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[发明专利]一种XRD图谱自动寻峰方法-CN202310633155.8在审
发明人：蒋小平;刘玉嵘;修天宁;孙乐礼;吴昱呈 -专利权人：中国矿业大学（北京）
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线衍射图谱(XRD图谱)自动寻峰方法，涉及基于XRD图谱的物相识别领域。该方法主要包括以下步骤：S1：构建宽、窄窗对称零面积变换函数，对谱数据进行变换并形成变换结果组；S2：比较法和平顶峰处理；S3：本底扣除、强度筛查和宽度余量计算；S4：对变换处理结果进行数据融合，利用“与”融合准则排查筛选出不在峰位特征范围内的道址；S5：聚类分析，进一步划分峰位与非峰位，得出最终峰位判定结果。利用本发明提出的自动寻峰方法进行XRD图谱寻峰，无需人为设置参数，能够准确地识别出谱线峰位，解决了传统寻峰方法需要根据输入谱数据特征频繁调整参数，使用受限的问题，为物相识别带来便利。
一种 xrd 图谱自动方法

[发明专利]一种X射线衍射矿物定量分析参比强度计算方法-CN202210392475.4在审
发明人：谭杰;王丽;周克明;严玉霞;邹春艳;罗涛;彭先;郝煦;许斌;张雁;邹梦文;张琳羚 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2022-04-14 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线衍射矿物定量分析参比强度计算方法，涉及油气勘探开发技术领域，本发明通过运用X射线衍射全谱拟合法，设计矿物初始晶体结构模型，构建X射线衍射理论衍射谱图，精修矿物晶体结构参数和峰形函数参数，拟合矿物百分含量，并运用标准(SY/T5163‑2018)《沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法》矿物百分含量计算公式进行推导，反算出所需要的参比强度K值，以真正实现沉积岩、火成岩、变质岩三大岩类的X射线衍射矿物定量分析。
一种射线衍射矿物定量分析强度计算方法

[发明专利]电子束探测装置、探测组件和校准方法-CN202210409220.4在审
发明人：劳大鹏;赵一霖;陈旭;杨晨;朱金台 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-04-19 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种电子束探测装置、探测组件和校准方法，电子束探测装置包括：电子源，用于出射电子束，并沿多条扫描路径中的一条移动；探测组件，所述探测组件包括至少两个几何体，所述几何体包括至少两组平行的线性边缘，其中所述至少两组平行的线性边缘的倾斜角度不同，且同时位于所述电子束的所述多条扫描路径中的至少一条上；处理器，用于根据所述电子束扫描过所述至少两组平行的线性边缘来获取所述电子束的参数。能够得到电子束的准确参数，通过该参数校准该电子束，进而保证根据该参数得到的待测样品的组成成分和形貌特征探测更精确。
电子束探测装置组件校准方法

[发明专利]一种考虑非均质性的页岩气藏流固耦合热应力确定方法-CN202210384104.1在审
发明人：吴建发;张德良;张鉴;常程;赵圣贤;李武广;冯江荣;邸云婷 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明公开了一种考虑非均质性的页岩气藏流固耦合热应力确定方法，包括以下步骤：S1、对实施页岩气田进行现场取心；S2、将岩心研磨成粉末并进行X衍射成分分析，计算出不同矿物成分的体积模量vk；S3、通过岩石力学实验测量取心岩心的弹性模量E、泊松比μ、不同矿物的线膨胀系数αk；S4、通过不同矿物成分的体积模量vk、弹性模量E、泊松比μ、不同矿物的线膨胀系数αk计算非均质页岩的热应力。本发明建立了考虑储层非均质性的页岩储层热应力确定方法。从而进一步提出了热应力对位移场与渗流场的影响，得到了考虑非均质性的页岩储层热流固耦合平衡方程。为页岩气开发过程中热流固耦合效应的研究提供了更为精确的依据。
一种考虑非均质性页岩气藏流固耦合应力确定方法

[发明专利]一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置-CN202310969167.8有效
发明人：回广骥;高卿楠;高鹏鑫 -专利权人：自然资源实物地质资料中心
申请日： 2023-08-03 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本申请提出的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质中，包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行。本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，使得测量结果更加准确。
一种 pxrf 岩心元素测试质量控制方法装置

[实用新型]一种用于中子散射的样品测量定位系统-CN202321004243.3有效
发明人：陈洁;谭志坚;王声翔;余朝举;郑海彪;杨陆峰 -专利权人：散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于中子散射的样品测量定位系统。该用于中子散射的样品测量定位系统包括：样品台，预先定义一个用于放置样品的测试中心，所述样品包括至少一个待测位点；中子源，用于发射中子束流至所述样品，所述中子束流遇到所述样品发生衍射；中子探测器，用于接收衍射后的中子束流；相机，所述相机位于所述中子束流和所述中子探测器之间，用于获取所述待测位点与所述测试中心的相对位置关系图，所述相对位置关系图用于辅助调整所述待测位点至所述测试中心。本实用新型所提供的用于中子散射的样品测量定位系统能够提高定位精度，可使定位精度达到0.1mm。
一种用于中子散射样品测量定位系统

