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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]半导体受光装置-CN201210173417.9无效
发明人：中路雅晴;竹村亮太 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2012-05-21 - 公布日： 2012-11-28 - 主分类号： H01L31/105 文献下载
摘要：本发明的课题是得到一种能够抑制电气以及光学串扰并且即使采用比较廉价的透镜也能够获得高感光灵敏度的半导体受光装置。本发明的解决手段是在Fe-InP半绝缘性基板上(1)上设置彼此电分离的4个受光元件(2a～2d)。在各受光元件(2a～2d)中，Fe-InP半绝缘性基板(1)上依次层叠n型InGaAs导电层(3)、n型InP导电层(4)、进行光电转换的i型InGaAs光吸收层(5)、以及i型InP窗口层(6)。在i型InP窗口层(6)的一部分上设置形成受光部(9)的p型InP杂质扩散区(8)。导电层的一部分由与i型InGaAs光吸收层(5)相同的材料构成。4个受光元件(2a～2d)的受光部(9)的全部不配置在同一直线上。
半导体装置

[发明专利]半导体受光元件-CN201110153553.7无效
发明人：笹畑圭史;中路雅晴 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2011-06-09 - 公布日： 2011-12-14 - 主分类号： H01L31/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种能够降低响应失真并且抑制受光灵敏性的降低的半导体受光元件。在n型InP衬底（10）上依次层叠有n型的光吸收复合层（12）、n型的多层反射膜（14）、光吸收层（16）以及窗层（18）。
半导体元件

[发明专利]半导体受光元件-CN200710104076.9无效
发明人：米田昌博;小山雄司 -专利权人：优迪那半导体有限公司
申请日： 2007-05-22 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： H01L31/107 文献下载
摘要：本发明提供一种廉价的半导体受光元件，其能以简单的元件结构在未发生边缘击穿之前得到所需要的最低限度的M、或在与PIN－PD相同电平的低电压/恒定电压环境中进行动作。该半导体受光元件的特征在于，其具备：第1导电层(12)，其具有第1导电类型；光吸收层(14)，其设置在第1导电层上；载流子倍增层(20)，其设置在光吸收层上；窗层(40)，其设置在载流子倍增层上且具有无掺杂或所述第
半导体元件

[发明专利]光纤弯曲受光器-CN200980141607.9有效
发明人：新见慎一;川西纪行 -专利权人：株式会社藤仓
申请日： 2009-06-10 - 公布日： 2011-09-14 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：该光纤弯曲受光器具备：凹形把持部件，具有凹部；凸形把持部件，具有朝向上述凹部的凸部；受光元件，接受从在上述凹部和上述凸部之间把持的光纤泄漏的泄漏光；和辅助支撑机构，实质上与上述凹部或上述凸部独立，并辅助性地支撑上述凹部和上述凸部之间的上述光纤，以使得在上述受光元件的中心接受从上述光纤泄漏的泄漏光。
光纤弯曲受光器

[发明专利]传感器以及传感器的阈值设定方法-CN201710961963.1有效
发明人：谷末光平 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-10-17 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：提供了基于受光量与阈值的比较的物体检测精度高的传感器以及该传感器的阈值设定方法。光电传感器(1)是通过由受光部(104)接收来自投光部(103)的光而检测物体的传感器，以时间对所采样的受光量进行微分，从而计算每单位时间的受光量变化量，且将与该受光量变化量的极值对应的受光量设定为阈值这样，由于考虑每单位时间的受光量变化量来设定阈值，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高，能够最小限度地抑制从光电传感器(1)至PLC(201)的检测信号的抖动。
受光量传感器阈值设定变化量光电传感器物体检测检测信号最小限度受光部投光部采样抖动检测

[发明专利]光学特性测量装置及光学特性测量方法-CN201480045838.0有效
发明人：小野修司 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2014-08-13 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：光学特性测量装置例如BRDF测量装置(11)具备对试料(16)照射光的光照射单元例如光源部(40)及点光源(42)及接收来自试料(16)的光的受光单元。受光单元具有包含多个受光体的受光传感器例如传感器阵列(26)及将来自试料(16)的光引导至受光传感器的导光部例如拍摄透镜(25)。导光部将来自试料(16)的光根据该光在试料(16)上的位置及行进方向引导至多个受光体中的不同的受光体。
光学特性测量装置测量方法

