[发明专利]半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910003372.9 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101499448A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 定别当裕康 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L23/522;H01L21/60;H01L21/768
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置及该半导体装置的制造方法,其中,准备具有半导体基板(8)、外部连接用电极(14a)、以及覆盖上述外部连接用电极(14a)的电极覆盖层(7)的半导体构成体(6),并且,准备具有形成有与外部连接用电极(14a)对应的第1开口部(5)的布线(2)的底板(52)。将半导体构成体(6)固定在上述底板(52)上之后,除去底板(52),在布线(2)的第1开口部(5)所对应的电极覆盖层(7)上形成到达外部连接用电极(14a)的第2开口部(17)。之后,形成将布线(2)和外部连接用电极(14a)电连接的连接导体(22)。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体装置,其特征在于,具有:半导体构成体(6),具有半导体基板(8)、设置于上述半导体基板(8)上的外部连接用电极(14a)、以及形成有使上述外部连接用电极(14a)的至少一部分露出的第2开口部(17)的电极覆盖层(7);绝缘层(34),形成于上述半导体构成体(6)的周围;布线(2),横跨上述半导体构成体(6)下以及上述绝缘层(34)下地形成,并具有连接垫片部(2a),该连接垫片部(2a)形成有与上述外部连接用电极(14a)对应的第1开口部(5);和连接导体(22),经由上述第2开口部(17)以及上述第1开口部(5)将上述外部连接用电极(14a)以及上述布线(2)电连接。
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