小于高阻半导体的掺杂浓度;第二低阻半导体与高阻半导体的接触面积小于第一绝缘抗反射涂层与第二低阻半导体的接触面积;第二低阻半导体的深度小于高阻半导体的深度。
  • 一种提高pn反向击穿电压装置
  • [发明专利]单片LED阵列及其前体-CN201980044914.9在审
  • 安德烈亚·皮诺斯;萨米尔·迈祖阿里 - 普列斯半导体有限公司
  • 2019-07-04 - 2021-03-09 - H01L27/15
  • 本发明提供了一种单片LED阵列前体,包括:共享第一半导体的多个LED结构,其中,第一半导体限定LED阵列前体的平面,每个LED结构包括:(i)第一半导体上的第二半导体,该第二半导体具有与LED阵列前体的平面平行的上表面部分,该第二半导体具有与上表面部分垂直的规则梯形截面,使得第二半导体具有倾斜侧面;(ii)第二半导体上的第三半导体,该第三半导体具有与LED阵列前体的平面平行的上表面部分,该第三半导体具有与上表面部分垂直的规则梯形截面,使得第三半导体具有与第二半导体的倾斜侧面平行的倾斜侧面;(iii)第三半导体上的第四半导体,该第四半导体具有与LED阵列前体的平面平行的上表面部分,该第四半导体具有与上表面部分垂直的规则梯形截面,使得第四半导体具有与第三半导体的倾斜侧面平行的倾斜侧面;以及(iv)第四半导体上的主电触点,其中,触点仅在第四半导体的与LED阵列前体的平面平行的上表面部分上,其中,第三半导体包括多个量子阱子,该量子阱子的与LED阵列前体的平面平行的部分具有更大的厚度,与LED阵列前体的平面不平行的部分具有减小的厚度。
  • 单片led阵列及其
  • [发明专利]存储装置及其制造方法-CN201510213839.8有效
  • 吕函庭;陈威臣 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2015-04-30 - 2019-02-01 - H01L27/02
  • 区块包括多个,这些包括多个半导体条,这些半导体条自一半导体接触垫延伸。设置这些以使得半导体条形成多个半导体条叠以及多个半导体接触垫的一半导体接触垫叠。并且,多个选择栅极结构设置于半导体条叠上,且位于半导体条上的半导体接触垫和存储单元之间。再者,这些选择栅极结构中的不同者将半导体条叠中的不同的半导体条耦合在这些中的半导体接触垫上。更进一步,一辅助栅极结构设置在半导体条叠之上,且位于选择栅极结构和半导体接触垫叠之间。
  • 存储装置及其制造方法
  • [发明专利]具有层压半导体装置和设备-CN201810274644.8有效
  • 小林昌弘 - 佳能株式会社
  • 2018-03-30 - 2023-07-25 - H01L27/146
  • 公开了具有层压半导体装置和设备。一种半导体装置,包括:半导体基板,其中设有多个半导体元件;第一半导体,被重叠在半导体基板上并且其中设有多个光电转换元件;第二半导体,被布置在半导体基板与第一半导体之间;第一配线结构,被布置在第一半导体与第二半导体之间;第二配线结构,被布置在第二半导体半导体基板之间;以及第三配线结构,被布置在第二配线结构与半导体基板之间,多个贯通电极的宽度彼此不同。
  • 具有层压半导体装置设备
  • [发明专利]半导体器件结构及其形成方法-CN202210853679.3在审
  • 林育如;陈书涵;陈俊纮;徐志安 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-07-11 - 2023-03-24 - H01L29/06
  • 用于形成半导体器件结构的方法包括:形成堆叠在衬底上方的交替的第一半导体和第二半导体。方法也包括:蚀刻第一半导体和第二半导体以形成鳍结构。方法也包括:氧化第一半导体以形成第一半导体的第一氧化部分;以及氧化第二半导体以形成第二半导体的第二氧化部分。方法也包括:去除第二半导体的侧壁上方的氧化物。在去除第二氧化部分之后,第二半导体的上层窄于第二半导体的下层。方法也包括:去除第一半导体以在第二半导体之间形成栅极开口。方法也包括:在栅极开口中形成栅极结构。本申请的实施例还涉及半导体器件结构。
  • 半导体器件结构及其形成方法
  • [发明专利]雪崩光电二极管-CN201780060588.1有效
  • 泷本贵博;夏秋和弘;內田雅代 - 夏普株式会社
  • 2017-06-12 - 2022-07-05 - H01L31/107
  • 雪崩光电二极管包括:第一导电型半导体(2),形成于第一导电型的半导体基板(1)内;第一第二导电型半导体(3),在俯视基板时以隔开间隔包围第一导电型半导体(2)的方式形成;第二第二导电型半导体(5),以与第一导电型半导体(2)的底部相接的方式形成在比第一导电型半导体(2)深的位置;以及第三第二导电型半导体(6),以与第二第二导电型半导体(5)的底部相接的方式形成在比第二第二导电型半导体由第一导电型半导体(2)与第二第二导电型半导体(5)形成雪崩结。以使半导体基板(1)与第一导电型半导体(2)电气分离的方式将第一、第三第二导电型半导体(3、6)连接。
  • 雪崩光电二极管
  • [发明专利]半导体装置及半导体存储装置-CN202111490565.9在审
  • 高坂崇雄;堀井秀人;德平弘毅;松泽一也;河合宏树 - 铠侠股份有限公司
  • 2021-12-08 - 2023-05-16 - H10B12/00
  • 本发明涉及一种半导体装置及半导体存储装置。半导体装置具备:第1导电半导体,在第1方向贯通第1导电而设置,且包含氧化物半导体;第1绝缘,在与第1方向交叉的第2方向上设置在第1导电半导体之间;第2导电,在第1方向上设置在半导体的一侧,且电连接于半导体;第3导电,在第1方向上设置在半导体的另一侧,且电连接于半导体;电导体,在第1方向上从第3导电朝向第2导电延伸,且在第2方向上与半导体重叠;以及电荷储存膜,在第2方向上设置在半导体与电导体之间
  • 半导体装置存储
  • [发明专利]半导体装置-CN201680084787.1有效
  • 西井昭人 - 三菱电机株式会社
  • 2016-04-25 - 2023-04-18 - H01L29/861
  • 目的在于提供能够对恢复动作时的第一P型半导体的电场集中进行抑制的技术。半导体装置具有漂移、N型半导体以及第一P型半导体、第二P型半导体、电极、以及绝缘。N型半导体以及第一P型半导体以彼此横向相邻的状态配置于漂移的下方。绝缘以与第二P型半导体以及电极接触的状态配置于第一P型半导体的上方。
  • 半导体装置
  • [发明专利]半导体装置-CN201510013137.5在审
  • 矶部康裕;杉山直治 - 株式会社东芝
  • 2015-01-12 - 2016-02-03 - H01L33/32
  • 根据本发明的一种实施方式,半导体装置具有第一氮化物半导体、本征氮化物半导体、以及具有Al的第二氮化物半导体。所述本征氮化物半导体设置于所述第一氮化物半导体的第一侧。所述第二氮化物半导体设置于所述本征氮化物半导体的与所述第一氮化物半导体相对的一侧。所述第一氮化物半导体在所述第一氮化物半导体、所述本征氮化物半导体以及所述第二氮化物半导体层层叠的方向上具有第一浓度和低于所述第一浓度的第二浓度重复出现的碳分布。
  • 半导体装置

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