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[发明专利]多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法-CN201911246213.1有效
发明人：曾晨晖;孔祥雷;白春磊;张超逸;马岳轩;彭超 -专利权人：华质卓越质量技术服务（北京）有限公司;中国航空综合技术研究所
申请日： 2019-12-08 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，该方法通过建立加速因子矩阵，对矩阵进行分析运算，在综合考虑多失效模式以及多应力水平的情况下，确定最优的加速因子用以指导加速试验设计；在此基础上，通过建立加速试验载荷谱，综合利用加速因子、试验时间以及产品的可靠性指标，最终确定合理的试验时间用以验证给定的可靠性指标；相较于传统可靠性验证试验，该方法能够有效缩短试验时间，降低试验费用。
失效模式电子产品可靠性指标加速验证方法

[发明专利]基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法-CN202211526522.6在审
发明人：蒋素雯;白春磊;徐文正;孙胜;徐英东 -专利权人：中国航空综合技术研究所
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于威布尔参数的航空电子产品使用寿命预测方法，其包括以下步骤，步骤1：获取航空电子产品寿命的初始样本数据，处理并获得失效数据集；步骤2：计算航空电子产品初始样本数据的失效样本等级和累积失效概率；步骤3：利用最小二乘法拟合航空电子产品寿命的威布尔分布参数；步骤4：根据威布尔分布的参数绘制航空电子产品寿命曲线，实现航空电子产品寿命预测。本发明基于分组试验方法，使用第一次发生失效时的失效数据，大大缩短了试验时间。通过对失效样本分级处理，综合应用了已发生失效样本数据和未发生失效样本数据，使得样本的累计失效概率更准确，进一步实现了航空电子产品寿命的准确预测。
基于布尔参数航空电子产品使用寿命预测方法

[发明专利]板级电子产品可靠性加速试验装置-CN202010140685.5有效
发明人：曾晨晖;孔祥雷;张超逸;马岳轩;彭超;白春磊 -专利权人：中国航空综合技术研究所
申请日： 2020-03-03 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种板级电子产品可靠性加速试验装置，其包括机柜、电源、数据采集系统、信号调理系统、试验方案优化设计模块、试验数据处理模块和可靠性指标评估模块；该装置覆盖了从方案、实施、数据处理、指标评估等加速试验全流程各项工作内容，为产品实施加速试验提供了规范化、流程化的整体解决方案；试验装置可实时进行数据采集和数据自动存储，对被试品状态进行在线实时检测及故障自动判断，大大提高了试验效率，节省人工成本。
电子产品可靠性加速试验装置

[发明专利]伺服阀关键故障模式定量分析方法-CN202011454916.6有效
发明人：徐文正;白春磊;孙胜;孔祥雷;马岳轩;张超逸 -专利权人：中国航空综合技术研究所
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： B64F5/60 文献下载
摘要：本发明提供一种伺服阀关键故障模式定量分析方法，其包括以下步骤：S1、伺服阀故障模式梳理；S2、建立因素集；S3、建立评判集；S4、确定模糊评价矩阵R；S5、建立各故障模式的模糊评判矩阵Ri：分别针对步骤S1中的每一个故障模式，建立该故障模式的模糊评判矩阵；S6、建立因素比较矩阵：对各评价因素进行分析，建立各因素之间的比较矩阵，并计算比较矩阵的因素权重向量；S7、计算各故障模式模糊评价结果并排序。本发明的方法能够从不同的维度，对伺服阀故障模式的关键程度进行多维度评价，并基于评价结果展开计算，得到各故障模式关键程度的定量衡量值并根据数值大小进行偏序，依据排序结果可得到伺服阀的关键故障模式。
伺服关键故障模式定量分析方法

[发明专利]基于可靠性关键特性的航空机电产品设计可靠性控制方法-CN202110705966.5有效
发明人：彭文胜;李永红;白春磊 -专利权人：中国航空综合技术研究所
申请日： 2021-06-24 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明提供一种基于可靠性关键特性的航空机电产品设计可靠性控制方法，其包括以下步骤：S1、产品关键故障模式分析；S2、根据步骤S1得到的产品的关键故障模式，分析故障发生的原因和机理，并建立故障机理模型；S3、识别故障模式中的可靠性关键设计特征量：S4、对关键设计特征量进行可靠性关键工艺特性分析：S5、利用工艺故障模式及影响分析，对步骤S4制定的工艺过程进行识别，得到关键工艺及控制要求；S6、基于过程能力控制图进行制造过程的关键性工艺过程控制。本发明基于可靠性关键特性，提供了完整的可靠性设计实现和工艺控制、制造过程保证流程，能够实现可靠性的制造保证。
基于可靠性关键特性航空机电产品设计控制方法

