[发明专利]具有熔丝结构的电子元件及其修复方法无效

专利信息
申请号: 201010124198.6 申请日: 2010-03-01
公开(公告)号: CN102074546A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 杨明昇;彭成丰;张家福 申请(专利权)人: 采钰科技股份有限公司
主分类号: H01L23/525 分类号: H01L23/525;H01L21/768
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 姜燕;邢雪红
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 具有 结构 电子元件 及其 修复 方法
【权利要求书】:

1.一种具有熔丝结构的电子元件,包括:

一基底;

至少一导电层,形成于该基底中或上,且具有一熔丝区;以及

至少一透镜,设置于该导电层的该熔丝区之上,其中该透镜大抵与该熔丝区对准,且该透镜与该熔丝区之间不设置有光学元件。

2.如权利要求1所述的具有熔丝结构的电子元件,还包括一开口,形成于该熔丝区之中,其中该开口将该导电层分离为彼此电性绝缘的一第一部分与一第二部分,且设置于该开口上的该透镜至少部分被损坏。

3.如权利要求1所述的具有熔丝结构的电子元件,其中该透镜与该导电层的该熔丝区直接接触。

4.一种具有熔丝结构的电子元件,包括:

一基底;

多个导电层,形成于该基底之中或上,且每一个所述导电层具有一熔丝区;以及

多个透镜,分别设置于其中一个所述导电层的所述多个熔丝区之上,其中每一个所述透镜大抵与对应的该熔丝区对准,且每一个所述透镜与对应的该熔丝区之间不设置有光学元件。

5.如权利要求4所述的具有熔丝结构的电子元件,还包括至少一开口,形成在至少一个所述熔丝区之中,其中该开口将对应的该导电层分离为彼此电性绝缘的一第一部分与一第二部分,且设置于该开口上的该透镜至少部分被损坏。

6.一种具有熔丝结构的电子元件的修复方法,包括:

提供一电子元件,包括:

一基底;

多个导电层,形成于该基底之中或上,且每一个所述导电层具有一熔丝区;以及

多个透镜,分别设置于其中一个所述导电层的所述多个熔丝区之上,其中每一个所述透镜大抵与对应的该熔丝区对准,且每一个所述透镜与对应的该熔丝区之间不设置有光学元件;以及

对其中一个所述透镜照射一光束以至少部分移除对应的该透镜下方的该导电层的对应的该熔丝区。

7.如权利要求6所述的具有熔丝结构的电子元件的修复方法,其中该光束包括一激光光束。

8.如权利要求6所述的具有熔丝结构的电子元件的修复方法,其中在对应的该熔丝区被该光束部分移除之后,对应的该导电层被分离为彼此电性绝缘的一第一部分与一第二部分,且在对应的该熔丝区被该光束部分移除之后,对应的该透镜被部分或完全移除。

9.如权利要求6所述的具有熔丝结构的电子元件的修复方法,还包括对该电子元件进行一测试工艺以决定对所述多个透镜中的哪一个照射该光束。

10.如权利要求6所述的具有熔丝结构的电子元件的修复方法,还包括将该导电层上的该透镜移除。

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