[实用新型]半导体叠层封装结构有效
申请号: | 201320850018.1 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN203733774U | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 张卫红;张童龙 | 申请(专利权)人: | 南通富士通微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/488 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 孟阿妮 |
地址: | 226006 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公布了一种半导体叠层封装结构,至少包括叠层设计的上封装体和封装有芯片的下封装体,所述封装有芯片的下封装体包括:基板、金属凸点、芯片、塑封体和焊球;所述金属凸点形成于所述基板上表面,用于连接上封装体和下封装体;所述芯片通过倒装方式连接在所述基板上表面,所述塑封体包覆所述芯片和金属凸点,并且露出所述芯片的顶部;所述焊球设置在所述基板下表面。本实用新型提供的半导体叠层封装结构,解除了现有封装技术中锡球互联的体积等限制,同时铜柱互联相对于锡球互联有更好的电性能,减少了传统叠层封装中封装体翘曲的问题,封装更加节省空间,具有较高的密度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体叠层封装结构,至少包括叠层设计的上封装体和封装有芯片的下封装体,其特征在于,所述封装有芯片的下封装体包括:基板、金属凸点、芯片、塑封体和焊球;所述金属凸点形成于所述基板上表面,用于连接上封装体和下封装体;所述芯片通过倒装方式连接在所述基板上表面,所述塑封体包覆所述芯片和金属凸点,并且露出所述芯片的顶部;所述焊球设置在所述基板下表面。
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