[发明专利]强电介质存储器件无效

专利信息
申请号: 97190242.9 申请日: 1997-03-19
公开(公告)号: CN1183166A 公开(公告)日: 1998-05-27
发明(设计)人: 平野博茂 申请(专利权)人: 松下电子工业株式会社
主分类号: G11C11/22 分类号: G11C11/22;G11C11/407;H01L27/10
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 孙敬国
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明目的在于提供一种能进一步减小基准存储单元系统中基准电位偏差的强电介质存储器件。为实现上述目的,本发明的强电介质存储器件如图1所示,具有基准电位产生电路,其工作方式是从存储高电平数据的2个基准存储单元用强电介质电容器CD00、CD20,和从存储低电平数据的2个基准存储单元用强电介质电容器CD10和CD30分别读出电位,对这些电位取平均值,从而生成基准电位。
搜索关键词: 电介质 存储 器件
【主权项】:
1.一种强电介质存储器件,其特征在于,主体存储单元用强电介质电容器中存储非易失性数据,而且所述存储器件具有:实质上存储高电平数据的多个第一强电介质存储单元;实质上存储低电平数据的多个第二强电介质存储单元;对分别从所述第一及第二强电介质存储单元读出的电位进行平均的均值电路手段;用所述平均后的电位作为基准电位对存储在所述主体存储单元用强电介质电容器中的数据进行读出的读出手段。
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