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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]自动测试系统-CN201120304834.3有效
  • 王勇兵;李永初;马海龙;梁兆刚 - 台达电子企业管理（上海）有限公司;台达电子电源（东莞）有限公司
  • 2011-08-19 - 2012-05-16 - G01R31/00
  • 一种自动测试系统测试一电子产品，自动测试系统包括一输送模块、一振动测试模块、一耐压测试模块、一电源待机开机特性测试模块、一电源输入输出特性测试模块以及一条形码写入/读出测试模块。振动测试模块测试电子产品的电源特性。耐压测试模块测试电子产品的电性特性。电源待机开机特性测试模块测试电子产品的待机与开机特性。电源输入输出特性测试模块测试电子产品的输入输出特性。条形码写入/读出测试模块测试电子产品的条形码数据是否正确。电子产品经由输送模块依序经过该些测试模块进行测试。本实用新型的自动测试系统可减少人力的设置，降低生产成本，还可提高检测的效率及质量。
  • 自动测试系统
  • [实用新型]自动测试系统-CN201220038606.0有效
  • 贺祖阁;曹莉华;董雪峰 - 深圳市纽格力科技有限公司
  • 2012-02-07 - 2012-10-03 - G01R31/00
  • 本实用新型实施例公开了一种自动测试系统，包括：用于承载电子产品并设置有多个测试信号输出端口的测试治具；与测试治具的多个测试信号输出端口相连接的、对电子产品的各个硬件接口进行功能测试的测试设备。本实用新型实施例的自动测试系统通过设置具有多个测试信号输出端口的测试治具和与测试治具的相应测试信号输出端口电连接的各种测试单元，可实现快速的、自动化的产线测试，可根据待测电子产品的不同选用相应的测试信号输出端口
  • 自动测试系统
  • [发明专利]自动测试系统-CN201210445190.9无效
  • 蔡青春 - 昆山迈致治具科技有限公司
  • 2012-11-09 - 2013-02-13 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种自动测试系统，包括测试电路、底盒、笔形气缸、气缸下压模组、内置摄像头和实播模组，所述测试电路设置在底盒内，在底盒上设置有产品载台；笔形气缸的固定端与底盒固定，笔形气缸的动作端与气缸下压模组固定，内置摄像头朝向产品载台、并与气缸下压模组固定，测试电路的启动按键设置在底盒上，实播模组安装在底盒上，测试电路对笔形电路进行控制；测试时，气缸下压模组与产品载台适配形成产品压合装置，实播模组的测试端与产品的测试端接触本发明提供的自动测试系统，操作简单、快捷方便，既能达到所需的功能要求有大大提高了工作效率。
  • 自动测试系统
  • [实用新型]自动测试系统-CN201220587710.5有效
  • 蔡青春 - 昆山迈致治具科技有限公司
  • 2012-11-09 - 2013-05-01 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种自动测试系统，包括测试电路、底盒、笔形气缸、气缸下压模组、内置摄像头和实播模组，所述测试电路设置在底盒内，在底盒上设置有产品载台；笔形气缸的固定端与底盒固定，笔形气缸的动作端与气缸下压模组固定，内置摄像头朝向产品载台、并与气缸下压模组固定，测试电路的启动按键设置在底盒上，实播模组安装在底盒上，测试电路对笔形电路进行控制；测试时，气缸下压模组与产品载台适配形成产品压合装置，实播模组的测试端与产品的测试端接触本实用新型提供的自动测试系统，操作简单、快捷方便，既能达到所需的功能要求有大大提高了工作效率。
  • 自动测试系统
  • [发明专利]自动测试系统-CN03100751.1无效
  • 刘肯和;王利平;毛长根;张华良 - 台达电子工业股份有限公司
  • 2003-01-21 - 2004-08-11 - G01R31/00
  • 一种自动测试系统，其包括：取样转换装置及微处理器。取样转换装置用以撷取待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号。微处理器用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试、复数不同的过电流保护测试及复数不同的过电压保护测试。微处理器依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。
  • 自动测试系统
  • [实用新型]自动测试系统-CN201120240753.1有效
  • 黄金亮 - 深圳市电连精密技术有限公司
  • 2011-07-08 - 2012-03-14 - G01R31/00
