专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试系统-CN201811297918.1在审
  • 张桂山;易春阳;刘彬 - 技嘉科技股份有限公司
  • 2018-11-02 - 2020-05-12 - G06F11/22
  • 一种测试系统用以测试主机板,其包含测试治具、测试板、网络设备、及储存媒介。测试治具提供中央处理器与存储器模块以插接于主机板。储存媒介电性连接主机板,储存作业系统测试程序及控制程序,并执行以下步骤:以作业系统存取主机板的MAC地址;执行控制程序,驱动测试板发出模拟信号至主机板以执行第一测试流程,当完成后,测试程序产生第一测试结果;以及作业系统执行测试程序,对主机板进行第二测试流程,在完成后,测试程序产生第二测试结果。作业系统通过网络设备将分别将第一测试结果及第二测试结果关连MAC地址发送出。
  • 测试系统
  • [发明专利]测试系统-CN200710187123.0有效
  • 滕贞勇;许益彰;黄杰威 - 普诚科技股份有限公司
  • 2007-11-16 - 2009-05-20 - G01R31/28
  • 本发明揭露一种测试系统,用来测试多个待测试元件。该测试系统包括有一测试主机以及多个处理器。测试主机用来提供多个控制信号,并依据该多个待测试元件所产生的多个量测结果,决定该多个待测试元件的测试结果。多个处理器耦接于该测试主机,用以依据该多个控制信号,产生多个测试信号,其中该多个待测试元件依据该多个测试信号,分别产生该多个量测结果。本发明所述的测试系统,可同时测试多个IC,进而大幅提升IC测试的效率。
  • 测试系统
  • [实用新型]测试系统-CN201020148312.4有效
  • 顾汉玉 - 华润赛美科微电子(深圳)有限公司
  • 2010-03-24 - 2010-11-10 - G06F11/00
  • 一种测试系统,包括:测试装置、与测试装置连接并控制测试装置进行测试测试电脑,所述测试电脑的硬盘中划分有保护分区,所述测试系统还包括与测试电脑连接的并还原测试电脑的硬盘的保护分区的硬件还原卡;上述的测试系统通过硬件还原卡对测试机电脑的保护分区进行还原以使对保护分区中存储的软件如操作系统测试专用软件起保护作用当测试电脑出现病毒、或人为破坏,磁盘碎片等问题时,只要重新启动测试电脑,硬件还原卡将自动恢复测试电脑的保护分区为原始状态。以使测试电脑及时回复正常,进行正常测试。降低了测试电脑的无故障率,同时降低了测试过程由于测试电脑故障而引起的生产事故,同时提高了生产效率。
  • 测试系统
  • [实用新型]测试系统-CN201921618018.2有效
  • L·H·林;A·威查雅;K·Y·柳;M·H·玛迪;车雪静 - 赛灵思公司
  • 2019-09-26 - 2020-08-25 - G01R31/26
  • 描述了一种用于测试集成电路器件的晶片的测试系统。该测试系统包括:第一多个测试探针,适于与被测试系统测试的晶片的第一对应触点进行电接触;第二多个测试探针,适于在被测试系统测试的晶片的一部分的周界区域上与第二对应的触点进行电接触;以及控制电路,耦合至第一多个测试探针和第二多个测试探针;其中,控制电路基于由第二多个测试探针接收的信号确定第二多个测试探针是否与晶片具有适当的接触。还描述了测试集成电路的晶片的方法。
  • 测试系统
  • [实用新型]测试系统-CN201720060215.1有效
  • 张磊;何维 - 大陆汽车电子(连云港)有限公司
  • 2017-01-17 - 2017-08-11 - G01R31/00
  • 本实用新型提供了一种测试系统。该测试系统包括具有检测单元的测试仪器;配置有测试夹具的测试台,测试夹具包括适于和被检测电子产品电连接的测试针模组,测试针模组和检测单元电连接;测试台上配置有至少两个测试夹具,各测试夹具的测试针模组分别与检测单元电连接采用本实用新型提供的测试系统,可以提高电子产品检测环节的效率,并可以降低检测设备的成本以及所占用的空间。
  • 测试系统
  • [发明专利]测试系统-CN202010947123.1在审
  • 科比特·罗威尔;贝努瓦·德拉;亨利·格洛普;马库斯·赫布里格 - 罗德施瓦兹两合股份有限公司
  • 2020-09-10 - 2022-03-11 - H04B17/20
  • 一种测试系统,用于在空中测试被测设备。该测试系统包括用于被测设备的测试位置、面向测试位置的反射器和指向反射器的测量馈送天线,从而通过反射器在测量馈送天线和测试位置之间建立信号路径。该测试系统包括用于被测设备的定位器,其能够将被测设备旋转到被测设备的至少四个不同的测量位置。该测试系统包括第二测量天线,将被测设备放置在测试位置上时,所述第二测量天线的位置偏离所述被测设备的面向第二测量天线的一侧面的中心。还公开一种在空中测试被测设备的方法。
