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- [发明专利]一种晶体管集成的方法-CN201610801249.1在审
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吴立枢;程伟
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中国电子科技集团公司第五十五研究所
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2016-09-05
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2017-02-15
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H01L27/02
- 本发明是一种磷化铟异质结双极型晶体管与硅金属氧化物半导体场效应晶体管集成的方法,包括以下步骤(1)盐酸清洗磷化铟异质结双极型晶体管圆片和临时载片;(2)通过临时粘接材料键合;(3)将磷化铟衬底去除;(4)将硅金属氧化物半导体场效应晶体管圆片与磷化铟异质结双极型晶体管圆片通过BCB对准键合;(5)去除临时载片和临时粘接材料;(6)在集成的圆片上旋涂光刻胶光刻出刻蚀图形;(7)以光刻胶为掩膜刻蚀出BCB通孔优点利用外延层剥离转移的方法来实现磷化铟异质结双极型晶体管与硅金属氧化物半导体场效应晶体管在同一圆片上的集成,打破了半导体材料的固有限制,同时提高了集成度。
- 一种晶体管集成方法
- [发明专利]锑化铟芯片的制备方法-CN202011383350.2在审
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郑律;马可军;俞振中;门楠;陈占胜
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浙江森尼克半导体有限公司
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2020-12-01
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2021-04-06
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H01L31/18
- 本申请公开了一种锑化铟芯片的制备方法,该制备方法包括:制备一个第一预设厚度的n型锑化铟单晶晶圆;对所述锑化铟单晶晶圆的正面进行化学腐蚀以除去第二预设厚度的损伤层;对所述锑化铟单晶晶圆的正面进行半导体掺杂以使所述锑化铟单晶晶圆具有一个第一预设深度的p型层;对所述锑化铟单晶晶圆的p型层进行光刻以形成芯片图形;对所述锑化铟单晶晶圆的p型层进行蒸镀以形成芯片电极;用填充物填充至所述锑化铟单晶晶圆的正面并将所述锑化铟单晶晶圆反贴至一个基片;对所述锑化铟单晶晶圆的反面进行减薄至预设位置本申请的有益之处在于提供了一种能有效克服分凝系数以及加工误差带来的良率问题的锑化铟芯片的制备方法。
- 锑化铟芯片制备方法
- [发明专利]磷化铟扩散方法-CN201710401346.6有效
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于浩;张宇;陈宏泰;车相辉;王晶
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中国电子科技集团公司第十三研究所
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2017-05-31
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2019-04-09
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H01L31/107
- 本发明公开了一种磷化铟扩散方法,涉及半导体器件的制作方法技术领域。所述方法包括如下步骤:将磷化铟待扩散圆片放入MOCVD设备中,调节MOCVD的反应室总气体流量至所需值,氮气气氛转换为氢气气氛后升温,进行表面保护,继续升温并恒温保持一段时间;通入二甲基锌流量调节至所需值,控制MOCVD设备的温度进行线性下降,进行锌扩散;温度降至430℃‑470℃以下时切断保护气体,在氢气气氛下降温至室温,氢气气氛转换为氮气后取出所述圆片。所述方法可以精确控制不同扩散深度的扩散浓度,达到圆片表面2e18高空穴浓度,圆片内部5e17低空穴浓度,扩散均一性稳定,适用于大批量生产。
- 磷化扩散方法
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