[发明专利]沉积设备及其沉积方法在审

专利信息
申请号: 201811293698.5 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109385615A 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 黄建;鲁旭斋;张锋;吴孝哲;吴龙江;林宗贤 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/44;C23C16/48;C23C16/513;C23C16/455
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 武振华;吴敏
地址: 223302 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种沉积设备及其沉积方法,所述沉积设备包括:沉积腔室;晶圆基座,位于所述沉积腔室内,用于放置晶圆;紫外光光源,位于所述沉积腔室内,且所述紫外光光源适于提供射向所述晶圆基座的紫外光;反应物输入管路,适于将反应物引入至所述沉积腔室,以在所述晶圆上反应形成沉积层。本发明方案有助于提高器件的品质,降低生产成本。
搜索关键词: 沉积设备 紫外光光源 沉积腔室 晶圆基座 沉积腔 反应物 晶圆 沉积 室内 紫外光 输入管路 沉积层 引入
【主权项】:
1.一种沉积设备,其特征在于,包括:沉积腔室;晶圆基座,位于所述沉积腔室内,用于放置晶圆;紫外光光源,位于所述沉积腔室内,且所述紫外光光源适于提供射向所述晶圆基座的紫外光;反应物输入管路,适于将反应物引入至所述沉积腔室,以在所述晶圆上反应形成沉积层。
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  • 清水亮;石井胜利;寺本章伸;诹访智之;志波良信 - 东京毅力科创株式会社;国立大学法人东北大学
  • 2018-08-30 - 2019-03-15 - C23C16/34
  • 本发明涉及成膜装置以及成膜方法,提供抑制对晶片的损伤,并以低温形成高品质的氮化硅膜的技术。当对在处理容器(1)内载置的晶片W供给Si2H6气体和NH3气体来形成SiN膜时,针对NH3气体,进行在与Si2H6气体反应前照射紫外线的远程紫外线照射,并供给至处理容器1内。因此,能够利用活化的NH3气体和Si2H6气体在较低的加热温度下在晶片W形成高品质的氮化硅膜。而且,由于设为对向处理容器1内导入前的NH3气体照射紫外线的远程紫外线处理,所以能够不对晶片W照射紫外线并抑制晶片W的损伤。
  • 一种大面积层数可控的石墨烯与六方氮化硼异质结的制备方法-201811358576.X
  • 陈珊珊;应豪;刘雯雨 - 中国人民大学
  • 2018-11-15 - 2019-03-01 - C23C16/34
  • 本发明提供一种制备层数可控的石墨烯与六方氮化硼异质结的方法,包括:在金属薄膜衬底催化下通过化学气相沉积法在金属薄膜衬底表面制备六方氮化硼,在气流上游处放置的另一金属材料的远程催化下通过化学气相沉积法在制备出的六方氮化硼表面形成石墨烯。所述金属材料为与所述金属薄膜衬底材料相比具有较高硼氮溶解度或具有较高比表面积的金属材料。本发明制备方法中在生长衬底附近放置金属材料,可原位制备出大面积层数可控的石墨烯与六方氮化硼的异质结。金属衬底表面先被一定层数的六方氮化硼覆盖后,失去化学催化活性后,其表面无法继续催化生长石墨烯。此时预先放置的金属材料,能持续提供催化,从而在六方氮化硼表面生长出石墨烯。
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