[发明专利]半导体结构及其制作方法在审
申请号: | 202211043526.9 | 申请日: | 2022-08-29 |
公开(公告)号: | CN115425025A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 唐怡 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开实施例涉及半导体领域,提供一种半导体结构及其制作方法,结构包括:基底及形成于基底上的多个半导体柱,半导体柱沿第一方向延伸,且沿第二方向和第三方向上排列,半导体柱包括沟道区、源极和漏极,源极和漏极位于沟道区的相对两侧;字线,至少覆盖部分半导体柱的沟道区,字线沿第二方向延伸,且沿第二方向上,多个半导体柱连接同一字线;位线,连接半导体柱的源极或者漏极中的一者,位线沿第三方向延伸,且沿第三方向上,多个半导体柱连接同一位线;电荷存储单元,连接半导体柱的源极或者漏极中的另一者,电荷存储单元沿第一方向延伸;其中,至少有两个位线所连接的半导体柱的数量不同,以降低半导体结构中的寄生电容。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的