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- [实用新型]测试探针-CN202021909517.X有效
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蔡宗明;曾翔;蔡明峻;李尧
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东莞中探探针有限公司
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2020-09-03
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2021-07-20
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G01R1/067
- 本实用新型公开了一种测试探针,包括缓冲部及与缓冲部呈一体连接的测试部,测试探针为片状结构,测试部为片状的条形结构,测试部具有设于底部的护臂及触点,护臂与触点沿左右方向相互间隔开,护臂向下超出于触点。本实用新型的测试探针借助整体为片状结构,在工艺上可将测试探针的厚度做薄,故而在产品测试时,在接触部之间的间隙很小的情况下,探针也能到达对应的触点位置,从而适用于产品接触部之间的间隙小的场合;另外,本实用新型在使用时,护臂卡住产品的外侧,触点与产品的接触部接触,缓冲部在探针受压时使得压力得以缓冲,防止损坏探针。借助护臂,有利于在测试过程中防止各种因素的偏摆,从而提高测试的稳定性以及测试的可靠性。
- 测试探针
- [实用新型]测试探针-CN201020595702.6有效
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土屋利彦;堀诚一
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港建日置股份有限公司
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2010-11-08
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2011-05-25
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G01R1/067
- 本实用新型测试探针装设于治具中,该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体,该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板,该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔,而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板,该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔,该第三、第四穿孔错位配置,该测试探针则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位,令该测试探针受压时能统一朝相同方向变形,避免产生空间上的冲突,而能缩小可布测试探针间距
- 测试探针
- [发明专利]测试探针-CN201510238754.5在审
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高春瑞
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厦门多彩光电子科技有限公司
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2015-05-12
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2015-09-02
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G01R1/067
- 本发明涉及测试探针的结构改进。本发明提出一种测试探针,包括:一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体;一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接;一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口;一导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面;一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。本发明用于对电子类产品进行测试。
- 测试探针
- [实用新型]测试探针-CN201520302787.7有效
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高春瑞
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厦门多彩光电子科技有限公司
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2015-05-12
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2015-09-09
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G01R1/067
- 本实用新型涉及测试探针的结构改进。本实用新型提出一种测试探针,包括:一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体;一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接;一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口;一导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面;一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。本实用新型用于对电子类产品进行测试。
- 测试探针
- [实用新型]测试探针-CN202020309746.1有效
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赖琦郎
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颖崴科技股份有限公司
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2020-03-13
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2020-10-27
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G01R1/073
- 一种测试探针,包含沿轴线延伸的本体,及连接于所述本体的接触单元。所述接触单元包括至少三个环绕所述轴线而自所述本体延伸的结构件,每一个结构件具有适用于接触对象物的尖端点,及至少一条通过所述尖端点的棱线。所述至少一条棱线与所述辅助面所夹的预设夹角小于30度,故所述尖端点至少有一侧与所述对象物接触时,相较于以较为尖锐的角度接触所述对象物而言,所述尖端点即便被磨耗,也会再形成其他类似型态的等效接触位置,因此能在确保接触稳定性之下延长测试探针的使用寿命
- 测试探针
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