[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 03157013.5 申请日: 2003-09-09
公开(公告)号: CN1512580A 公开(公告)日: 2004-07-14
发明(设计)人: 新井良之;油井隆;竹冈嘉昭;伊藤史人;矢口安武 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L25/16;H01L25/18;H01L21/50
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置,包括:具有电极凸垫(10a)的基板(10);介有第1粘接层(11)地载置在基板(10)上的第1半导体芯片(12);介有第2粘接层(13)地载置在第1半导体芯片(12)上并且上面具有电极凸垫(14a)的第2半导体芯片(14);将电极凸垫(10a)和电极凸垫(14a)连接起来的导线(15);将第1半导体芯片(12)、第2半导体芯片(14)及导线(15)封闭固定的模压树脂(16)。而且,第1粘接层(11)的周缘部,从第1半导体芯片(12)向外溢出,第2半导体芯片(14)的周缘部比第1半导体芯片(12)的周缘部更向外突出。可实现半导体装置的小型化提高可靠性。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体装置,其特征在于:包括:具有电极凸垫的基板;介有第1粘接层地装在所述基板上的第1半导体芯片;介有第2粘接层地装在所述第1半导体芯片上,上面具有电极凸垫的第2半导体芯片;连接所述基板的电极凸垫与所述第2半导体芯片的电极凸垫的导线;以及封闭固定所述第1半导体芯片、所述第2半导体芯片及所述导线的模压树脂,所述第1粘接层的周缘部从第1半导体芯片向外侧溢出;所述第2半导体芯片的周缘部比所述第1半导体芯片的周缘部更向外侧突出。
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