专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种集成电路A4955的应用电路-CN201921288173.2有效
  • 王灯照;李刚;梅静栋;张琪 - 无锡威孚高科技集团股份有限公司
  • 2019-08-09 - 2020-02-21 - H02H3/093
  • 本实用新型涉及电路技术领域,具体公开了一种集成电路A4955的应用电路,其中,所述集成电路A4955的应用电路包括:控制器、集成电路A4955和延时控制电路,所述控制器通过所述延时控制电路与所述集成电路A4955连接,所述延时控制电路能够在所述控制器的控制下延长所述集成电路A4955的过电流保护关断时间。本实用新型提供的集成电路A4955的应用电路通过设置延时控制电路集成电路A4955的过电流保护关断时间延长了1~3倍,减小了电路在故障保护状态下的MOS管发热、以及短路冲击电流对临近电路造成的影响,提高了故障保护的可靠性
  • 一种集成电路a4955应用电路
  • [发明专利]一种集成电路封装成品的检测设备-CN202111192129.3有效
  • 朱丽华;曹祥俊 - 深圳台达创新半导体有限公司
  • 2021-10-13 - 2023-10-03 - G01R31/28
  • 本发明公开了集成电路封装成品的检测技术领域的一种集成电路封装成品的检测设备,包括检测台,所述检测台底部设有用于定位集成电路的定位机构;本发明在每次需要对封装后的集成电路进行检测时,先利用定位机构将集成电路缓慢推动至准确的检测位置,并在推动过程中,配合随转机构,随转机构先处于突出状态,弹性支撑集成电路,在集成电路被推动时,随动减少集成电路的磨损,保护集成电路,避免集成电路在自动调节过程中损坏,且在集成电路被推动到位后,随转机构在定位机构作用自动缩回,使得集成电路底部完全与检测台顶部接触,避免集成电路在检测时,被挤压产生弯曲损伤,保护集成电路,使得检测更加准确,全过程自动进行,方便快捷。
  • 一种集成电路封装成品检测设备
  • [实用新型]过热保护电路及电磁炉-CN201921191494.0有效
  • 高博敏;赵礼荣 - 浙江绍兴苏泊尔生活电器有限公司
  • 2019-07-26 - 2020-04-21 - H05B6/06
  • 本实用新型实施例提供一种过热保护电路及电磁炉,该过热保护电路包括:微控制器(10)、加热电路(20)、热敏电阻NTC、热熔断器FU、集成电路插头(30)以及集成电路插座(40),其中所述热敏电阻NTC与所述热熔断器FU均与所述集成电路插头(30)连接;所述微控制器(10)和所述加热电路(20)分别与所述集成电路插座(40)连接,所述集成电路插头(30)与所述集成电路插座(40)插接。本实用新型降简化电路板的布线,提高装配效率。
  • 过热保护电路电磁炉
  • [发明专利]具有镜像电路的堆叠式晶粒的集成电路器件-CN202110191479.1在审
  • M·金;H·刘;C·W·张 - 赛灵思公司
  • 2021-02-19 - 2021-08-24 - H01L25/07
  • 本文描述了集成电路器件及其制造技术。集成电路器件利用以镜像方式制造的两对或更多对堆叠的集成电路晶粒,以降低制造的复杂性,从而降低成本。在一个示例中,提供了一种包括集成电路晶粒堆叠的集成电路器件。集成电路晶粒堆叠包括第一、第二、第三和第四集成电路晶粒。第一集成电路晶粒和第二集成电路晶粒通过它们的有源侧进行耦接,并且包括彼此为镜像的集成电路布置。第三集成电路晶粒和第四集成电路晶粒也通过它们的有源侧进行耦接,并且包括彼此为镜像的集成电路布置。
  • 具有电路堆叠晶粒集成电路器件
  • [实用新型]封装件-CN202221285964.1有效
  • 吕文隆 - 日月光半导体制造股份有限公司
  • 2022-05-25 - 2022-09-20 - G02B6/42
  • 本申请提供了一种封装件,包括:光集成电路,在所述光集成电路的一侧处具有腔;电集成电路,设置在所述腔中并且与所述光集成电路间隔开;再分布结构,设置在所述光集成电路和所述电集成电路下方,其中,所述光集成电路和所述电集成电路的每个均直接电连接至所述再分布结构
  • 封装
  • [实用新型]高密度集成电路构装结构-CN02236563.X无效
  • -
  • 2002-06-06 - 2003-08-20 - H01L23/14
  • 本实用新型涉及一种构装集成电路(PackagingIntegratedCircuit)的结构,特别是一种高密度构装集成电路的结构,本实用新型为在高密度构装集成电路中采用具焊接沾附性的金属作为第一焊接垫的材质,并在作为电路的金属层上形成一高可靠度屏蔽层,以避免构装集成电路发生缺陷,并可增加构装集成电路内的电路积集度(density)与简化制程、增加产品良率及提高集成电路构装的可靠度。
  • 高密度集成电路结构
  • [发明专利]一种集成电路的电镀方法-CN201610369711.5在审
  • 马海艳 - 北京首钢微电子有限公司
  • 2016-05-30 - 2016-10-26 - C25D5/10
  • 本发明涉及集成电路芯片电镀技术领域,尤其涉及一种集成电路的电镀方法,所述方法包括:对集成电路引线框架进行第一次电镀,在所述集成电路引线框架的表面形成第一镀层;对形成有所述第一镀层的所述集成电路引线框架进行分离,获得若干集成电路单元;对所述集成电路单元进行第二次电镀,在所述集成电路单元的表面形成第二镀层。本发明通过对分离集成电路引线框架获得的集成电路单元进行电镀,电镀后形成的第二镀层能够对集成电路单元裸露的管脚截断面进行保护,即便对集成电路单元反复蒸煮筛选仍然不会锈蚀变色,提高了焊接效果。
  • 一种集成电路电镀方法
  • [发明专利]集成电路制造方法-CN201911182217.8在审
  • 林宜弘;陆埼达 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-11-27 - 2021-05-28 - G03F1/36
  • 本发明实施例涉及集成电路制造方法。一种集成电路制造方法,包括有:接收初始集成电路设计布局,所述初始集成电路设计布局包括有m*n个集成电路区,所述集成电路区排列成m列与n行的阵列,且各所述集成电路区内包括有相同的初始集成电路图案;对各所述集成电路区内的所述初始集成电路图案分别进行第一光学近接校正OPC,且所述第一POC共包括有m*n*(l‑1)次反复操作;将所述阵列中设置于同一列的多个所述集成电路区定义为同一组;以及分组进行第二OPC,以获得校正后集成电路设计布局。
  • 集成电路制造方法
  • [发明专利]一种基于种群优化算法的集成电路设计方法-CN202110126619.7有效
  • 谌东东;李迪;杨银堂 - 西安电子科技大学
  • 2021-01-29 - 2023-08-11 - G06F30/398
  • 本发明提供了一种基于种群优化算法的集成电路设计方法,属于集成电路技术领域,包括以下步骤:构建描述集成电路设计参数与性能指标映射关系的神经网络模型;根据集成电路性能指标的需求构建集成电路设计参数的优化策略;根据所述神经网络模型与优化策略,利用种群优化算法迭代优化集成电路的设计参数,完成基于种群优化算法的集成电路设计。本发明针对现有的集成电路研发过于依赖设计人员的经验和效率较低的难题,根据制定的集成电路设计参数优化策略,利用种群优化算法确定与优化集成电路器件尺寸参数,提高集成电路设计效率,能够应用到集成电路的设计和研发中
  • 一种基于种群优化算法集成电路设计方法

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