[发明专利]一种数据自动保存的芯片测试电路、测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 201811081858.X | 申请日： | 2018-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN109061445A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 金文峰 | 申请（专利权）人： | 扬州晶新微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 谈杰 |
| 地址： | 225000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于半导体芯片自动测试系统之测试、结果数据的自动保存技术领域，具体涉及一种数据自动保存的芯片测试电路、测试系统及测试方法。本专利的有益效果是：采用单片机ATmega32、光耦合器、电阻、发光二极管等少许元器件构成，以提取测试探针的信号灯逻辑信号，从光耦隔离后送入计算机，根据逻辑信号的时序，用C语言编写软件，当信号灯GREEN(绿)灯亮时，进行正常测试，当测试系统完成一片所有的管芯测试时，绿灯熄灭，RED(红)灯亮，电路装置发出中断信号，计算机自动保存整晶圆片管芯的测试数据。既消除了人工操作的失误几率，也大大提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 自动保存 测试系统 测试 芯片测试电路 逻辑信号 信号灯 灯亮 自动测试系统 半导体芯片 发光二极管 时序 测试数据 测试探针 电路装置 管芯测试 光耦隔离 光耦合器 结果数据 人工操作 生产效率 中断信号 单片机 计算机 晶圆片 电阻 管芯 元器件 熄灭 绿灯 送入 | ||
【主权项】：
1.一种数据自动保存的芯片测试电路，其特征在于：包括红存储指示灯端子Port_RED、绿存储指示灯端子Port_GREEN、测试完成端子waferend以及单片机U1，红存储指示灯端子Port_RED与绿存储指示灯端子Port_GREEN分别经过电阻R2、R4连接光耦合器U2、U3的输入端，光耦合器U2、U3的输出端分别串联电阻R1、R3后连接红发光二极管D1、绿发光二极管D2的负极，红发光二极管D1、绿发光二极管D2的正极分别接入24V电源VCC，光耦合器U2、U3分别连接单片机U1的PB2、PD3引脚，单片机U1的PD7引脚连接绿发光二极管D3的负极，绿发光二极管D3的正极串接电阻R5后接到正电源VCC，单片机U1的PD4引脚连接光耦合器U4的输入端，光耦合器U4的输入端还通过电阻R7连接正电源VCC，光耦合器U4的输出端接入红发光二极管D4的负极，红发光二极管D4的正极通过电阻R6连接正电源VCC2，光耦合器U4的输出端还连接测试完成端子waferend。
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