[发明专利]一种二氧化硅图形加工的方法无效

专利信息
申请号: 201210113193.2 申请日: 2012-04-17
公开(公告)号: CN102646575A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 李佩朔;赵华波;魏子钧;任黎明;傅云义;黄如;张兴 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种二氧化硅表面图形加工的方法,属于集成电路表面加工技术领域。该方法包括:在二氧化硅衬底上形成图形化的石墨烯层,并在石墨烯层上再沉积一层二氧化硅薄膜,随后用氢氟酸溶液刻蚀掉二氧化硅薄膜,即可在二氧化硅衬底上形成形状与石墨烯相同的刻蚀图案。本发明利用石墨烯增强刻蚀特性,在室温下在二氧化硅表面形成图形,其形状取决于石墨烯的形状;图形的位置可通过预先调整石墨烯的位置来控制,图形的边缘展宽和深度可通过控制刻蚀时间和石墨烯的层数来控制。本发明技术与现有硅基工艺兼容,可实现大规模、低成本的二氧化硅表面图形的加工。
搜索关键词: 一种 二氧化硅 图形 加工 方法
【主权项】:
一种二氧化硅图形加工的方法,包括如下步骤:1)在SiO2衬底上直接生长石墨烯或将石墨烯从其它衬底上转移至SiO2衬底表面;2)按所需形状,将石墨烯薄膜图形化;3)在上述石墨烯层上沉积一层二氧化硅薄膜;4)用腐蚀溶液刻蚀掉上述二氧化硅薄膜后,石墨烯的图形转移到二氧化硅衬底上。
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