[发明专利]IC封装件及其形成方法以及在IC封装件中分配电源的方法在审

专利信息
申请号: 202110473484.1 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113594150A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 彭士玮;邱德馨;曾健庭 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L21/50
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: ic 封装 及其 形成 方法 以及 分配 电源
【权利要求书】:

1.一种集成电路封装件,所述集成电路封装件包括:

第一管芯,包括正面和背面,所述正面包括第一信号路由结构,所述背面包括第一配电结构;

第二管芯,包括正面和背面,所述正面包括第二信号路由结构,所述背面包括第二配电结构;以及

第三配电结构,位于所述第一配电结构和所述第二配电结构之间,并且电连接至所述第一配电结构和所述第二配电结构中的每一个。

2.根据权利要求1所述的集成电路封装件,还包括:

第三管芯,包括正面和背面,所述正面包括电连接至所述第一信号路由结构的第三信号路由结构,所述背面包括第四配电结构;

第四管芯,包括正面和背面,所述正面包括第四信号路由结构,所述背面包括第五配电结构;以及

第六配电结构,位于所述第四配电结构和所述第五配电结构之间,并且电连接至所述第四配电结构和所述第五配电结构中的每一个。

3.根据权利要求1所述的集成电路封装件,还包括:第三管芯,包括正面和背面,所述正面包括第三信号路由结构,所述背面包括电连接至所述第三配电结构的第四配电结构。

4.根据权利要求3所述的集成电路封装件,还包括:第一衬底,电连接至所述第一信号路由结构和所述第三信号路由结构中的每一个。

5.根据权利要求4所述的集成电路封装件,还包括:第二衬底,电连接至所述第二信号路由结构。

6.根据权利要求5所述的集成电路封装件,还包括:多个通孔结构,电连接至所述第一衬底和所述第二衬底中的每一个,其中,所述多个通孔结构延伸穿过所述第三配电结构,并且与所述第三配电结构电隔离。

7.根据权利要求5所述的集成电路封装件,还包括:第四管芯,电连接至所述第二衬底,其中,所述第二衬底位于所述第二管芯和所述第四管芯之间。

8.根据权利要求5所述的集成电路封装件,还包括:通孔结构,电连接至所述第三配电结构和所述第二衬底。

9.一种形成集成电路封装件的方法,所述方法包括:

将第一配电结构构造在包括在所述集成电路封装件中的第一管芯上,从而将所述第一配电结构电连接至位于所述第一管芯的背面上的第二配电结构;以及

将第三配电结构接合至所述第一配电结构,所述第三配电结构位于第二管芯的背面上。

10.一种在集成电路封装件中分配电源的方法,所述方法包括:

在所述IC封装件中的第一配电结构处接收电源电压;

在第二配电结构处从所述第一配电结构接收所述电源电压,所述第二配电结构位于所述集成电路封装件中的第一管芯的背面上;以及

在第三配电结构处从所述第一配电结构接收所述电源电压,所述第三配电结构位于所述集成电路封装件中的第二管芯的背面上。

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