[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202110911930.2 | 申请日: | 2021-08-10 |
公开(公告)号: | CN115050745A | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 津田博隆 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11519 | 分类号: | H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11556;G11C7/12;G11C8/08 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 夏斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
第1导电层,沿着第1方向延伸;
第2导电层,在与上述第1方向交叉的第2方向上从上述第1导电层分离地配置,沿着上述第1方向延伸;
多个半导体层,设置在上述第1导电层与上述第2导电层之间,具备在上述第1方向上排列的、与上述第1导电层对置的第1区域、与上述第2导电层对置的第2区域、与上述第1区域的上述第1方向的一端及上述第2区域的上述第1方向的一端连接的第3区域、以及与上述第1区域的上述第1方向的另一端及上述第2区域的上述第1方向的另一端连接的第4区域;
多个第1存储元件,分别设置在上述第1导电层与上述多个半导体层之间;以及
多个第2存储元件,分别设置在上述第2导电层与上述多个半导体层之间,
在上述第1方向上相邻的两个上述半导体层之间设置有空隙。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中,
在与上述第1方向以及上述第2方向交叉的第3方向上,排列设置有多个上述第1导电层以及上述第2导电层。
3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,其中,
上述第1区域沿着上述第3方向延伸,并在上述第2方向上与多个上述第1导电层对置,上述第2区域沿着上述第3方向延伸,并在上述第2方向上与多个上述第2导电层对置。
4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中,
在上述第1区域与上述第2区域之间设置有空隙。
5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中,
在上述第3区域与上述第4区域之间设置有空隙。
6.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其中,
当将上述多个半导体层中的在上述第1方向上相邻的两个半导体层设为第1半导体层以及第2半导体层时,
在上述第1半导体层所具备的上述第3区域与上述第2半导体层所具备的上述第4区域之间设置有空隙。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的半导体存储装置,具备:
多个第1电荷蓄积层,分别设置在上述第1导电层与上述多个半导体层之间;以及
多个第2电荷蓄积层,分别设置在上述第2导电层与上述多个半导体层之间,
在上述第1方向上相邻的两个上述第1电荷蓄积层在上述第1方向上分离,在上述第1方向上相邻的两个上述第2电荷蓄积层在上述第1方向上分离。
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