[发明专利]同步辐射光源XRD-PDF联用探测器台架结构-CN202310922153.0在审
发明人：彭子菱;鄢欣欣;孟凡强;秦宏亮;徐帅;徐进 -专利权人：深圳综合粒子设施研究院
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/20025 文献下载
摘要：本发明提供了一种同步辐射光源XRD‑PDF联用探测器台架结构，涉及探测器台架技术领域，通过将两个移动装置安装在支架主体上，两个移动装置可分别安装探测器，探测器运动具有X、Y、Z三个自由度，并可垂直于光路方向旋转。可独立调节两个探测器的工作距离和旋转角，实现XRD或PDF技术的单独使用，分别获得高质量的布拉格衍射数据或PDF数据。并可通过两个探测器工作距离优化，实现XRD和PDF技术联用，同时获取样品的布拉格衍射数据和PDF数据。本探测器台架结构节省空间，可大大缩减样品到探测器的距离，解决现有技术中存在的测量台面尺寸过大，空间占用较大的技术问题。
同步辐射光源 xrd pdf 联用探测器台架结构

[发明专利]一种广角弧形探测器角度标定和误差分析方法-CN202310719694.3在审
发明人：李志宏;尚晓霞;王美君 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-06-17 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明提供了一种广角弧形探测器角度标定和误差分析方法，包括：确定标准样品的至少3个衍射峰数据并根据衍射峰数据标定出第一参数、第二参数和第三参数；建立第一参数解析式，第二参数解析式和第三参数解析式，根据第一参数解析式，第二参数解析式和第三参数解析式对应求解第一参数、第二参数和第三参数；根据第一参数、第二参数和第三参数得到待测样品的任意散射信号在探测器上的点对应的角度；基于待测样品的任意散射信号在探测器上的点对应的角度，利用矩阵公式求解待测样品的任意散射信号在探测器上的点对应的角度的误差。本发明解决了现有技术中对于弧形探测器的标定介绍很少，弧形探测器测量待测样品的误差较大的问题。
一种广角弧形探测器角度标定误差分析方法

[发明专利]一种酸消解-能量色散X射线荧光光谱法测定铜及铜合金中铜含量的方法-CN202310648967.X在审
发明人：刘志英;陈嬿娉;刘奇;严静;王丽丽;章新亮;袁江山 -专利权人：鹰潭市检验检测认证院（鹰潭市综合检验检测中心、江西省铜及铜产品质量检验检测中心）
申请日： 2023-06-02 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明涉及分析检测领域，尤其涉及一种酸消解‑能量色散X射线荧光光谱法测定铜及铜合金中铜含量的方法。包括如下步骤：1)样品处理：称量烘干至恒重的纯铜或铜合金样品，加入强酸进行酸消解；2)光谱条件：以能量色散X射线荧光光谱仪为检测仪器，采用孔径为10mm的X射线光管准直器；3)样品检测：将步骤1)得到的部分溶液置于试样杯中，按步骤2)中检测条件进行样品测试。本发明采用酸消解的方法将样品制备成溶液，消除或基本消除基体效应，建立了酸消解‑能量色散X射线荧光光谱法测定铜及铜合金中铜含量的方法，具有无需固体标准物质、快速、线性范围宽等优点，适合铜及铜合金的日常检验。
一种消解能量色散射线荧光光谱测定铜合金含量方法

[发明专利]一种用于印刷电路板的X射线检测装置及其检测方法-CN202311200820.0在审
发明人：谢光红;赵红艳 -专利权人：深圳市康姆智能装备有限公司
申请日： 2023-09-18 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于印刷电路板的X射线检测装置及其检测方法，属于电路板检测技术领域，包括箱体，所述箱体的内部安装有用于对印刷电路板进行X射线检测的检测组件，所述箱体的内腔还安装有用于对检测组件的使用位置进行移动的移动组件；本发明通过联动组件的设置，在向外部拉动定位框架以安装待检测的电路板时，会通过牵引绳向上拉动遮挡铅板，在将电路板卡入定位槽的内腔并把定位框架推入箱体的内腔时，压缩弹簧收缩产生的反作用力会向下推动遮挡铅板对进料口进行遮挡，当压缩弹簧与牵引绳出现故障时，使用者可通过第二驱动组件带动遮挡铅板上下移动，以保证遮挡铅板能够正常使用，提升了本装置使用的可靠性。
一种用于印刷电路板射线检测装置及其方法

