[发明专利]半导体封装件及其制造方法在审
申请号: | 201310471066.4 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN104576575A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 陈国华;陈怡桦;邱基综 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L21/768 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张振军 |
地址: | 中国台湾高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体封装件及其制造方法。半导体封装件包括基板、第一导电柱及芯片。基板具有相对的上表面与下表面及贯孔,贯孔从上表面贯穿至下表面。第一导电柱从上表面贯穿至下表面,并从贯孔的内侧面露出。芯片内埋贯孔内。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装件,包括:一基板,具有相对的一上表面与一下表面及一贯孔,该贯孔从该上表面贯穿至该下表面;一第一导电柱,从该上表面贯穿至该下表面,并从该贯孔的内侧面露出;以及一芯片,内埋该贯孔内。
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