[发明专利]半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 200410085733.6 | 申请日: | 2004-09-30 |
公开(公告)号: | CN1604310A | 公开(公告)日: | 2005-04-06 |
发明(设计)人: | 盐泽雅邦 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;H01L25/04;H01L25/18;H01L21/50 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体装置,将第1半导体芯片(30)搭载在插接件(10)的第1面(12)上,使通孔(20)和第1电极(34)重叠,在第1半导体芯片(30)上叠放着第2半导体芯片(40)。第1导线(36),配置在第2面(16)侧,与第1电极(34)和第2配线图案(1 8)连接。第2导线(46),配置在第1面(12)侧,与第2电极(44)和第1配线图案(14)连接。密封部(50)包括:第1面(12)上的第1部分(52),和第2面(16)上的第2部分(54),和通过通孔(20)将第1和第2部分(52、54)连接在一起的第3部分(56)。该装置在应用导线接合法的层叠型半导体芯片中,实现不增加封装厚度,而且使密封部难以剥离。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种半导体装置,其特征在于,具有:插接件,其中在第1面上形成有第1配线图案,在第2面上形成有第2配线图案,且形成有通孔;第1半导体芯片,其具有第1电极,且被搭载在上述插接件的上述第1面上,使上述通孔和上述第1电极重叠;第2半导体芯片,其具有第2电极,且以上述第2电极的朝向与上述第1半导体芯片相反的状态被叠放在上述第1半导体芯片上;第1导线,其被配置在上述第2面侧,与上述第1电极和上述第2配线图案连接;第2导线,其配置在上述第1面侧,与上述第2电极和上述第1配线图案连接;密封部,其中包含:设置在上述插接件的上述第1面上的第1部分、设置在上述插接件的上述第2面上的第2部分、穿设于上述通孔的将上述第1和第2部分相连接的第3部分,该密封部密封上述第1和第2半导体芯片,并密封上述第1和第2导线,还密封上述第1和第2配线图案的和上述第1及第2导线的连接部。
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