[发明专利]半导体芯片裸片及其制造方法在审
申请号: | 201911380317.1 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN113053844A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 张乃千;潘盼 | 申请(专利权)人: | 苏州能讯高能半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/48 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蒋姗 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请提供一种半导体芯片裸片及其制造方法,该半导体芯片裸片包括:基底,基底包括相对的第一侧面及第二侧面;基于第一侧面形成的源极、栅极和漏极;基于第二侧面形成的种子金属层;基于种子金属层形成的背面金属层;基于背面金属层形成的焊料层。通过在半导体芯片裸片的制造过程中在背面金属层上形成焊料层,使得焊料层的尺寸可以较好地与半导体芯片裸片的尺寸契合,并且在封装过程中,不需要再执行额外的步骤将焊料设置在背面金属层和管壳之间,从而可以降低封装工艺的难度和复杂程度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 芯片 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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