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[发明专利]基于模板匹配的LED芯片角度修正方法及芯片角度修正装置-CN202310819469.7在审
发明人：刘坚;刘晓博;张航;路恩会;索鑫宇;陈宁 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司;湖南大学
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06T3/60 文献下载
摘要：本申请公开了基于模板匹配的LED芯片角度修正方法及芯片角度修正装置。其中基于模板匹配的LED芯片角度修正方法，包括：获取待修正图像，待修正图像通过对LED芯片晶圆盘进行图像采集得到，LED芯片晶圆盘上包含多个LED芯片；利用芯片模板图像，检测待修正图像中各LED芯片的角度；基于各LED芯片的角度，确定可修正合格的LED芯片的最大集合；根据最大集合中各LED芯片的角度，确定出倾斜角度均值；按照倾斜角度均值旋转所述LED芯片晶圆盘，以实现晶圆盘中LED芯片的角度修正。
基于模板匹配 led 芯片角度修正方法装置

[发明专利]基于对抗式迁移学习的生成粗糙度预测模型的方法及系统-CN202310821438.5在审
发明人：刘坚;朱理;索鑫宇;周飞滔;路恩会 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司;湖南大学
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06V10/82 文献下载
摘要：本申请公开了基于对抗式迁移学习的生成粗糙度预测模型的方法及系统。其中基于对抗式迁移学习的生成粗糙度预测模型的方法包括：获取经第一加工方式加工的切削加工表面的第一图像及第一图像的粗糙度度量值、经第二加工方式加工的切削加工表面的第二图像；将第一图像和第二图像输入对抗式迁移学习模型进行处理，并通过计算损失函数来调整对抗式迁移学习模型的网络参数，直到训练结束；利用训练好的对抗式迁移学习模型，生成粗糙度预测模型，该粗糙度预测模型用于预测经相似加工方式加工的切削加工表面的粗糙度。
基于对抗迁移学习生成粗糙预测模型方法系统

[发明专利]基于特征迁移学习的生成粗糙度预测模型的方法及系统-CN202310821158.4在审
发明人：刘坚;朱理;索鑫宇;周飞滔;路恩会 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司;湖南大学
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06V10/82 文献下载
摘要：本申请公开了基于特征迁移学习的生成粗糙度预测模型的方法及系统。其中生成粗糙度预测模型的方法包括：采集经不同加工方式加工的、具有不同粗糙度的切削加工表面的图像，生成样本集合，其中样本集合包括：对应第一加工方式的多个第一样本图像、对应第二加工方式的多个第二样本图像、以及各第一样本图像和各第二样本图像分别对应的粗糙度度量值；将具有相同粗糙度度量值的第一样本图像和第二样本图像输入深度迁移学习模型，通过学习第一样本图像和第二样本图像的特征的相关性，来确定目标函数，以通过求解目标函数来调整深度迁移学习模型的网络参数；利用深度迁移学习模型，生成粗糙度预测模型。
基于特征迁移学习生成粗糙预测模型方法系统

[发明专利]基于知识蒸馏的LED芯片定位方法及LED芯片定位装置-CN202310825208.6在审
发明人：刘坚;刘晓博;张航;路恩会;索鑫宇;陈宁 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司;湖南大学
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06V10/22 文献下载
摘要：本申请公开了基于知识蒸馏的LED芯片定位方法及LED芯片定位装置。其中基于知识蒸馏的LED芯片定位方法包括：将待检测的LED芯片图像分割为互相有重叠区域的多个图像区域，并对各图像区域进行放大，对应得到切片图像；将待检测的LED芯片图像与各切片图像分别输入第一目标检测模型进行处理，对应得到各图像中的LED芯片检测结果，所述检测结果包括芯片检测区域及其对应的芯片类型，其中第一目标检测模型通过以第二目标检测模型的检测结果为监督训练得到；以及对各图像中的LED芯片检测区域进行合并，以确定出待检测的LED芯片图像的LED芯片区域及芯片类型。根据本申请，能够在保证检测精度的情况下，提高LED芯片检测和定位的效率，并降低部署时的硬件性能需求。
基于知识蒸馏 led 芯片定位方法装置

[发明专利]基于深度学习的LED芯片定位方法及LED芯片定位装置-CN202310820793.0在审
发明人：刘坚;刘晓博;张航;路恩会;索鑫宇;陈宁 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司;湖南大学
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06V10/22 文献下载
摘要：本申请公开了基于深度学习的LED芯片定位方法及LED芯片定位装置。其中基于深度学习的LED芯片定位方法包括：将待检测图像分割为互相有重叠区域的多个图像区域，并对各图像区域进行放大，对应得到切片图像；将待检测图像与各切片图像分别输入目标检测网络进行处理，对应得到各图像中的LED芯片检测结果，检测结果包括芯片检测区域及其对应的芯片类型；以及对各图像中的LED芯片检测区域进行合并，以确定出待检测图像的LED芯片区域及芯片类型。根据本申请，很大程度上解决了密集小目标芯片特征利用不足、精确定位困难、聚集时特征区分困难的问题，使得密集小目标芯片检测精度有较大提升。
基于深度学习 led 芯片定位方法装置

