专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]测试-CN202021909517.X有效
  • 蔡宗明;曾翔;蔡明峻;李尧 - 东莞中探探针有限公司
  • 2020-09-03 - 2021-07-20 - G01R1/067
  • 本实用新型公开了一种测试,包括缓冲部及与缓冲部呈一体连接的测试部,测试为片状结构,测试部为片状的条形结构,测试部具有设于底部的护臂及触点,护臂与触点沿左右方向相互间隔开,护臂向下超出于触点。本实用新型的测试借助整体为片状结构,在工艺上可将测试的厚度做薄,故而在产品测试时,在接触部之间的间隙很小的情况下,探针也能到达对应的触点位置,从而适用于产品接触部之间的间隙小的场合;另外,本实用新型在使用时,护臂卡住产品的外侧,触点与产品的接触部接触,缓冲部在探针受压时使得压力得以缓冲,防止损坏探针。借助护臂,有利于在测试过程中防止各种因素的偏摆,从而提高测试的稳定性以及测试的可靠性。
  • 测试探针
  • [实用新型]测试-CN201020595702.6有效
  • 土屋利彦;堀诚一 - 港建日置股份有限公司
  • 2010-11-08 - 2011-05-25 - G01R1/067
  • 本实用新型测试装设于治具中,该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体,该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板,该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔,而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板,该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔,该第三、第四穿孔错位配置,该测试则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位,令该测试受压时能统一朝相同方向变形,避免产生空间上的冲突,而能缩小可布测试间距
  • 测试探针
  • [发明专利]测试-CN202111573574.4在审
  • 蔡宗明;黄文强;陈永辉;李尧 - 东莞中探探针有限公司
  • 2021-12-21 - 2022-02-18 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种测试,包括测试针头和连接针轴;所述测试针头由检测部和与所述检测部连接的连接轴部组成,所述连接针轴包括第一连接件,所述第一连接件的第一端设置有匹配所述连接轴部的插接孔,所述连接轴部插入所述插接孔中以使所述连接轴部和所述连接针轴导通;所述测试针头的材质为钯合金。本发明的测试,能有效降低了测试的制造成本,且有利于保持了测试针头和待测工件的接触稳定性。
  • 测试探针
  • [实用新型]测试-CN202123228916.7有效
  • 蔡宗明;黄文强;陈永辉;李尧 - 东莞中探探针有限公司
  • 2021-12-21 - 2022-06-24 - G01R1/067
  • 本实用新型公开了一种测试,包括测试针头和连接针轴;所述测试针头由检测部和与所述检测部连接的连接轴部组成,所述连接针轴包括第一连接件,所述第一连接件的第一端设置有匹配所述连接轴部的插接孔,所述连接轴部插入所述插接孔中以使所述连接轴部和所述连接针轴导通;所述测试针头的材质为钯合金。本实用新型的测试,能有效降低了测试的制造成本,且有利于保持了测试针头和待测工件的接触稳定性。
  • 测试探针
  • [外观设计]测试-CN202230627077.7有效
  • 陈艳华 - 陈艳华
  • 2022-09-22 - 2023-01-31 - 10-07
  • 1.本外观设计产品的名称:测试。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品为测试,用在HP3070型号电路板测试机台的治具上。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。
  • 测试探针
  • [发明专利]测试-CN201510238754.5在审
  • 高春瑞 - 厦门多彩光电子科技有限公司
  • 2015-05-12 - 2015-09-02 - G01R1/067
  • 本发明涉及测试的结构改进。本发明提出一种测试,包括:一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体;一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接;一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口;一导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面;一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。本发明用于对电子类产品进行测试
  • 测试探针
  • [实用新型]测试-CN201520302787.7有效
  • 高春瑞 - 厦门多彩光电子科技有限公司
  • 2015-05-12 - 2015-09-09 - G01R1/067
  • 本实用新型涉及测试的结构改进。本实用新型提出一种测试,包括:一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体;一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接;一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口;一导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面;一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。本实用新型用于对电子类产品进行测试
  • 测试探针
  • [实用新型]测试-CN201620054738.0有效
  • M·T·麦克蒂克 - 是德科技股份有限公司
  • 2016-01-20 - 2017-09-12 - G01R1/073
  • 一种测试,具有探针主体,其包括信号线路;电绝缘材料的凸头,其与探针主体集成并且从探针主体突起;引脚,其受探针主体支撑并且以导电方式连接到信号线路,弹性元件,其在所述引脚上施加偏置力;导电探针尖端,其在与探针主体远离的凸头的末梢端处受凸头支撑;以及多个分立式电阻器,其在凸头内插入在引脚与探针尖端之间。探针尖端在弹性元件所施加的偏置力下经由电阻器和引脚以导电方式连接到信号线路。
  • 测试探针
  • [实用新型]测试-CN202020309746.1有效
  • 赖琦郎 - 颖崴科技股份有限公司
  • 2020-03-13 - 2020-10-27 - G01R1/073
  • 一种测试,包含沿轴线延伸的本体,及连接于所述本体的接触单元。所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件,每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点,及至少一条通过所述尖端点的棱线。所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度,故所述尖端点至少有一侧与所述对象物接触时,相较于以较为尖锐的角度接触所述对象物而言,所述尖端点即便被磨耗,也会再形成其他类似型态的等效接触位置,因此能在确保接触稳定性之下延长测试的使用寿命
  • 测试探针
  • [实用新型]测试-CN01226639.6无效
  • 吴志成;杨昌国 - 吴志成;杨昌国
  • 2001-06-12 - 2002-05-15 - G01R1/067
  • 本实用新型公开了一种测试,包括针体和弹性元件;针体设有与待测物接触的顶端部及插接部;弹性元件上端点设置一与针体插接部插接的拖抵部,其下部设置插入针板孔内且与导线相连的下端点。用于测试具有复数个待测点的待测物。
  • 测试探针

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