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[发明专利]光束合成模块以及光束扫描投射系统-CN202211105257.4在审
发明人：彼得·约翰·罗伯茨;内森·科尔;瓦莱里·博斯奎特;藤井宪晃;增井克荣 -专利权人：夏普福山激光株式会社
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G02B27/10 文献下载
摘要：光束合成模块具备：准直透镜，其接收彼此平行的第一光束和第二光束，并以彼此不平行地出射；第一分光镜，其反射该准直透镜所出射的第一光束；以及第二分光镜，其反射该准直透镜所出射的第二光束，使得在与由第一分光镜反射的第一光束平行的方向上且在空间上重叠。
光束合成模块以及扫描投射系统

[发明专利]出射光调整装置及出射光调整方法-CN202110944439.X在审
发明人：伊藤晋;增井克荣;彼得·约翰·罗伯茨 -专利权人：夏普福山激光株式会社
申请日： 2021-08-17 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G02B19/00 文献下载
摘要：出射光调整装置(20)具备：在从聚光透镜(23)出射的第二出射光(Lo2)的路径的长度与第一距离(Le1)一致的位置获得第二出射光的第一像的第一光束分析器(24)；以及在第二出射光的路径的长度与第二距离(Le2)一致的位置获得第二出射光的第二像的第二光束分析器(25)。
出射光调整装置方法

[发明专利]半导体激光装置、光拾取器装置、及半导体激光装置的制造方法-CN201110282808.X有效
发明人：村上晋三;种谷元隆;石黑敬英;增井克荣;福本悟;堀口武 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2011-09-09 - 公布日： 2012-05-02 - 主分类号： G11B7/1353 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种半导体激光装置，该半导体激光装置能够使两种波长以上的不同波长的光源的射出光的光轴、强度分布、光程长相一致。衍射元件的光栅形状构成如下：使得由衍射区域进行了1级衍射的光源(2)的衍射光的衍射角、与光源(1)的透射过衍射区域的角度相同，且光源位置与光源(1)的透射光的发光点相一致，配置衍射元件，使得光源(2)的光轴发生倾斜，其光强度分布中心与透射过衍射元件的光源(1)的光强度分布相一致。利用衍射元件对经过反射后的光源(2)的返回光路的光进行衍射，并入射到光源(1)后产生电流，基于该电流值对衍射元件的位置进行调整。
半导体激光装置拾取制造方法

[发明专利]光拾取装置-CN200910208035.3有效
发明人：村上晋三;盐本武弘;增井克荣;滨冈治 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2009-10-16 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：本发明提供一种可以小型化、可以生成稳定的推挽信号的光拾取装置。光拾取装置(10)包括：光源(12)；物镜(13)；衍射元件(17)；受光元件(16)；以及控制驱动部(14)。向衍射元件(17)入射光学记录介质(11)反射的光。向受光元件(16)入射经衍射元件(17)进行了衍射的光束，受光元件(16)中形成有多个受光区域(20)。受光区域(20)输出与入射光束的光通量对应的输出信号。控制驱动部(14)通过计算多个受光区域(20)输出的输出信号的差异，求出推挽信号，并基于推挽信号对物镜(13)进行控制驱动。
拾取装置

[发明专利]对光记录媒体进行信息读取和/或写入时用的光集成单元和拾光装置-CN200710127489.9无效
发明人： 增井克荣 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2007-06-28 - 公布日： 2008-01-02 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：透镜侧衍射光栅将从光盘侧通过透镜侧衍射光栅的2束激光，往发光元件侧衍射光栅的方向衍射。发光元件侧衍射光栅使2束激光中波长长的激光实质上透射，并将其引导到感光元件的希望区。发光元件侧衍射光栅使2束激光中波长短的激光衍射，从而将该激光的+1次衍射光与另一束激光的0次衍射光(透射光)一起引导到共用的感光区。也可构成将波长长的激光的-1次衍射光与波长短的激光的0次衍射光(透射光)一起引导到共用的感光区。
对光记录媒体进行信息读取入时集成单元装置