[发明专利]基于轮廓恢复的椭圆检测方法、计算设备及存储介质-CN202310587259.X在审
发明人：刘坚;王华建;张杰;索鑫宇;周飞滔;金超群 -专利权人：湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
申请日： 2023-05-23 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于轮廓恢复的椭圆检测方法、计算设备及存储介质，方法包括：从工件的内孔图像上获取第一内孔轮廓点集合；确定第一内孔轮廓点集合对应的覆盖角度范围及覆盖角度值；判断覆盖角度值是否大于第二覆盖角度阈值；如果否，则对第一内孔轮廓点集进行椭圆检测，得到第一椭圆参数；根据第一椭圆参数构建圆环；利用最大熵阈值分割方法，从内孔图像上提取第二内孔轮廓；基于圆环截取第二内孔轮廓，得到待恢复轮廓区域；从待恢复轮廓区域获取多个轮廓点，并与第一内孔轮廓点集合进行合并，得到新的内孔轮廓点集合，并对其进行椭圆检测，得到新的椭圆参数，作为最终椭圆参数。本发明能实现对内孔轮廓进行恢复，提高了椭圆检测精度。
基于轮廓恢复椭圆检测方法计算设备存储介质

[发明专利]一种降水量预测方法及系统-CN202010648222.X有效
发明人：王永涛;刘坚;李蓉;索鑫宇;陈琳 -专利权人：湖南大学
申请日： 2020-07-07 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种降水量预测方法及系统。该方法包括：采集历史降水量数据；对所述历史降水量数据进行处理，得到处理后的降水量数据；采用MEEMD方法对所述处理后的降水量数据进行分解，得到多个不同频率的分解项和余项；确定降水量预测模型；所述降水量预测模型包括训练好的卷积神经网络、优化后的支持向量机以及优化后的BP神经网络；根据各所述分解项以及所述余项，通过所述降水量预测模型对降水量进行预测。本发明利用MEEMD将降水量数据分解为不同分解项，分别对不同分解项采取卷积神经网络、粒子群优化的支持向量机和人工蚁群算法优化的BP神经网络建立组合预测模型，减少数据非光滑性所引起的预测误差，提高了预测精度。
一种降水量预测方法系统

[发明专利]环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质-CN202310315422.7在审
发明人：刘坚;张杰;索鑫宇;周羽卓;吴卓骅 -专利权人：湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
申请日： 2023-03-27 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质，方法在计算设备中执行，包括：获取环状工件的待检测图像；从待检测图像中提取环状感兴趣区域并进行展开，得到待检测矩形展开图；根据灰度概率分布矩阵，确定待检测矩形展开图的像素灰度概率，以构建概率图，并确定概率图中的缺陷区域；对概率图中的缺陷区域进行灰度修复，得到修复图；根据修复图，构建自适应无缺陷模板；计算自适应无缺陷模板与待检测矩形展开图的绝对差值，得到缺陷残差图，以便根据缺陷残差图定位环状工件的缺陷位置。根据本发明的技术方案，能提高对环状工件的大尺寸缺陷的检测效果，实现高精度检测，同时优化了算法，提高了缺陷检测效率。
环状工件缺陷检测方法装置计算设备存储介质

[发明专利]工件内孔轮廓的椭圆检测方法、计算设备及存储介质-CN202310587590.1在审
发明人：刘坚;张杰;王华建;索鑫宇;周飞滔;金超群 -专利权人：无锡市锡山区半导体先进制造创新中心;湖南大学
申请日： 2023-05-23 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种工件内孔轮廓的椭圆检测方法、计算设备及存储介质，方法包括：基于预定角度步长，从工件的内孔图像上获取内孔轮廓点集合；从内孔轮廓点集合中随机获取预定数量个轮廓点；判断任意两个轮廓点之间的距离是否大于第一距离阈值；如果是，则基于预定数量个轮廓点拟合形成初始椭圆；从内孔轮廓点集合中随机获取下一个轮廓点，判断下一个轮廓点到初始椭圆的距离是否小于第二距离阈值；如果是，则确定内孔轮廓点集合中到初始椭圆的距离小于第二距离阈值的所有目标轮廓点的目标覆盖角度值；判断目标覆盖角度值是否大于第一覆盖角度阈值，如果是，则根据初始椭圆得到椭圆参数。根据本发明的技术方案，有利于提高椭圆检测效率和精度。
工件轮廓椭圆检测方法计算设备存储介质

[发明专利]一种砂轮表面形貌仿真方法、计算设备及存储介质-CN202210901639.1在审
发明人：刘坚;路恩会;袁一洁;索鑫宇 -专利权人：无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G06F30/17 文献下载
摘要：本发明涉及精密加工领域，特别涉及一种砂轮表面形貌仿真方法、计算设备及存储介质，方法包括：根据待仿真砂轮的表面参数和砂轮表面的自相关函数确定砂轮表面的各点高度；根据砂轮表面的自相关函数确定砂轮表面的系统传递函数；根据砂轮表面的系统传递函数和各点高度确定砂轮表面的目标滤波函数；根据目标滤波函数对砂轮的表面形貌进行仿真。本发明能够根据砂轮的表面参数以及自相关函数模拟砂轮表面的各点高度，再通过各点高度及系统传递参数对砂轮表面进行模拟，得到砂轮表面的目标滤波函数，从而实现对砂轮表面进行仿真。
一种砂轮表面形貌仿真方法计算设备存储介质