[发明专利]光电式分离型探测器及其光轴调整方法-CN201310108866.X有效
发明人：川添智由;青山裕司 -专利权人：能美防灾株式会社
申请日： 2013-03-29 - 公布日： 2017-06-30 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明提供一种光电式分离型探测器，不必使用计量仪器进行受光输出测量，就能容易地找到受光部的受光输出成为最大输出的光轴方向。所述光电式分离型探测器包括发光元件（11），配置于光轴调整机构部；受光元件（21），接收发光元件投射的光线；控制器（12），根据受光元件的受光量的变化来监视是否产生烟；以及显示灯组（14）。在光轴调整模式中，控制器对基于光轴调整机构部的操作而变化的受光元件的受光量进行取样，并根据取样结果，监视受光量降低、维持、上升的状态，通过能区分的不同的亮灯或闪烁模式并借助显示灯组进行识别显示。
光电分离探测器及其光轴调整方法

[实用新型]折弯机用浮动式激光光幕-CN201720572788.2有效
发明人：胡进芳;孔猛 -专利权人：山东莱恩光电科技有限公司
申请日： 2017-05-22 - 公布日： 2018-01-12 - 主分类号： B21D55/00 文献下载
摘要：折弯机用浮动式激光光幕，所述发光器和受光器分别包括一个壳体，其特征在于所述发光器、受光器的壳体内分别设置有发光电路、受光电路，所述发光体包括一个大发光体和一个与大发光体下边界平齐的小发光体，所述受光器包括并列设置的上受光体、下受光体，以及一个与下受光体并排设置的单受光体；大发光体发出的光束能够同时覆盖上受光体和下受光体，小发光体发出的光束能够完全覆盖单受光体；本实用新型采用两束平行光模拟三束光，发光器和受光器能够跟随刀头同升同降，自动变换检测范围；避免了因检测范围较大导致的光幕体积较大，在有限的操作空间内有利于操作工作的进行，降低了操作难度。
折弯浮动激光

[发明专利]介质边缘检测装置-CN201780027272.2在审
发明人：吉田浩;酒井和弘 -专利权人：日本图技株式会社
申请日： 2017-05-10 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： B26D5/34 文献下载
摘要：在切割装置(1)中，具有发光单元(10)、在与发光单元(10)相对的位置接收来自发光单元(10)的光的受光传感器(14)、在发光单元(10)与受光传感器(14)之间支持有色介质(S)的台板(2)、以及检测台板(2)上的有色介质(S)的边缘的纸边缘检测机构(21)，受光传感器(14)能够自由移动，通过受光传感器(14)对来自发光单元(10)的光的受光度由于受光传感器(14)的移动而切换，从而纸边缘检测机构(21)检测受光传感器(14)的移动方向上的有色介质(S)的边缘。
受光传感器发光单元纸边缘检测装置介质边缘切割装置位置接收移动方向检测台检测光度台板移动

[发明专利]位置测量装置-CN200310101585.8有效
发明人：大友文夫;大佛一毅;林邦广 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2003-10-17 - 公布日： 2004-05-19 - 主分类号： G01S17/06 文献下载
摘要：本发明揭示一种对测量目标的受光装置进行扫描用的位置测量装置，特别是能够旋转照射测距光或追尾光以进行受光位置的三维测量、并进一步将该数据向目标上设置的受光装置进行数据传送的自动位置检测装置，光源部分发出测量光，受光部分接受反射光，扫描装置沿扫描方向射出测量光、同时将反射光引向受光部分，角度检测器检测扫描装置的旋转位置，测量光包含呈扇形展开的测距光，能够利用其反射光测量到反射体的距离。
位置测量装置

