[发明专利]半导体结构及其形成方法有效
申请号: | 200610074464.2 | 申请日: | 2006-04-21 |
公开(公告)号: | CN1983587A | 公开(公告)日: | 2007-06-20 |
发明(设计)人: | 蔡豪益;杨肇祥;侯上勇;蔡佳伦;郑心圃 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/525 | 分类号: | H01L23/525;H01L21/768 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种具有热传导路径的半导体结构及其形成方法。此半导体结构包括在半导体基板上形成保护环,且基本上围住激光熔丝结构。此激光熔丝结构包括激光熔丝及接点结构,可连接此激光熔丝至集成电路。通过上述的接点结构可将保护环热耦接至半导体基板。半导体结构还包括金属板,可将激光束产生的热能传导至保护环。利用本发明,可有效地改变激光程序的热传导路径,及减少传导至下方低介电常数层的热,以防止各层的剥落。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:半导体基板;激光熔丝,连接该半导体基板上的连接结构;保护环,形成在该半导体基板上,且围住该激光熔丝及该连接结构;以及至少有一接点,热耦接该保护环及该半导体基板。
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