[发明专利]一种砂轮磨损状态识别方法、计算设备及存储介质-CN202210901629.8在审
发明人：刘坚;路恩会;袁一洁;索鑫宇 -专利权人：无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及精密加工领域，特别涉及一种砂轮磨损状态识别方法、计算设备及存储介质，方法包括：获取砂轮的第一表面图像，并对表面图像进行预处理得到第二表面图像；根据第二表面图像确定砂轮的特征参数；将砂轮的特征参数输入预先构建的分类模型，并根据分类模型的输出确定砂轮的磨损状态。本发明能够通过对砂轮的表面图像进行识别，根据分类模型确定砂轮的磨损状态，提高砂轮的磨损状态的识别效率和准确率。
一种砂轮磨损状态识别方法计算设备存储介质

[发明专利]一种从碳化硅晶锭中剥离晶片的方法和装置-CN202211262662.7在审
发明人：尹韶辉;邱蕾;钱泽梁;刘坚;路恩会;索鑫宇 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： H01L21/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种从碳化硅晶锭中剥离晶片的方法和装置，其中，碳化硅晶锭包括待剥离的晶片层、改质层和碳化硅基板，且改质层位于晶片层和碳化硅基板之间。本发明的从碳化硅晶锭中剥离晶片的方法包括：通过超声振动向碳化硅晶锭的改质层中注入预先备好的液体，待液体充满改质层后，对充入液体的碳化硅晶锭进行冷却处理，直至液体结冰使改质层膨胀断裂，晶片层与碳化硅基板分离，接着对分离后的晶片层进行磨削，得到晶片。本发明能够降低碳化硅晶片剥离时的材料损耗，从而可以有效提高碳化硅晶锭的利用率，并且本发明还能提高加工效率、降低制造成本。
一种碳化硅晶锭中剥离晶片方法装置

[发明专利]一种线扫相机标定方法、计算设备及存储介质-CN202211166558.8在审
发明人：刘坚;索鑫宇;张杰;周飞滔;金超群;王华建;马宇昊 -专利权人：无锡市锡山区半导体先进制造创新中心;湖南大学
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明涉及相机应用领域，特别涉及一种线扫相机标定方法、计算设备及存储介质，并包括步骤：据线扫相机的位置和标定板的位置确定对焦线的成像位置；根据对焦线的成像位置和对焦线的位置确定线扫相机的成像模型；根据成像模型确定标定板中标定点的位置参数，与线扫相机的成像中成像点的位置参数的成像变换关系；获取标定点和成像点的位置参数，并根据成像变换关系确定线扫相机的标定参数。本发明通过对焦线的成像位置和对焦线的位置所确定的线扫相机的成像模型，是基于两个线段确定的二维的(2D)成像模型，能够减少标定参数的个数，提高标定效率。
一种相机标定方法计算设备存储介质

[发明专利]喷油嘴表面缺陷的检测方法、装置及计算设备-CN202211203383.3在审
发明人：刘坚;周飞滔;索鑫宇 -专利权人：江苏优普纳科技有限公司
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种喷油嘴表面缺陷的检测方法、装置及计算设备，方法包括：获取喷油嘴的表面图像的预处理图像；将预处理图像输入到目标检测网络中，得到缺陷检测结果，并将缺陷检测结果与其对应的喷油嘴的表面图像进行合并；对合并后的图像进行筛选，确定喷油嘴的表面缺陷类型。本发明的技术方案可提升喷油嘴表面缺陷检测的准确率。
油嘴表面缺陷检测方法装置计算设备

[发明专利]一种线扫相机畸变矫正方法、计算设备及存储介质-CN202211166550.1在审
发明人：刘坚;周飞滔;张杰;索鑫宇;金超群;王华建;马宇昊 -专利权人：无锡市锡山区半导体先进制造创新中心;湖南大学
申请日： 2022-09-23 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明涉及相机应用领域，特别涉及一种线扫相机畸变矫正方法、计算设备及存储介质，并包括步骤：根据线扫相机的成像中无畸变成像点与有畸变成像点的变换关系确定有畸变成像点的位置参数表达式；根据有畸变成像点的位置参数表达式得到线扫畸变模型；获取标定点的位置参数，并根据线扫相机的成像模型和标定点的位置参数计算无畸变成像点的位置参数；获取有畸变成像点的位置参数，并根据无畸变成像点的位置参数确定线扫畸变模型的畸变拟合参数；根据确定了畸变拟合参数的线扫畸变模型和线扫相机的成像模型，确定考虑畸变的成像模型，对线扫相机的成像进行畸变矫正。本发明中能够降低镜头存在畸变引发的误差，提高线扫相机的使用体验。
一种相机畸变矫正方法计算设备存储介质

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