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[发明专利]改变金属表面的方法-CN201610697725.X有效
发明人： L.C.迪亚尔;W.T.卡特;M.F.X.小吉利奥蒂 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2016-08-22 - 公布日： 2019-11-15 - 主分类号： C23C30/00 文献下载
摘要：在该材料去除后，表面(204)的粗糙度从相对高的初始粗糙度值减小至相对低的加工粗糙度值。在一些实施方案中，所述加工粗糙度小于初始粗糙度的约95%。此外，本文所述的步骤序列可重复一次或多次以实现基材(101)表面粗糙度的进一步减小。
粗糙度基材减小铝化表面粗糙度步骤序列材料去除加工表面可重复富集去除加工

[发明专利]一种用于光学表面粗糙度标定的参考平面生成装置-CN201210061598.6无效
发明人：王君林;王绍治;刘建;马占龙;张玲花 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2012-03-09 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：一种用于光学表面粗糙度标定的参考平面生成装置，属于光学检测技术领域，本发明为提供一种表面粗糙度极低，表面均匀性极好的用于光学表面粗糙度标定的参考平面生成装置，该装置包括液态水银、容器外壁、容器口、阻尼结构和密封盖；所述阻尼结构位于容器外壁内部下方；所述阻尼元件是排列的立柱或栅格板；所述容器口大小与光学粗糙度检测镜头的口径相同；所述密封盖与容器口是螺纹连接且密闭，该装置实现了参考平面表面粗糙度极低，表面均匀性极好，无瑕疵和缺陷，可以很好的应用于光学表面粗糙度标定。
一种用于光学表面粗糙标定参考平面生成装置

[实用新型]一种粗糙度检测仪放置装置-CN202122314599.4有效
发明人：王念生;康宗银 -专利权人：济南鑫元素工贸有限公司
申请日： 2021-09-24 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01B21/30 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种粗糙度检测仪放置装置，包括底板，底板上设置有立杆，立杆上设置有滑动套，滑动套底部设置有支撑杆，支撑杆上设置有框架，框架内设置粗糙度检测仪，底板一侧设置有旋转机构，旋转机构设置在粗糙度检测仪一侧本实用新型的有益效果为：本实用新型将粗糙度检测仪放置在框架内，能保证粗糙度检测仪本身的稳定性，并且能保证粗糙度检测仪一直处于水平状态，提高了测量的精准度。
一种粗糙检测放置装置

[发明专利]一种微晶玻璃陶瓷磨削表面粗糙度的确定方法-CN201510853463.7在审
发明人：马廉洁;顾立晨;巩亚东;王华 -专利权人：东北大学
申请日： 2015-11-26 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种微晶玻璃陶瓷磨削表面粗糙度的确定方法，包括以下步骤：(1)获取最大未变形切屑厚度；(2)获取延性—延脆性临界深度和延脆性—脆性临界深度；(3)获取复合磨削因子；(4)获取经验常数，脆性断裂系数，延-脆性断裂系数，经验常数x,脆性断裂因子和延-脆性断裂因子；(5)依据步骤(1)～(4)中参数确定表面粗糙度。本发明提供了一种微晶玻璃陶瓷磨削表面粗糙度的确定方法，确立了表面粗糙度相关的系数，建立了微晶玻璃陶瓷最大未变形切屑厚度与表面粗糙度的数学模型，确立微晶玻璃陶瓷磨削条件参数对磨削加工表面粗糙度的影响关系，适用于解释微晶玻璃陶瓷磨削加工表面粗糙度的成形机理。
一种玻璃陶瓷磨削表面粗糙确定方法

[发明专利]一种预测摩擦副表面在织构化后的润滑性能的方法-CN201811381983.2在审
发明人：尹必峰;周惠琴;徐波;贾和坤;张新;徐毅;程用科;解玄 -专利权人：江苏大学;常柴股份有限公司
申请日： 2018-11-20 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：一种预测摩擦副表面在织构化后的润滑性能的方法，包括：(Ⅰ)对织构化前的摩擦副的上表面和下表面的实际轮廓进行测量，获得上表面二维表面轮廓曲线组和下表面二维表面轮廓曲线组，并生成上表面粗糙度高度矩阵组和下表面粗糙度高度矩阵组；(Ⅱ)生成上表面粗糙度概率密度函数F(H)和下表面粗糙度概率密度函数f(h)；(Ⅲ)根据上表面粗糙度概率密度函数F(H)和下表面粗糙度概率密度函数f(h)计算实际油膜厚度ht；(Ⅳ)根据实际油膜厚度ht此外，还提供了包括该方法的摩擦副粗糙度分布特征参数与织构参数匹配的数据库的建立方法。
粗糙度上表面下表面概率密度函数润滑性能织构化摩擦副表面二维表面轮廓曲线矩阵组油膜预测摩擦分布特征参数参数匹配实际轮廓织构数据库测量

