[发明专利]半导体构件和用于制造半导体构件的方法有效
| 申请号: | 201880049497.2 | 申请日: | 2018-07-03 |
| 公开(公告)号: | CN110945646B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
| 发明(设计)人: | R.布兰克;M.弗兰克;P.弗鲁豪夫;S.内雷特;R.克诺夫;B.米勒;J.斯特罗吉斯;K.威尔克 | 申请(专利权)人: | 西门子股份公司 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H05K1/14;H05K3/36;H01R12/71;H01L23/538;H01L23/049;H01R12/52 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张建锋 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种半导体构件(10),具有‑第一载体部件(12),‑第二载体部件(14),‑至少一个布置在第一和第二载体部件(12、14)之间的半导体元件(16),和‑至少一个接触面(18),所述接触面布置在半导体元件(16)、第一载体部件(12)或第二载体部件(14)上。本发明所要解决的技术问题是,改进一种用于半导体构件的电连接技术,并且为此也说明一种制造方法。所述技术问题通过如下方式解决:‑布置在直接与接触面(18)对置的载体部件(12)上的由导电材料构成的接触套筒(20),接触套筒与接触面(18)对置地定位,和‑由导电材料构成的接触销(22),所述接触销在轴向端部具有用于电接触接触面(18)的端侧(24),并且在背对轴向端部的区域中具有用于使接触销(22)与接触套筒(20)借助压配合相连接的连接区域(26)。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 构件 用于 制造 方法 | ||
【主权项】:
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