[发明专利]半导体元件及其关键尺寸的定义方法有效

专利信息
申请号: 201710239304.7 申请日: 2017-04-13
公开(公告)号: CN108735714B 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 刘冠呈;刘昱麟;林正伟;杨金成;黄守伟 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L21/027
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种半导体元件及其关键尺寸的定义方法。其中,该半导体元件包括:半导体衬底、电路单元以及一个对位标记(align mark)。电路单元位于半导体衬底上。对位标记位于半导体衬底之中,包括第一部分以及第二部分,分别邻接于电路单元的相反两侧;且第一部分和第二部分之间,具有平行第一方向的第一预设距离。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 关键 尺寸 定义 方法
【主权项】:
1.一种半导体元件,其特征在于,包括:一半导体衬底;一电路单元,位于该半导体衬底上;以及一对位标记(align mark),位于该衬底之中,包括一第一部分以及一第二部分,分别邻接于该电路单元的相反两侧;且该第一部分和该第二部分之间,具有平行一第一方向的一第一预设距离。
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