[发明专利]测量单晶晶向的方法、系统及介质-CN202210343742.9在审
发明人：施奇伟;刘晫苒;但承益;钟圣怡;陈哲;王浩伟 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2022-04-02 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明提供一种测量单晶晶向的方法、系统及介质，涉及晶体学凝聚态物理和粒子衍射技术领域，包括：步骤S1：扫描单晶样品，录得一部分衍射图案，依据布拉格衍射条件计算标准衍射图案，配准两类衍射图案以得到各个实验衍射图案对应的晶向角、图案中心坐标值；步骤S2：根据几何关系对图案中心坐标值做拟合计算，得到样品表面相对于衍射探测器的位置；步骤S3：应用拟合所得的样品表面的位置来计算单晶样品的实际晶向角。本发明能够纠正实验操作误差、精确测量单晶晶向。
测量单晶晶方法系统介质

[发明专利]一种岩石中玻璃质的测定方法、装置、设备和存储介质-CN202210322238.0在审
发明人：谭杰;曾理;王丽;罗涛;李农;孔波;张伟;缪海燕;谭雅倩 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2022-03-30 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本文提供了一种岩石中玻璃质的测定方法、装置、设备和存储介质，其中方法包括：获取岩石样品；获取岩石样品的至少部分作为分析样品，对分析样品进行X射线衍射，根据X射线衍射结果确定岩石样品中是否含有非晶质；若存在则获取岩石样品的除分析样品以外的部分制备薄片样品，对薄片样品进行光学检测，根据检测结果确定薄片样品中是否含有玻璃质；若含有则将分析样品与预先制备好的晶质内标物进行混合得到混合物样品，根据晶质内标物和混合物样品计算岩石样品中玻璃质的含量。本文提供的方法能够提高对岩石中玻璃质组成判识和含量定量的准确性，有利于深化认识岩石整体组分特征。
一种岩石玻璃测定方法装置设备存储介质

[发明专利]一种半峰宽自动化测试工装-CN202111075162.8有效
发明人：李乾;李达;折伟林;邢伟荣;刘铭;韦书领 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2021-09-14 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种半峰宽自动化测试工装，所述半峰宽自动化测试工装包括：光信号处理系统，用于基于样品生成测试信号，所述光信号处理系统中的样品台包括用于定位样品的定位结构；计算机处理系统，与光信号处理系统通信连接，用于接收测试信号，并基于测试信号，实现半峰宽自动化测试。本发明通过在样品台设置定位结构，可以利用定位结构将样品固定在样片台上、实现样品测试点的精确定位，从而可以配合计算机处理系统实现自动化测试，摆脱了现有技术中的手动操作，大幅度提升了测试效率。
一种半峰宽自动化测试工装

[发明专利]一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法-CN202010477831.3有效
发明人：邢志国;王海斗;黄艳斐;郭伟玲;李琳 -专利权人：中国人民解放军陆军装甲兵学院
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法，改变磁处理的参数之一磁场强度，对脉冲磁场放电次数相同、试样尺寸相同的20Cr2Ni4A齿轮钢试样进行微观组织观察，分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化。首先，用EBSD测试材料的晶粒组织变化，并分析晶粒组织变化原因。然后，利用EDS对试样进行测试，通过能谱分析图进行材料的元素种类和含量的分析。最后，分析不同场强下的材料晶粒组织和元素种类含量的变化原因。本方案通过分析不同磁场强度下的材料微观组织的变化，为以后较为复杂的20Cr2Ni4A齿轮钢零件进行磁场处理的性能奠定了基础。
一种脉冲磁场处理金属零件微观组织影响分析方法

[实用新型]用于碳化硅晶体硅面的定向装置-CN202320992606.2有效
发明人：李远田;包伟刚 -专利权人：江苏集芯先进材料有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于碳化硅晶体硅面的定向装置，包括支撑架、炉体、坩埚、施压组件、调角组件和加热组件；炉体安装在支撑架上，炉体限定出顶部、底部均敞开的安装腔；坩埚设于安装腔内，坩埚限定出顶部敞开的第一容纳腔，第一容纳腔的底部装有支撑板；施压组件能够上下移动地设于第一容纳腔内；调角组件设于安装腔内坩埚的下方，调角组件的顶端贯穿坩埚的底壁伸至第一容纳腔；加热组件设于炉体的侧壁内，且正对第一容纳腔的下部布置。本实用新型能够用于碳化硅晶体硅面的精确定向，定位准确性高；定位过程中无需采用夹具或机械固定，对晶体损伤较小，降低了晶体在后续滚磨、开主定位边时出现应力、开裂等情况的风险。
用于碳化硅晶体定向装置

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