[发明专利]半导体晶圆和半导体器件及其制作方法有效
申请号: | 200880000044.7 | 申请日: | 2008-06-02 |
公开(公告)号: | CN101542759A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 袁述 | 申请(专利权)人: | 香港应用科技研究院有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01S5/00;H01L29/68;H01L21/02 |
代理公司: | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国香港新界沙田香港科*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了半导体晶圆、半导体器件以及制作半导体晶圆和器件的方法。本发明实施例特别适合用于基板替换应用,例如在制作垂直结构LED情况下。本发明一个实施例包括一种制作半导体器件的方法,本方法包括提供一个基板;在基板上形成多个抛光触止块;在基板上生长一个或多个缓冲层;在一个或多个缓冲层上生长一个或多个外延层;以及在一个或多个外延层增加一个或多个金属层。另外,还可以有粘贴第二基板到一个或多个金属层、以及利用机械去削工艺去除基板的步骤。 | ||
搜索关键词: | 半导体 半导体器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体晶圆,包括:一个基板;在基板上的多个抛光触止块;在基板上生长的一个或多个缓冲层;和在一个或多个缓冲层上的一个或多个外延层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于香港应用科技研究院有限公司,未经香港应用科技研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880000044.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。