[发明专利]半导体存储器装置及其操作方法有效
| 申请号： | 201810723601.3 | 申请日： | 2018-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN109754827B | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 朴贤圭 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C5/14 | 分类号： | G11C5/14;G11C16/30 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 刘久亮 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 可以提供半导体存储器装置及其操作方法。一种半导体存储器装置可以包括：存储器单元阵列，所述存储器单元阵列包括多个存储器单元；以及负电压切换电路，所述负电压切换电路用于接收多个负电压并将所述多个负电压施加到所述存储器单元阵列的位线。所述负电压切换电路可以在编程操作中将彼此不同的所述多个负电压施加到所述位线。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器装置，所述半导体存储器装置包括：存储器单元阵列，所述存储器单元阵列包括多个存储器单元；以及负电压切换电路，所述负电压切换电路被配置为接收多个负电压并将所述多个负电压施加到所述存储器单元阵列的位线，其中，所述负电压切换电路在编程操作中将彼此不同的所述多个负电压施加到所述位线。
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