[发明专利]一种材料表面粗糙度的检测装置及其检测方法-CN202110989662.6在审
发明人：吴鹏;高杨 -专利权人：南京市蓝业科技有限公司
申请日： 2021-08-26 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01B7/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种材料表面粗糙度的检测装置及其检测方法，属于自动化技术领域。包括第一移动机构和夹持机构，其中第一移动机构上设有检测组件和电路组，检测组件采用线性方式检测材料表面的粗糙度，夹持机构对材料进行定位，同时旋转材料的方向，使得检测组件对材料进行多个方向上的粗糙度的检测，最终判断材料的粗糙度。本发明的检测材料表面粗糙度的装置，将电子器件的原材料的表面粗糙度转化为电信号，间接进行检测；在实际检测过程中进行，对材料进行线性区域划分，同时从不同方位进行此类周期性的划分并检测，对应材料件的表面模型数据，在计算机上以图形的方式模拟出材料的表面粗糙度。
一种材料表面粗糙检测装置及其方法

[发明专利]基于空间频率域的岩石裂隙粗糙度建模方法及装置-CN202210085175.1在审
发明人：杜雪明;梁佳森;方宏远;石明生;王念念;杜明瑞;赵小华;薛冰寒 -专利权人：郑州大学
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于空间频率域的岩石裂隙粗糙度建模方法及装置。：步骤S1、设定空间频率分辨率及光谱指数；步骤S2、通过光谱指数以及预设的振幅算法生成振幅；步骤S3、通过预设的相位角生成算法生成相位角；步骤S4、将所述空间频率分辨率、振幅及相位角输入预设的岩石表面粗糙度表征函数，得到待生成的岩石裂隙粗糙度模型的表达式；步骤S5、根据所述岩石裂隙粗糙度模型的表达式执行可视化轮廓生成算法，得到对应的岩石裂隙粗糙度模型的可视化轮廓，通过本发明的方法能够得到具有完全随机粗糙度的表面，进而生成更接近天然岩石的岩石裂隙粗糙度模型。
基于空间频率岩石裂隙粗糙建模方法装置

[发明专利]一种废酸浓缩泵耐腐蚀叶轮加工设备及方法-CN202210733651.6在审
发明人：巢煜;巢国平;毛友才;莫志华 -专利权人：江苏新世界泵业有限公司
申请日： 2022-06-27 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明涉及浓缩泵技术领域，公开了一种废酸浓缩泵用叶轮加工设备及方法，所述的废酸浓缩泵用叶轮加工设备包括：通过构建坐标系，图片摄取结构对叶轮上表面进行拍摄获得图片；控制器对叶轮图片进行分析获得叶轮上表面粗糙度和粗糙度对应的坐标(θ，L，z，R)，其中，θ粗糙度坐标角度，L为粗糙度对应坐标半径，z为粗糙度对应高度，R对应坐标的粗糙度值；控制器判断R是否大于一个预先设置对应的坐标R标，如果是本发明通过图片摄取结构拍摄图片进行粗糙度判定，并根据坐标获得加工类型，提高了加工质量。
一种浓缩腐蚀叶轮加工设备方法

[发明专利]一种基于多特征融合的带钢表面粗糙度检测方法-CN202211527706.4在审
发明人：徐冬;李思仪;牛子璇;邵美琪;何海楠;王晓晨;杨荃 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于多特征融合的带钢表面粗糙度检测方法，包括：获取冷轧带钢的激光散斑图像，构建样本数据集；提取散斑图像的统计特征；构建图像特征提取模型并对构建的图像特征提取模型进行训练，利用训练好的图像特征提取模型提取散斑图像的图像特征；基于统计特征和图像特征提取模型提取的图像特征，得到散斑图像的融合特征，构建多特征数据集；构建带钢表面粗糙度检测模型，并利用多特征数据集对构建的带钢表面粗糙度检测模型进行训练；基于训练好的带钢表面粗糙度检测模型，检测带钢表面粗糙度。本发明可实现对带钢表面粗糙度的在线检测，提高冷轧带钢表面粗糙度的检测精度。
一种基于特征融合带钢表面粗糙检测方法

[发明专利]一种基于特征增强的单分支粗糙度检测方法-CN202310814642.4在审
发明人：张桃红;杨湖广;郭徐徐 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06V10/764 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于特征增强的单分支粗糙度检测方法，包括构建并训练基于特征增强的单分支粗糙度检测模型：获取样品表面粗糙度的训练图像集；基于训练图像集选取不同光源的图像，使用双分支结构提取不同光源的特征信息进行预训练参数学习，并通过交叉混合注意力模块、图卷积通道注意力模块对不同光源的特征信息进行交互和融合；预训练后，选取双分支结构中的单分支网络结构作为单分支粗糙度检测模型，选定多个评价指标对训练后的单分支粗糙度检测模型进行评价，将待检测图像输入到训练好的单分支粗糙度检测模型中得到检测结果。本发明能够在不同光源不同加工参数下对多种金属表面进行准确高效快速的粗糙度检测。
一种基于特征增强分支粗糙检测方法

