专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种LDMOS晶体管用硅外延片的制备方法-CN201610618667.7有效
  • 陈涛;李明达;李杨;李普生;殷海丰 - 中国电子科技集团公司第四十六研究所
  • 2016-08-01 - 2019-01-22 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种LDMOS晶体管用硅外延片的制备方法。先对外延炉基座进行腐蚀;向外延炉桶式基座片坑内装入硅单晶衬底片;对硅衬底片的表面进行HCl抛光;在硅片上生长一层本征外延层;利用HCl气体将外延表面受自掺杂严重的部分抛去;进行变温变流量吹扫过程;进行掺杂外延层的生长;掺杂外延层生长达到预定时间后开始降温;对外延片的厚度进行测量,共计五个测试点的厚度,共计五个测试点的电阻率,利用扩展电阻测试法测量外延片的过渡区结构;提高了外延片厚度和电阻率均匀性水平,不均匀性<1.5%,同时降低了晶体缺陷的发生概率,缩短了过渡区的宽度,表面无层错、位错、滑移线、雾等缺陷,满足了LDMOS器件的使用要求。
  • 一种ldmos晶体管用外延制备方法
  • [发明专利]一种砷化镓单晶片清洗的方法-CN201610615118.4有效
  • 杨艺;曹志颖 - 中国电子科技集团公司第四十六研究所
  • 2016-08-01 - 2018-10-19 - B08B3/02
  • 本发明涉及一种砷化镓单晶片清洗的方法,包括:砷化镓单晶片抛光处理后,用无水乙醇清洗,去离子水冲洗,再用极稀的碱性溶液清洗,去离子水冲洗,最后用SC1药液清洗,去离子水冲洗,经甩干、检验后封装。为使晶片表面状态较好,应注意所用溶液的配比以及所用溶液的温度。本发明通过无水乙醇和碱溶液的清洗去除晶片表面的有机物,SC1号液清洗时,双氧水可把砷化镓表面层氧化,氨水可溶解砷的氧化物以及镓的氧化物,使表面层剥离,再经去离子水快速冲洗,使表面无药液残留,从而得到洁净的表面。
  • 一种砷化镓单晶片清洗方法
  • [发明专利]一种VDMOS器件用薄Sb衬底上制备厚层外延的方法-CN201610618664.3有效
  • 陈涛;李明达;薛兵;白春磊;殷海丰 - 中国电子科技集团公司第四十六研究所
  • 2016-08-01 - 2018-10-19 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种VDMOS器件用薄Sb衬底上制备厚层外延的方法。将外延炉石墨基座下方的9组调节杆的刻度值分别进行设定;利用氯化氢HCl气体在高温下对外延炉基座进行刻蚀抛光;向外延炉基座片坑内装入硅衬底片,利用HCl气体对硅衬底片表面进行抛光;采用大流量氢气对硅衬底片表面进行吹扫;在硅片上生长一层很薄的本征外延层;进行掺杂外延层的生长;掺杂外延层生长达到预定厚度后开始降温;对外延片九个测试点的厚度进行测量,从而获得硅外延片的平均厚度及其均匀性。实现了对400μm的薄Sb衬底的外延生长的良好控制,其厚度不均匀性<0.5%,边缘无滑移线、崩边、损伤等缺陷,满足VDMOS器件对硅外延层的要求,提高了器件的加工良率。
  • 一种vdmos器件sb衬底制备外延方法

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