[发明专利]半导体器件及其制作方法、存储器、存储系统及电子设备在审

专利信息
申请号: 202111254368.7 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN113990868A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 颜丙杰 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L21/8234;H01L25/18;H01L27/11529;H01L27/11573
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 赵伟
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明实施例涉及一种半导体器件及其制作方法、存储器、存储系统及电子设备,半导体器件包括:基底,基底表面上凸出形成至少两个间隔设置的鳍片;覆盖鳍片的顶壁和侧壁的栅极层;位于栅极层背离鳍片侧壁的侧表面上的第一绝缘层;以及,位于第一绝缘层背离栅极层的侧表面上的第二绝缘层,其中,第一绝缘层的介电常数小于第二绝缘层的介电常数,从而,在半导体器件中的FinFET尺寸缩小时,能够减小相邻FinFET的栅极之间的寄生电容,进而提高FinFET的产品性能,有利于减小存储器尺寸,并提高存储器性能。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法 存储器 存储系统 电子设备
【主权项】:
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