[发明专利]一种版图测试图形提取方法、装置、设备及介质有效

专利信息
申请号: 201810988348.4 申请日: 2018-08-28
公开(公告)号: CN109360185B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 盖天洋;韦亚一;粟雅娟;陈颖 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06T7/62;G06F30/392;G06F30/398
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种版图测试图形提取方法、装置、设备及介质,方法包括:在目标版图上搜索出多个目标区域,在每个所述目标区域处均设置采样点;根据采样点,对所述目标版图进行切片,提取出多个切片图形;将每个切片图形均划分为网格状,并根据划分的网格确定出每个切片图形的描述矩阵;采用预设的单元特征图形组扫描每个切片图形的描述矩阵,确定出每个切片图形的特征向量,并根据特征向量提取出测试图形。改善了现有技术中的版图测试图形提取方法存在的计算耗时过长的技术问题。实现了减少计算量和节约计算时间的效果。
搜索关键词: 一种 版图 测试 图形 提取 方法 装置 设备 介质
【主权项】:
1.一种版图测试图形提取方法,其特征在于,包括:在目标版图上搜索出多个满足预设布图规则的目标区域,在每个所述目标区域处均设置采样点;根据所述采样点,对所述目标版图进行切片,提取出多个切片图形,每个所述切片图形中均包括有至少一个所述采样点;将每个所述切片图形均划分为网格状,并根据划分的网格确定出每个所述切片图形的描述矩阵,所述描述矩阵能表征对应的所述切片图形的图形布局特征;采用预设的单元特征图形组扫描每个所述切片图形的所述描述矩阵,确定出每个所述切片图形的特征向量,并根据所述特征向量从所述多个切片图形中提取出测试图形,其中,所述特征向量表征对应的切片图形与所述单元特征图形组的相关性。
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