[发明专利]半导体层叠结构体和半导体元件在审

专利信息
申请号: 201380028938.8 申请日: 2013-05-27
公开(公告)号: CN104364883A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 饭冢和幸;渡边信也;舆公祥;胁本大树;山下佳弘;佐藤慎九郎 申请(专利权)人: 株式会社田村制作所;株式会社光波
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;C23C16/34;C30B25/18;C30B29/38;H01L33/16;H01L33/32
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 徐谦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供具有Ga2O3基板和Ga2O3基板上的晶体品质高的氮化物半导体层的半导体层叠结构体及包括该半导体层叠结构体的半导体元件。在一个实施方式中,提供半导体层叠结构体(1),其具有:β-Ga2O3基板(2),其包含将从(-201)面朝向[102]方向倾斜的面作为主面(2a)的β-Ga2O3晶体;以及氮化物半导体层(4),其包含在β-Ga2O3基板(2)的主面(2a)上通过晶体外延生长而形成的AlxGayInzN(0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1,x+y+z=1)晶体。
搜索关键词: 半导体 层叠 结构 元件
【主权项】:
一种半导体层叠结构体,其特征在于,具有:基板,其包含将从(‑201)面朝向[102]方向倾斜的面作为主面的β‑Ga2O3晶体;以及氮化物半导体层,其包含在上述基板的上述主面上通过晶体外延生长而形成的AlxGayInzN(0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1,x+y+z=1)晶体。
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