专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种中子吸收涂层的大面积制备方法-CN202310065468.8有效
  • 王平;蔡伟亮;张清 - 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
  • 2023-02-06 - 2023-10-27 - B05D5/00
  • 本发明涉及涂层技术领域,尤指一种应用于中子带宽斩波器的碳化硼涂层上高结合强度中子吸收涂层的大面积制备方法;所述的方法应用中子带宽斩波器的转盘上的涂层涂抹,主要采用真空搅拌机和真空涂覆机实现人工涂层涂抹,其中所述的真空涂覆机设置有可实现真空环境的工作腔,工作腔里设置有平移升降旋转机构,用于实现涂胶时刮刀平移升降以及需涂胶转盘旋转的运动机构;使得空涂覆机的设计和控制、涂料的搅拌方式、涂料的成本等尚难形成一个标准化作业,不能同时实现涂料搅拌均匀性、涂层平整度、涂层的结合强度、涂层限制气孔存在等要求等技术问题得到解决。
  • 一种中子吸收涂层大面积制备方法
  • [发明专利]一种广角弧形探测器角度标定和误差分析方法-CN202310719694.3在审
  • 李志宏;尚晓霞;王美君 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2023-06-17 - 2023-10-24 - G01N23/207
  • 本发明提供了一种广角弧形探测器角度标定和误差分析方法,包括:确定标准样品的至少3个衍射峰数据并根据衍射峰数据标定出第一参数、第二参数和第三参数;建立第一参数解析式,第二参数解析式和第三参数解析式,根据第一参数解析式,第二参数解析式和第三参数解析式对应求解第一参数、第二参数和第三参数;根据第一参数、第二参数和第三参数得到待测样品的任意散射信号在探测器上的点对应的角度;基于待测样品的任意散射信号在探测器上的点对应的角度,利用矩阵公式求解待测样品的任意散射信号在探测器上的点对应的角度的误差。本发明解决了现有技术中对于弧形探测器的标定介绍很少,弧形探测器测量待测样品的误差较大的问题。
  • 一种广角弧形探测器角度标定误差分析方法
  • [发明专利]FXT聚焦相机整体集成装配方法-CN202210106318.2有效
  • 王娟;鲁兵;杨雄涛;吕赫;李东泰;陈勇 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2022-01-28 - 2023-10-20 - G01C11/02
  • FXT聚焦相机整体集成装配方法,属于空间天文观测技术领域,步骤一,完成FXT聚焦相机整体集成工装、FXT聚焦相机支架、探测器机箱承托架的制作。步骤二,将防污染筒安装在FXT聚焦相机支架上,将防污染筒的上端口与FXT聚焦相机支架的上端口通过法兰连接,将防污染筒的下端口与FXT聚焦相机支架的下端口通过法兰连接。步骤三,将上、下端组件通过法兰分别安装在FXT聚焦相机支架上、下端口。步骤四,将探测器机箱与下端组件连接。步骤五,将探测器机箱承托架安装在FXT聚焦相机支架的下端,将探测器机箱放置在探测器机箱承托架上。本发明解决现有FXT聚焦相机的集成装配方法稳定性和安装精度差,不能为FXT聚焦相机提供可靠支撑,导致FXT聚焦相机的观测精度差。
  • fxt聚焦相机整体集成装配方法
  • [发明专利]一种电磁粒子探测器读出电子学板批量测试方法-CN202110250426.2有效
  • 张庚;常劲帆 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2021-03-08 - 2023-10-17 - G01T1/16
  • 本发明公开了一种电磁粒子探测器读出电子学板批量测试方法,其步骤包括:1)衰减器控制模块对衰减器进行参数配置,配置输入电子学的每一帧信号时长及对应帧信号的衰减倍数;测试系统将电子学的K组配置参数发送到每一待测的电子学;不同电子学具体不同的地址、阳极台阶值与打拿极台阶值;不同组的配置参数中刻度电压不同;2)信号产生器产生的信号输入衰减器,衰减器根据参数配置产生M帧阶跃变化的信号并依次输入到每一待测试的电子学,测试每个电子学K个不同刻度电压下的测试数据;3)测试系统采集每个所述电子学K个不同刻度电压下的测试数据并对其进行处理生成图像,以测试各所述电子学的性能。本发明减少测试时间并提高了测试精度。
  • 一种电磁粒子探测器读出电子学批量测试方法
  • [实用新型]用于中子散射谱仪的旋转切换机构-CN202321189469.5有效
  • 张俊嵩;程贺;王广源;肖松文;康玲;左太森;林雄;何永成 - 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
  • 2023-05-16 - 2023-10-17 - G21K1/00
  • 本实用新型涉及散裂中子源技术领域,公开了一种用于中子散射谱仪的旋转切换机构,包括主体座、旋转筒体和驱动组件,旋转筒体可转动地设置于主体座的安装腔内,旋转筒体上开设有三个沿其轴向完全贯穿的通孔,三个通孔分别能使中子束具有不同的特征,其中一个通孔能使中子束正常通过,第二个通孔能使中子束极化,第三个通孔内设有多狭缝光阑板,以使中子束发生衍射。驱动组件用于驱动旋转筒体转动,以使其中一个通孔转动至预设位置,当该通孔转动至预设位置时,中子束能够从该通孔内通过并具有特定的特征。该旋转切换机构通过旋转动作,即可实现不同工作模式的切换,相对于现有技术中的水平移动切换,该方式减小了设备的整体体积和重量,节省成本。
  • 用于中子散射旋转切换机构

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