[发明专利]半导体装置以及半导体装置的制造方法在审
申请号: | 202011136670.8 | 申请日: | 2020-10-22 |
公开(公告)号: | CN112750796A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 塚田太;羽岛行范;泽村芳行 | 申请(专利权)人: | 新光电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367;H01L23/373;H01L23/31;H01L21/56 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 韩香花;崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及半导体装置以及半导体装置的制造方法。该半导体装置包括:引线框架,其由金属构成;布线基板,其与上述引线框架相向;电子部件,其配置在上述引线框架与上述布线基板之间;连接部件,其将上述引线框架与上述布线基板连接;以及密封树脂,其填充在上述引线框架与上述布线基板之间,并包覆上述电子部件及上述连接部件,上述引线框架具有:第1面,其与上述布线基板相向,并由上述密封树脂包覆;第2面,其位于上述第1面的背面侧,并从上述密封树脂露出;以及侧面,其与上述第1面或上述第2面相邻,至少一部分从上述密封树脂露出。本发明可提高散热效率。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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