[发明专利]一种二次离子质谱定量分析方法无效

专利信息
申请号: 91107523.2 申请日: 1991-11-06
公开(公告)号: CN1030231C 公开(公告)日: 1995-11-08
发明(设计)人: 宋玲根;张永夏;宗祥福 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22
代理公司: 复旦大学专利事务所 代理人: 王福新,姚静芳
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种固体材料中元素含量的无标样定量分析方法。以往用SIMS方法定量分析固体材料需用消耗性标样、耗资昂贵。本发明将SIMS法与ISS法有机地结合,测得待测样品的ISS深度剖析谱和SIMS谱,经计算即可得到精度较高的定量分析结果。本发明既利用了ISS方法能定量的特点又保留了SIMS方法高精度的优点,首创了SIMS无标样定量分析的方法。
搜索关键词: 一种 二次 离子 定量分析 方法
【主权项】:
1.一种二次离子质谱定量分析方法,其特征包括如下步骤:(1)用二次离子质谱仪,测量待测样品中杂质原子的低能离子背散射深度剖析谱;(2)以浓度已知的基体原子的ISS深度剖析谱为标准,通过散射截面、离子中和几率的数据处理,分别计算出基体原子和杂质原子的ISS散射截面δ(a)、δ(b);(3)根据关系:I(a)=n(a)·x·δ(a)·D·f·(N)(1)I(b)=n(b)·x·δ(b)·D·f·(N)(2)(1)、(2)式相除,即得n(a),得到待测样品基体中杂质原子体密度的定量结果,公式中I(a)、I(b)、n(a)、n(b)分别为杂质原子、基体原子的产额及体密度,X为分析深度,D为一次束束流,f为仪器探测效率,N为背散射离子的中和几率。
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  • 本发明公开了一种浸入式镧萃取现场检测系统及检测方法,腔体内设有检测管道,检测管道底部设有一凸起,凸起内设有高纯锗探测器,高纯锗探测器外壁包覆有隔热棉,底部设有一屏蔽环;检测管道内设有流量传感器、密度传感器、腔体外设有伽马能谱仪和PLC控制器,所述流量传感器、密度传感器和伽马能谱仪的输出端连接PLC控制器。检测时,PLC控制器从能谱中提取NANb;并结合实时流量、密度等计算镧的检测灵敏度S、萃取液中镧的质量DM,和最小可探测质量MDM。本发明实现了稀土元素镧萃取质量的在线控制,相比传统稀土元素镧选冶过程质量控制方法,无需单独设计进样系统,具有分布程度高、时效性好、检出限低、灵敏度高等特点。
  • 一种原位力学性能测试设备用热电偶固定装置-201710291437.9
  • 庞建超;邱宇;杨恩娜;张哲峰 - 中国科学院金属研究所
  • 2017-04-28 - 2023-10-24 - G01N23/2251
  • 本发明公开了一种原位力学性能测试设备用热电偶固定装置,属于高温原位装置技术领域。该装置包括热电偶夹持件和粗牙型螺栓;所述热电偶夹持件包括一体成形的夹头和细牙型螺栓,所述细牙型螺栓内设有贯穿型柱状空腔,热电偶能够穿入夹头和细牙型螺栓内的贯穿型柱状空腔中;所述粗牙型螺栓能够套装于热电偶夹持件外部,并通过压迫热电偶夹持件的夹头实现对热电偶的夹紧固定。使用时,带有陶瓷套管的热电偶穿入热电偶夹持件,再拧入粗牙型螺栓,调节陶瓷套管露出夹头部分的长度,拧紧热电偶夹持件,夹紧陶瓷套管,最后将装置装入原位设备,实现对样品的精确实时测温。
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