[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610131718.X 申请日: 2006-09-29
公开(公告)号: CN1941340A 公开(公告)日: 2007-04-04
发明(设计)人: 森田佑一;石部真三;野间崇;大塚久夫;高尾幸弘;金森宽 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01L23/482 分类号: H01L23/482;H01L23/522;H01L21/28;H01L21/60;H01L21/768
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及半导体装置及其制造方法,防止半导体装置的外部连接用的焊盘电极受到损伤。在半导体基板(1)上形成电子电路(30)、与电子电路(30)连接的第一焊盘电极(3)、与第一焊盘电极(3)连接的第二焊盘电极(4)。此外,形成覆盖第一焊盘电极(3)并且只在第二焊盘电极(4)上具有开口部的第一保护膜(5)。并且,形成通过贯通半导体基板(1)的通孔(8)连接在第一焊盘电极(3)的背面并从通孔(8)延伸到半导体基板(1)的背面的布线层(10)。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体装置,其特征在于,具有:半导体基板;形成在所述半导体基板上的电子电路;第一焊盘电极,其形成在所述半导体基板上并与所述电子电路连接;第二焊盘电极,其形成在所述半导体基板上并与所述第一焊盘电极连接;保护膜,其覆盖所述第一焊盘电极并且只在所述第二焊盘电极上具有开口部;以及布线层,其通过贯通所述半导体基板的通孔与所述第一焊盘电极的背面连接,并从所述通孔延伸到所述半导体基板的背面。
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