[发明专利]分离元件、光射出体和光拾取装置-CN200480008392.0有效
发明人：土田和弘;长浜敏也;酒井启至;上山徹男;增井克荣;大塚尚孝 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2004-03-19 - 公布日： 2006-05-03 - 主分类号： G11B7/09 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种能实现稳定跟踪随动的分离体、光射出体和光拾取装置。其通过包含物镜(27)和全息图形(25)等的光学系统结构，使来自一记录层以外的其它记录层的反射光即使以被缩小的状态向全息图形(25)照射，来自其它记录层的反射光也不向第一和第二TES分离部(35)、(36)照射而仅被向轴附近部(38)引导。这样，就防止了第一和第二TES感光部(45)、(46)感光，取得正确的跟踪位置信息和偏移信息，消除物镜(27)被驱动超出可动范围等的不良情况。
分离元件射出拾取装置

[发明专利]聚焦误差检测装置和具备该聚焦误差检测装置的光拾取头装置-CN200510084456.1无效
发明人：土田和弘;福本悟;增井克荣;松原和德;酒井启至 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2005-07-08 - 公布日： 2006-02-15 - 主分类号： G11B7/09 文献下载
摘要：提供一种不会导致信号质量下降的、可以实现稳定的聚焦伺服的聚焦误差检测装置。聚焦误差检测装置(31)输出控制物镜(36)和光记录媒体(38)之间的距离用的被光记录媒体(38)反射的反射光检测结果。聚焦误差检测装置(31)中，在物镜(36)和两分割受光部分(37a和37b)之间设置全息元件(34)，全息元件(34)让光路转弯，使被光记录媒体(38)反射的反射光的一部分入射到两分割受光部分(37a和37b)，同时把入射到两分割受光部分(37a和37b)的反射光的光束分割成多个。
聚焦误差检测装置具备拾取

[发明专利]光学拾波器和全息激光器-CN200410083352.4无效
发明人： 增井克荣;土田和弘;松原和德;池原正博;酒井启至;上山彻男;长滨敏也 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2004-09-30 - 公布日： 2005-04-06 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：提供了通过在跟踪信号检测信号中消除DC偏置而从目标信息记录表面可靠地读信息。在以3束方法达到跟踪伺服的过程中，提供辅助光接收域D3_1、D3_2、D8_1、D8_2。该辅助光接收域接收由从与目标为读的信息记录表面不同的信息记录表面返回的光形成的图像。±1阶衍射光的副束进入光接收域D3、D8、D1、D10。相对于全息图(8)的衍射方向，在光接收域D3(D8)的两侧都提供辅助光接收域D3_1、D3_2(D8_1、D8_2)。因为以内部连接的方式计算信号：D8－(D8_1+D8_2)；和D3－(D3_1+D3_2)，可以在DPP方法中使用的RES信号(D1+D3、D8+D10)中消除DC偏置。
光学拾波器全息激光器

[发明专利]半导体激光装置和光学拾取装置-CN200410032422.3无效
发明人：池原正博;增井克荣;土田和弘;酒井启至 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2004-03-31 - 公布日： 2004-12-01 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体激光装置和一种光学拾取装置。在半导体激光装置中，偏振全息图将从半导体激光芯片导向光盘的输出光束作为前向光束透射，而不衍射该光束，并且衍射激光束的后向光束，该后向光束是光盘反射的前向光束的返回光束，以使得后向光束从指向半导体芯片激光部件的方向偏转，并导向第一、第二光接收部件。因此，可降低从半导体激光芯片到光盘的前向路径上的光学损耗，并且抑制光返回到半导体激光芯片，从而可实现高功率、高灵敏度的半导体激光装置。
半导体激光装置光学拾取

[发明专利]半导体激光器件-CN93119979.4无效
发明人： 增井克荣;宫内伸幸;谷善平;竹川浩;辻亮;小川胜;盐本武弘 -专利权人：夏普公司
申请日： 1993-12-24 - 公布日： 2001-05-09 - 主分类号： H01S5/02 文献下载
摘要：一种半导体激光器件，包括一个管座、一个半导体激光芯片和一层覆盖在激光芯片上的树脂层。管座可以有一个监视器光电二极管，安装在激光芯片的附近。覆盖在激光芯片上或者既覆盖在激光芯片上又覆盖在监视器光电二极管芯片上的树脂层是由单一的合成树脂制成的，其厚度不超过５００μｍ，并且其表面与激光芯片的向外发射激光束的端面基本上平行。
半导体激光器

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