专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于天沟的防溢流过渡装置-CN202211233639.5在审
  • 霍泽瑞;陈豪;康怀振;张曾水;张正洪;张世阳;林文彪;徐晨仪;向加;张志杰 - 中国建筑第八工程局有限公司
  • 2022-10-10 - 2023-01-13 - E04D13/064
  • 本发明公开了一种用于天沟的防溢流过渡装置,采用三段式内附板,在安装于天沟的落水端后,在恶劣天气下天沟的室外流体(雨水)排放时通过对雨水依次进行乱流减速、水流控制消能、水流扩散的物理手段处理,大幅降低雨水内能量,在减少溢流现象出现保证水流平稳进入落水斗的同时还可以减少空空化的情况发生,延长了落水系统材料使用寿命,最大幅度降低溢流及空化空现象对房屋雨水落水系统造成的影响,为建筑工程给排水设备良性运行提供了保障。本发明解决了现有的屋面天沟中的室外水体直接汇入落水斗中,容易造成落水斗和落水管的固定锚栓松动,且室外水体产生的空化空现象降低了落水管和落水斗的使用寿命的问题。
  • 用于天沟溢流过渡装置
  • [发明专利]一种深槽电容的制作方法-CN02118539.5有效
  • 严永松;刘炳良;许书豪;洪圭钧 - 联华电子股份有限公司
  • 2002-04-27 - 2003-11-05 - H01L21/70
  • 本发明先在一半导体衬底表面的深槽底部形成一埋入电极,接着在该衬底及该深槽表面形成一介层并填满以一光致抗剂层。随后进行一曝光暨显影工艺,以去除该深槽内一预定深度的该光致抗剂层,并使残留于该深槽内的该光致抗剂层的顶部略为切齐于该埋入电极顶部。最后去除未被该光致抗剂层覆盖的该介层,并依次进行一氧化工艺以及二多晶硅沉积-化学机械抛光-多晶硅凹入蚀刻工艺,以形成一储存电极。
  • 一种电容制作方法
  • [发明专利]板级封装方法-CN202310137908.6在审
  • 杜玲玲;颜国秋;上官昌平;黄剑;敖伟平 - 上海美维科技有限公司
  • 2023-02-20 - 2023-07-21 - H01L21/768
  • 本发明提供一种板级封装方法,包括步骤:S1:准备基板;S2:使用物理气相沉积工艺于基板表面形成金属种子层与芯片连接;S3:采用狭缝涂布工艺于金属种子层上涂布抗剂层并进行光刻;S4:采用传送式浸浴显影工艺对光刻后的抗剂层进行显影以定义出再布线层图形;S5:采用电镀工艺于图形化的抗剂层上形成金属主体层,金属主体层与金属种子层连接;S6:依图形化的抗剂层对金属种子层进行刻蚀以形成再布线层,以及去除残余的抗剂层;S7:于再布线层上形成阻焊层并植入与再布线层连接的焊球
  • 封装方法
  • [发明专利]像素结构的制作方法-CN200810137834.1有效
  • 杨智钧;黄明远;林汉涂;石志鸿;廖达文;方国龙;蔡佳琪 - 友达光电股份有限公司
  • 2008-07-08 - 2008-12-03 - H01L21/84
  • 首先,于基板上形成栅极,并于基板上形成栅介层以覆盖栅极。接着,于栅介层上形成通道层,并于通道层上形成第二金属层。接着,于第二金属层上形成图案化光致抗剂层,并以图案化光致抗剂层为掩模移除部分的第二金属层,以于栅极两侧的通道层上形成源极与漏极,其中栅极、通道层、源极以及漏极构成薄膜晶体管。之后,于图案化光致抗剂层、栅介层以及薄膜晶体管上形成保护层。移除图案化光致抗剂层,以使图案化光致抗剂层上的保护层一并被移除,而形成图案化保护层,并暴露出漏极。
  • 像素结构制作方法
  • [发明专利]半导体器件的制造方法-CN200810181939.7无效
  • 柳尚旭 - 东部高科股份有限公司
  • 2008-11-28 - 2009-06-24 - H01L21/768
  • 在半导体衬底上方可形成第一层间介膜,并且在第一层间介膜上可形成金属线。在包括金属线的第一层间介膜上方可形成第二层间介膜。在第二层间介膜上可形成光致抗剂图案。光致抗剂图案可包括具有第一组多个开口的高图案密度区,具有第二组多个开口的低图案密度区以及具有第三组多个开口的虚设图案区。使用光致抗剂图案作为掩模,蚀刻第二层间介膜,可以形成导通孔。
  • 半导体器件制造方法

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