[发明专利]一种异构芯片高密度互连的扇出型封装结构及其封装方法在审
申请号: | 202210696084.1 | 申请日: | 2022-06-20 |
公开(公告)号: | CN114975329A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 柯峥;朱家昌;章国涛;高艳;李聪 | 申请(专利权)人: | 无锡中微高科电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 季玉晴;殷红梅 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路封装技术领域,具体公开了一种异构芯片高密度互连的扇出型封装结构,包括第一异构芯片、高密度互连单元、第二异构芯片、晶圆级塑封体、再布线层以及焊球,所述晶圆级塑封体的内部分别塑封有所述第一异构芯片、高密度互连单元和第二异构芯片,所述晶圆级塑封体的下表面形成所述再布线层,所述再布线层下表面的UBM处设有若干个所述焊球,所述焊球用于实现信号的引出。本发明还公开了一种异构芯片高密度互连的扇出型封装方法。本发明提供的异构芯片高密度互连的扇出型封装结构,突破传统RDL技术再布线层数限制,实现异构芯片高密度互连的晶圆级封装,安全可靠。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 高密度 互连 扇出型 封装 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
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