[发明专利]一种数据自动保存的芯片测试电路、测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种数据自动保存的芯片测试电路，其特征在于：包括红存储指示灯端子Port_RED、绿存储指示灯端子Port_GREEN、测试完成端子waferend以及单片机U1，红存储指示灯端子Port_RED与绿存储指示灯端子Port_GREEN分别经过电阻R2、R4连接光耦合器U2、U3的输入端，光耦合器U2、U3的输出端分别串联电阻R1、R3后连接红发光二极管D1、绿发光二极管D2的负极，红发光二极管D1、绿发光二极管D2的正极分别接入24V电源VCC，光耦合器U2、U3分别连接单片机U1的PB2、PD3引脚，单片机U1的PD7引脚连接绿发光二极管D3的负极，绿发光二极管D3的正极串接电阻R5后接到正电源VCC，单片机U1的PD4引脚连接光耦合器U4的输入端，光耦合器U4的输入端还通过电阻R7连接正电源VCC，光耦合器U4的输出端接入红发光二极管D4的负极，红发光二极管D4的正极通过电阻R6连接正电源VCC2，光耦合器U4的输出端还连接测试完成端子waferend。

2.根据权利要求1所述的一种数据自动保存的芯片测试电路，其特征在于：所述单片机为ATmega32单片机，所述电阻R2、R4的阻值为2kΩ，所述电阻R1、R3、R5、R6、R7的阻值为330Ω。

3.一种数据自动保存的芯片测试系统，其特征在于：包括被测芯片、探针台、自动存储装置和存储终端；

所述探针台，通过导线连接有若干测试探针，所述测试探针用于测试所述被测芯片；

所述自动存储装置，用于实时监测所述探针台的测试信号，当监测到测试停止的信号时接收所述测试探针的测试数据并发送给所述存储终端；

所述存储终端，用于接收所述自动存储装置的存储数据并进行自动保存。

4.根据权利要求1所述的一种数据自动保存的芯片测试系统，其特征在于：还包括用于将被测芯片上下、左右以及前后移动的自动驱动装置。

5.根据权利要求2所述的一种数据自动保存的芯片测试系统，其特征在于：所述探针台上安装有测试指示灯，所述测试指示灯包括用于表示测试停止的红测试指示灯以及用于表示测试正在进行的绿测试指示灯，所述探针台上还设置有自动存储按钮。

6.根据权利要求3所述的一种数据自动保存的芯片测试系统，其特征在于：所述自动存储装置上设置有存储指示灯，所述存储指示灯包括绿存储指示灯和红存储指示灯，所述绿存储指示灯用于表示被测芯片正在被测试，所述红存储指示灯用于表示被测芯片的数据正在被保存。

7.一种数据自动保存的芯片测试方法，所述测试方法在一种测试系统中实现，其中，所述测试系统包括被测芯片、探针台、自动存储装置和存储终端，所述测试方法包括以下步骤：

首先，将被测芯片放置在探针台上，探针台的测试探针放置在被测探针的对应点上，按下自动存储装置的自动存储按钮，开始工作；

其次，探针台的测试探针开始对被测芯片进行数据测试，自动存储装置实时监测探针台的工作状态，当监测到探针台的测试工作停止时接收测试探针测试被测芯片的测试数据并发送给存储终端；

最后，存储终端接收自动存储装置发送的测试数据并进行保存。

8.根据权利要求5所述的一种数据自动保存的芯片测试方法，其特征在于：所述探针台上安装有测试指示灯，所述测试指示灯包括用于表示测试停止的红测试指示灯以及用于表示测试正在进行的绿测试指示灯。

9.根据权利要求6所述的一种数据自动保存的芯片测试方法，其特征在于：所述自动存储装置上设置有存储指示灯，所述存储指示灯包括绿存储指示灯和红存储指示灯，所述绿存储指示灯用于表示被测芯片正在被测试，所述红存储指示灯用于表示被测芯片的数据正在被保存。