[发明专利]半导体结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202211043526.9 申请日: 2022-08-29
公开(公告)号: CN115425025A 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 唐怡 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开实施例涉及半导体领域,提供一种半导体结构及其制作方法,结构包括:基底及形成于基底上的多个半导体柱,半导体柱沿第一方向延伸,且沿第二方向和第三方向上排列,半导体柱包括沟道区、源极和漏极,源极和漏极位于沟道区的相对两侧;字线,至少覆盖部分半导体柱的沟道区,字线沿第二方向延伸,且沿第二方向上,多个半导体柱连接同一字线;位线,连接半导体柱的源极或者漏极中的一者,位线沿第三方向延伸,且沿第三方向上,多个半导体柱连接同一位线;电荷存储单元,连接半导体柱的源极或者漏极中的另一者,电荷存储单元沿第一方向延伸;其中,至少有两个位线所连接的半导体柱的数量不同,以降低半导体结构中的寄生电容。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制作方法
【主权项】:
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