[发明专利]一种用于PBGA封装器件的测试方法-CN201810780491.4有效
发明人：卢阳;邵将;徐文正;曾晨晖;卢风铭;安彤;张超逸;白春磊 -专利权人：中国航空综合技术研究所
申请日： 2018-07-16 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于PBGA封装器件在热振耦合环境下进行寿命测试的方法，该方法将单个测试器件的所有焊点依次串联形成一条开环的菊花链电路，对100～200个均形成开环电路的测试器件进行等分分组并固定于三综合试验台上，依据标准对测试器件进行温度循环试验和随机振动试验，同时监测电阻值以判定焊点是否失效并获得焊点的失效时间，当测试器件的失效数量满足指定失效数量时停止试验。通过改变随机振动试验的量值并重新试验以获得不同应力条件下的失效时间，根据威布尔分布拟合获取PBGA封装器件热振耦合环境下的寿命。
一种用于 pbga 封装器件测试方法

[发明专利]威布尔分布故障样本的奇异值排除方法-CN202010343471.8在审
发明人：孔祥雷;白春磊;马岳轩;曾晨晖;张超逸;彭超 -专利权人：中国航空综合技术研究所
申请日： 2020-04-27 - 公布日： 2020-08-18 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种威布尔分布故障样本的奇异值排除方法，通过对数线性变换，将威布尔分布函数变换为线性形式，进而利用残差分析图，对威布尔分布失效数据进行奇异值处理，该方法更有针对性，使得处理结果更准确，并且分析效果更为直观，很容易判断数据中的奇异值；另外该方法除剔除数据中的奇异值外，可同时对威布尔分布的分布参数进行估计，得到分布参数估计结果。
布尔分布故障样本奇异排除方法

[发明专利]一种VDMOS器件用薄Sb衬底上制备厚层外延的方法-CN201610618664.3有效
发明人：陈涛;李明达;薛兵;白春磊;殷海丰 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十六研究所
申请日： 2016-08-01 - 公布日： 2018-10-19 - 主分类号： H01L21/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种VDMOS器件用薄Sb衬底上制备厚层外延的方法。将外延炉石墨基座下方的9组调节杆的刻度值分别进行设定；利用氯化氢HCl气体在高温下对外延炉基座进行刻蚀抛光；向外延炉基座片坑内装入硅衬底片，利用HCl气体对硅衬底片表面进行抛光；采用大流量氢气对硅衬底片表面进行吹扫；在硅片上生长一层很薄的本征外延层；进行掺杂外延层的生长；掺杂外延层生长达到预定厚度后开始降温；对外延片九个测试点的厚度进行测量，从而获得硅外延片的平均厚度及其均匀性。实现了对400μm的薄Sb衬底的外延生长的良好控制，其厚度不均匀性<0.5%，边缘无滑移线、崩边、损伤等缺陷，满足VDMOS器件对硅外延层的要求，提高了器件的加工良率。
一种 vdmos 器件 sb 衬底制备外延方法

[发明专利]一种改善外延片电阻率和厚度一致性的制备方法-CN201310527944.X无效
发明人：王文林;殷海丰;白春磊;陈涛 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十六研究所
申请日： 2013-10-31 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： C30B25/16 文献下载
摘要：本发明涉及一种改善外延片电阻率和厚度一致性的制备方法。1、装入衬底片，升入腔体，依次进行氮气、氢气吹扫，最终使下列每一步均在氢气主环境下进行反应，并进行腔体升温；2、衬底气相抛光：使用HCL对衬底进行表面抛光；3、变流量吹扫：改变H2的主气体流量，逐渐稀释衬底表层杂质含量；4、本征生长：5、外延生长：确定筒式外延炉的锥形顶盘的入射角度，使反应气体在锥形顶盘的入射角度为0°﹤α﹥28°范围内进入外延炉腔体内，形成均匀气体流场分布，经外延生长后，设备炉腔降温、取片，制得硅外延片。采用本方法制备的硅外延片，其电阻率不均匀性<2%，厚度不均匀性<1.5%，从而拓展了硅外延片工艺技术。
一种改善外延电阻率厚度一致性制备方法

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