[发明专利]光学测距装置-CN201410133953.5有效
发明人：山本将史;瀬尾欣穗 -专利权人：日立麦克赛尔株式会社
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2017-05-17 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：包括发出测距光的光源；使测距光在测量对象物上扫描的反射角度可变反射镜；接收测距光的来自测量对象物的反射光的受光单元；检测由受光单元获得的受光信号的光量接收部；基于检测到的反射光检测受光单元的受光灵敏度的设定目标值或设定受光单元的受光灵敏度的放大率控制部；和根据检测到的发光信号检测测距光的飞行时间计算与测量对象物间的距离的距离计算部，放大率控制部在第一扫描期间中基于检测到的反射光的光量检测受光单元的设定目标值，在第二扫描期间中将受光单元的灵敏度设定为第一扫描期间的设定目标值
光学测距装置

[发明专利]光拾取装置-CN200910208035.3有效
发明人：村上晋三;盐本武弘;增井克荣;滨冈治 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2009-10-16 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：本发明提供一种可以小型化、可以生成稳定的推挽信号的光拾取装置。光拾取装置(10)包括：光源(12)；物镜(13)；衍射元件(17)；受光元件(16)；以及控制驱动部(14)。向衍射元件(17)入射光学记录介质(11)反射的光。向受光元件(16)入射经衍射元件(17)进行了衍射的光束，受光元件(16)中形成有多个受光区域(20)。受光区域(20)输出与入射光束的光通量对应的输出信号。控制驱动部(14)通过计算多个受光区域(20)输出的输出信号的差异，求出推挽信号，并基于推挽信号对物镜(13)进行控制驱动。
拾取装置

[发明专利]旋转角度检测装置-CN200710091648.4无效
发明人：白发升三;大西贤英;冨野泰范 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2007-04-03 - 公布日： 2007-10-10 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：一种旋转角度检测装置，具备：旋转体；发光元件、环状的受光元件和控制部。检测体与旋转体联动旋转，并设置有在与其旋转轴平行的方向透过光的透光路径。受光元件相对于检测体被设置在与发光元件相反一侧，并输出受光范围。控制部与受光元件连接，根据受光元件所输出的受光范围检测旋转体的旋转角度。
旋转角度检测装置

[发明专利]一种光学耦合装置及其制作方法-CN201310627800.1有效
发明人：陈征;习华丽;石川;梁雪瑞;马卫东 -专利权人：武汉光迅科技股份有限公司
申请日： 2013-11-29 - 公布日： 2014-02-26 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学耦合装置及其制作方法，发明装置包括出光单元（1）、受光单元（2），所述受光单元（2）上设置有耦合单元（3），所述耦合单元（3）材料采用包含高分子聚合物的透明、液态透光材料，其形状为透镜曲面形状，所述耦合单元（3）、受光单元（2）同出光单元（1）的光路对准；制作方法包括如下步骤：在受光单元的受光表面涂上一层主要成分是高分子聚合物的液态透光材料；使液态透光材料在受光表面形成透镜的曲面形状；使透光材料达到固化条件而固化成型，形成耦合单元；将出光单元与受光单元的光路对准、固定；采用本发明装置可以减小因为出射光的光学元件模场与接收光的光学元件模场不匹配造成的直接耦合损耗。
一种光学耦合装置及其制作方法

[发明专利]光传感器-CN201680013247.4在审
发明人：大仓孝允 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2016-02-12 - 公布日： 2017-12-01 - 主分类号： G01J1/02 文献下载
摘要：光传感器具备基板(22)，在一面(22a)具有输出与入射光的强度相应的检测信号的多个第一受光元件(28)；以及遮光膜(26)，配置于基板的一面侧，并且具有多个与各第一受光元件对应的第一开口部(30)，规定入射光对各第一受光元件的行进方向多个第一受光元件被设置成入射光的行进方向与基板的厚度方向不同，且具有入射光的行进方向与厚度方向所形成的入射角度彼此相同的至少1个受光元件组(32)。在厚度方向上投影观察时，构成同一受光元件组的第一受光元件与对应的第一开口部的位置关系，以厚度方向为轴而具有3次以上的旋转对称性。
传感器

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