[发明专利]具有熔丝结构的电子元件及其修复方法无效
| 申请号： | 201010124198.6 | 申请日： | 2010-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN102074546A | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 杨明昇;彭成丰;张家福 | 申请（专利权）人： | 采钰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/525 | 分类号： | H01L23/525;H01L21/768 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 姜燕;邢雪红 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有熔丝结构的电子元件及修复方法，所述电子元件包括基底；至少一导电层，形成于基底中或上，且具有熔丝区；以及至少一透镜，设置于导电层的熔丝区之上，其中透镜大抵与熔丝区对准，且透镜与熔丝区之间不设置有光学元件。本发明通过在电子元件的熔丝区与光束之间设置透镜，可使电子元件的电路修复或调整有效率地进行，并且晶片芯片尺寸及其中的电子元件的熔丝布局间距可缩小，用以产生光束的特殊设备花费也可减少。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 结构 电子元件 及其 修复 方法 | ||
【主权项】：
一种具有熔丝结构的电子元件，包括：一基底；至少一导电层，形成于该基底中或上，且具有一熔丝区；以及至少一透镜，设置于该导电层的该熔丝区之上，其中该透镜大抵与该熔丝区对准，且该透镜与该熔丝区之间不设置有光学元件。
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