  • 测试系统
  • [发明专利]测试系统-CN202010844297.5在审
  • 杨吴德 - 南亚科技股份有限公司
  • 2020-08-20 - 2022-02-18 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种测试系统,用以测试待测装置,测试系统包括测试装置以及杂讯产生模块。测试装置耦接于待测装置,以形成耦接路径,并用以通过耦接路径输出测试信号至待测装置。杂讯产生模块耦接于待测装置与测试装置之间的耦接路径,并用以选择性地干扰测试信号。本发明的测试系统可在测试时率先筛选出会因为杂讯干扰而运作失效的待测装置以避免待测装置在实际应用时因为杂讯干扰失效,且还可根据待测装置在不同产品中的应用状况进行客制化的测试
  • 测试系统
  • [发明专利]测试系统-CN202110552509.7在审
  • 刘宏志;谭海峰;万蔡辛 - 无锡韦尔半导体有限公司
  • 2021-05-20 - 2021-08-27 - G01R31/26
  • 公开了一种测试系统,用于晶圆电容测试,包括上位机和探针台,探针台包括放置待测晶圆的承片台和针卡板,针卡板包括电容测试模块、控制模块和偏压模块,电容测试模块测试获得待测晶圆的测试电容,并通过控制模块将测试电容传递至上位机进行处理,偏压模块用于向电容测试模块提供测试用偏置电压,控制模块与上位机连接,用于实现针卡板与上位机的通信。本发明的测试系统通过电容测试模块直接获得待测晶圆的测试电容,测试线路短,测试线路中的寄生电容对测试精度的干扰少,获得的测试电容的精度高,测试电容通过控制模块传递至上位机进行数据处理,以实现对待测晶圆的质量评估,且整体结构简单,在保障测试精度的情况下降低了系统成本。
  • 测试系统
  • [实用新型]测试系统-CN202122241061.5有效
  • 陈剑;刘益;梁宇强;徐斌星 - 浙江海利普电子科技有限公司
  • 2021-09-15 - 2022-04-15 - G01R31/00
  • 本申请提供了一种测试系统,该测试系统包括测试小车、对接模组、对中机构以及驱动机构。在执行测试时,当测试小车被AGV运输到测试工位后,利用对中机构自动调整测试小车和/或对接模组的位置,使得测试小车上的第一接线端子与对接模组上的第二接线端子对中;利用驱动机构推动对接模组上的第二接线端子与测试小车上的第一接线端子对接,完成对待测设备的自动测试。本申请提供的测试系统能够实现待测设备在带电测试区域无人化,降低操作人员的劳动强度,提高安全性。
  • 测试系统
  • [发明专利]测试系统-CN202110888614.8在审
  • 万中魁;关红涛;康贺琦;巩方源 - 京东方科技集团股份有限公司
  • 2021-07-30 - 2021-11-05 - G01R31/28
  • 本申请实施例提供一种测试系统,用于测试电子显示牌的电路板组件,电路板组件设置有多个电压测试点;测试系统包括上位机、电压表、测试控制器和电压测试电路;电压测试电路设置有与电压测试点一一对应的多个,均包括电压控制开关和电压测试端;电压测试端在测试时与对应电压测试点连接,电压控制开关一端与电压测试端相连,另一端与电压表相连;电压表的输出端与上位机相连;测试控制器与所有电压控制开关控制连接,并响应上位机的电压测试指令控制电压控制开关的通断在本申请实施例提供的测试系统中,通过测试控制器对电压控制开关的控制,能够根据测试指令自动切换不同的电压测试点进行测试,有效够缩短测试时间,提高测试效率。
  • 测试系统
  • [发明专利]测试系统-CN202011431741.7在审
  • 翟志强;黄兴兵;李俊;黄卿;康扬;罗兴涛 - 格力电器(武汉)有限公司;珠海格力电器股份有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-03-30 - G01R31/00
  • 本发明提供的测试系统包括柜体、支撑底板和测试结构,待测试零件设置于测试结构上,所述控制机构通过对应的第二对接机构和第一对接机构为所述测试结构和所述待测试零件供电。本发明提供的测试系统,在控制机构内预存多种待测试零件的测试方法,并根据与控制机构连接的测试机构的参数判断待测试零件的种类并按照对应的测试方法进行测试,极大的提升了测试系统的通用性,同时利用控制机构为所有测试结构进行供电和供气,进而将测试结构简化为夹具和电控机构两部分,最大限度的简化测试结构的复杂度,而且利用定位孔和定位槽保证测试机构和支承底板与抽屉对接的可靠性,并利用减震机构减少待测试零件在测试过程中产生的震动噪音。
  • 测试系统

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