[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202110911930.2 申请日: 2021-08-10
公开(公告)号: CN115050745A 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 津田博隆 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L27/11519 分类号: H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11556;G11C7/12;G11C8/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 夏斌
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

第1导电层,沿着第1方向延伸;

第2导电层,在与上述第1方向交叉的第2方向上从上述第1导电层分离地配置,沿着上述第1方向延伸;

多个半导体层,设置在上述第1导电层与上述第2导电层之间,具备在上述第1方向上排列的、与上述第1导电层对置的第1区域、与上述第2导电层对置的第2区域、与上述第1区域的上述第1方向的一端及上述第2区域的上述第1方向的一端连接的第3区域、以及与上述第1区域的上述第1方向的另一端及上述第2区域的上述第1方向的另一端连接的第4区域;

多个第1存储元件,分别设置在上述第1导电层与上述多个半导体层之间;以及

多个第2存储元件,分别设置在上述第2导电层与上述多个半导体层之间,

在上述第1方向上相邻的两个上述半导体层之间设置有空隙。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中,

在与上述第1方向以及上述第2方向交叉的第3方向上,排列设置有多个上述第1导电层以及上述第2导电层。

3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,其中,

上述第1区域沿着上述第3方向延伸,并在上述第2方向上与多个上述第1导电层对置,上述第2区域沿着上述第3方向延伸,并在上述第2方向上与多个上述第2导电层对置。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中,

在上述第1区域与上述第2区域之间设置有空隙。

5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中,

在上述第3区域与上述第4区域之间设置有空隙。

6.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其中,

当将上述多个半导体层中的在上述第1方向上相邻的两个半导体层设为第1半导体层以及第2半导体层时,

在上述第1半导体层所具备的上述第3区域与上述第2半导体层所具备的上述第4区域之间设置有空隙。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的半导体存储装置,具备:

多个第1电荷蓄积层,分别设置在上述第1导电层与上述多个半导体层之间;以及

多个第2电荷蓄积层,分别设置在上述第2导电层与上述多个半导体层之间,

在上述第1方向上相邻的两个上述第1电荷蓄积层在上述第1方向上分离,在上述第1方向上相邻的两个上述第2电荷蓄积层在上述第1方向上分离。

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