  • 一种自动测试系统，用以测试线缆或线缆组件，所述的测试系统包括控制装置、电气参数测试仪及测试治具，所述测试治具具有测试电路板和两个测试探头，所述电气参数测试仪的两个测试端口分别与两个测试探头一对一相连，每一个测试探头具有弹性伸缩的头部，所述测试电路板上设置有多个平行排布且等间距设置的用于安装被测线缆或线缆组件的测试路径；在所述控制装置的控制下，所述两个测试探头同时通过其弹性收缩的头部依次探触所述测试电路板上的多个测试路径的两端，所述电路参数测试仪通过测试探头对安装在所述测试路径上的线缆或其组件的电气参数进行测试该自动测试系统检测效率较高、成本节约、操作方便。
  • 自动测试系统
  • [发明专利]一种基于光纤通道的通用自动测试系统-CN201010570992.3无效
  • 刘晓敏;丁凡;熊华钢 - 北京航空航天大学
  • 2010-12-02 - 2011-04-27 - H04L12/24
  • 本发明公开了一种基于光纤通道的通用自动测试系统，属于自动测试领域，本发明包括自动测试系统与自动测试系统网络。所述测试系统由自动测试设备、测试适配器、开关网络、扩展资源模块以及被测单元组成，共同实现被测单元的检测与分析。所述测试系统网络由本地自动测试系统与非本地自动测试系统联网组成，实现网络化的测试系统功能。I/O通道技术的高速存储性能作为自动测试系统的内部通信协议，网络性能作为测试系统网络的传输协议，在不改变系统构造的情况下容纳传统的自动测试系统的结构，实现了良好的兼容性。
  • 一种基于光纤通道通用自动测试系统
  • [发明专利]模块化的机电综合管理系统自动测试方法-CN201911346102.8有效
  • 刘冬;雷攀;李洋 - 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所
  • 2019-12-24 - 2023-08-04 - G06F11/26
  • 本发明公开了一种模块化的机电综合管理系统自动测试方法，用于大型飞机机电系统，包括以下步骤：测试设备与被测对象自动测试连接，其中，设置自动测试连接的指令协议格式为：起始位、检验位、版本、时间戳、类型、长度、数据；测试设备自动测试被测对象，且在自动测试过程中，测试设备与被测对象实现长连接、同步并且保持预期动作与被测动作一致；在自动测试执行过程中进行对时操作。本发明提供了一种针对机电系统的自动测试方法，其特点是自动测试链接、自动执行以及自动对时，保证了测试过程的时间同步性，试验预期与结果的自动比对机制，减轻了测试工作量，提高了测试质量。
  • 模块化机电综合管理系统自动测试方法
  • [发明专利]自动测试方法及系统-CN201911181263.6有效
  • 张哲阳;马文旭;赵全;张涛;周健 - 北京搜狐新媒体信息技术有限公司
  • 2019-11-27 - 2023-10-03 - G06F11/36
  • 本发明实施例提供自动测试方法及系统，以减少在自动测试过程中，对广告引擎的误判。上述自动测试系统包括：自动测试框架系统和测试用数据库；在进行自动化测试之前，测试用数据库为空数据库；上述方法包括：自动测试框架系统加载测试用例；测试用例包括初始化流程、测试流程及预期响应；自动测试框架系统根据测试用例中的初始化流程，向测试用数据库中灌入配置数据和广告素材，并配置BS的服务器参数；预期响应是针对配置数据、广告素材、服务器参数以及测试流程中的广告请求而设定的；自动测试框架系统根据测试用例中的测试流程，向BS发送广告请求，接收BS返回的响应，将返回的响应与预期响应进行比对，生成测试报告。
  • 自动测试方法系统
  • [发明专利]一种基于自动测试系统的同步测试装置及方法-CN202011415579.X有效
  • 王庆 - 中国船舶重工集团公司第七0九研究所
  • 2020-12-07 - 2022-10-28 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种基于自动测试系统的同步测试装置，包括驱动单元和比较单元，驱动单元设有与自动测试系统驱动信号端和被测集成电路时钟相连的信号输入端，驱动单元设有与被测集成电路信号输入端相连的信号输出端；比较单元设有与自动测试系统时钟和被测集成电路信号输出端相连的输入端，比较单元设有与自动测试系统相连的信号输出端。本发明还公开了一种基于自动测试系统的同步测试方法，步骤如下：1、驱动单元将驱动信号发送给被测集成电路；2、比较单元将响应信号发送给自动测试系统；3、自动测试系统将响应信号与其时钟比较。本发明能够解决自动测试系统与被测集成电路之间的时钟匹配和同步测试的问题，可以广泛应用于集成电路测试领域。
  • 一种基于自动测试系统同步装置方法
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