[发明专利]一种不确定环境下表面粗糙度在线测量方法-CN200910027373.7有效
发明人：张志胜;王长梁;陈自新;戴敏;陈恺 -专利权人：东南大学
申请日： 2009-05-31 - 公布日： 2009-10-21 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明提供一种不确定环境下表面粗糙度在线测量方法，针对实际环境中利用机器视觉进行表面粗糙度测量时环境光的影响，提出了通过建立环境光、表面特征量与表面粗糙度关系模型的方法来计算待测表面粗糙度值。利用本方法，可以显著提高在不同外界环境光条件下对表面粗糙度的测量精度。本发明通过下述技术方案予以实现：首先根据视觉图像利用算术平均偏差法和灰度共生矩阵法得到表面特征量：表面的统计特征和纹理特征，并用光学照度计实时监测环境光的变化情况，在此基础上建立环境光、表面特征量与表面粗糙度关系模型，最后利用模型确定的函数计算表面粗糙度，利用本方法显著提高了在线测量精度。
一种不确定环境表面粗糙在线测量方法

[发明专利]发光元件及其制造方法-CN201410357714.8有效
发明人：邱柏顺;郭得山;杨治政;黄俊儒;李建辉;陈英杰;林资津 -专利权人：晶元光电股份有限公司
申请日： 2014-07-25 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明公开一种发光元件及其制造方法，发光元件包括：基板，包含上表面、下表面及多个侧面；以及半导体叠层，位于该基板的该上表面；其中该多个侧面之一包含：靠近该上表面的一第一区，具有一第一粗糙度；第二区，具有一或多条粗化痕，大致平行于该上表面或该下表面，且该粗化痕或该多条粗化痕的任一具有一第二粗糙度；以及第三区，介于该第一区及该第二区之间或/及该多条粗化痕之间，且具有一第三粗糙度；其中该第一粗糙度不大于第二粗糙度，且该第三粗糙度小于该第一粗糙度
发光元件及其制造方法

[发明专利]湿平整机组以粗糙度为目标的工艺润滑制度控制方法-CN201910940121.7有效
发明人：钱承;李国忠;白振华 -专利权人：江苏九天光电科技有限公司;燕山大学
申请日： 2019-09-30 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： B21B37/00 文献下载
摘要：一种湿平整机组以粗糙度为目标的工艺润滑制度控制方法，其包括以下由计算机执行的步骤：(a)工艺润滑关键参数预设定，其包括预设定和收集工艺润滑参数、令工艺润滑参数初始化、给定目标粗糙度、计算带钢延伸率、计算工艺润滑参数设定下的粗糙度计算值、计算目标函数；(b)工艺润滑动态参数在线调整，其包括测出带钢表面粗糙度、给定平整液流量初值、计算带钢延伸率、计算调整流量与分配系数后的成品板面粗糙度、计算目标函数、输出最平整液流量与分配系数调整量。本发明实现了对双机架湿平整轧制过程的成品带钢表面粗糙度的定量分析与控制，将成品带钢表面粗糙度超差封闭率从3％下降到0.1％以内，给机组带来了良好的经济效益。
平整机组粗糙目标工艺润滑制度控制方法

[发明专利]一种海底界面一维粗糙度谱计算方法-CN202011537690.6有效
发明人：于盛齐;刘保华;于凯本;杨志国;宗乐 -专利权人：国家深海基地管理中心
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G01C7/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种海底界面一维粗糙度谱计算方法，属于水声技术领域。该方法首先对测量的海底界面一维粗糙度去均值，得到相对于平均界面的海底界面起伏；然后进行预白化处理，减小海底界面一维粗糙度的空间相关性；对预白化处理后的海底界面一维粗糙度加能量归一化的Hanning窗处理，减小谱泄露；采用周期图法估计功率谱，得到海底界面一维粗糙度谱；最后，采用幂率谱对计算得到的海底界面一维粗糙度谱进行拟合，计算粗糙度谱的谱指数和谱强度。
一种海底界面粗糙计算方法

[发明专利]一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统-CN202310064539.2有效
发明人：代红林 -专利权人：宜科（天津）电子有限公司
申请日： 2023-02-06 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明提供了一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统，包括：检测物体表面粗糙度机构、处理器和存储有计算机程序的存储器，所述检测物体表面粗糙度机构包括：透镜组件、目标发射器和目标发射器对应的若干个目标接收器，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取目标接收器标识列表；获取目标光斑面积列表；获取目标粗糙度；可知，本发明，接收器生成完整的光斑，对光斑面积进行处理，有利于提高获取待检测物体粗糙度的精准度，同时，在对光斑面积进行处理的过程中，对光斑面积的所处区域进行划分处理，可以判断出待检测物体的粗糙度是否一致，进而可以获取待检测物体粗糙度的变化状态。
一种检测物体表面粗糙数据处理系统