[发明专利]一种二氧化硅图形加工的方法无效
申请号: | 201210113193.2 | 申请日: | 2012-04-17 |
公开(公告)号: | CN102646575A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 李佩朔;赵华波;魏子钧;任黎明;傅云义;黄如;张兴 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 贾晓玲 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种二氧化硅表面图形加工的方法,属于集成电路表面加工技术领域。该方法包括:在二氧化硅衬底上形成图形化的石墨烯层,并在石墨烯层上再沉积一层二氧化硅薄膜,随后用氢氟酸溶液刻蚀掉二氧化硅薄膜,即可在二氧化硅衬底上形成形状与石墨烯相同的刻蚀图案。本发明利用石墨烯增强刻蚀特性,在室温下在二氧化硅表面形成图形,其形状取决于石墨烯的形状;图形的位置可通过预先调整石墨烯的位置来控制,图形的边缘展宽和深度可通过控制刻蚀时间和石墨烯的层数来控制。本发明技术与现有硅基工艺兼容,可实现大规模、低成本的二氧化硅表面图形的加工。 | ||
搜索关键词: | 一种 二氧化硅 图形 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种二氧化硅图形加工的方法,包括如下步骤:1)在SiO2衬底上直接生长石墨烯或将石墨烯从其它衬底上转移至SiO2衬底表面;2)按所需形状,将石墨烯薄膜图形化;3)在上述石墨烯层上沉积一层二氧化硅薄膜;4)用腐蚀溶液刻蚀掉上述二氧化硅薄膜后,石墨烯的图形转移到二氧化硅衬底上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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